一种用于检测制造技术

一种用于检测

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测X射线辐射防护安全性的方法


[0001]本专利技术涉及
X
射线辐射防护
，尤其对
X
射线辐射防护的检测的方法
。

技术介绍

[0002]X
射线具有贯穿能力，差别吸收
、
感光作用
、
荧光作用等物理特性，被广泛应用于医学检测
、
车辆安全检测
、
箱包行李安全检测
、
无损检测等领域
。
当
X
射线穿过物质时，它会与物质中的原子相互作用，其中一部分能量会被吸收，而另一部分能量则会以散射辐射的形式散射出去
。
这些散射辐射不仅会增加环境辐射剂量，也可能会影响到周围的人员受到各种不同类型和不同程度的辐射损伤
。
因此，人们在运用
X
射线的同时，尽量避免人类受到
X
射线的有害效应，对
X
射线进行有效的防护
。X
射线散射线，指的是
X
射线机的有用线束受其照射场中各种物体反散射而形成的次级射线
。X
射线源发出的
X
射线垂直照射至散射体时散射区域为圆形或矩形，而一般为锥形束或扇形束
。
由于散射评估相对复杂，通常采用简化办法以近似估计散射线的剂量率及其所需屏蔽厚度
。
目前在屏蔽估算中，对于散射部分的估算方法不统一，且估算结果的误差也较大
。
车辆检查系统环境影响评价报告中对散射
X
射线处理采用
《
辐射防护导论
》
中提到的方法进行处理，但该方法存在一定不足之处，难以评估辐射场内散射剂量分布
、
不考虑实际散射区域
、
将散射点视为定值
、
未考虑实际
X
射线屏蔽厚度等等，因此
X
射线散射剂量率估算结果误差比较大
。
基于以上不足，本专利技术提出一种新型
X
射线散射剂量率计算方法，基于积分思想，把实际的散射区域划分为若干个微分单元，同时考虑真实的
X
射线屏蔽厚度，为散射射线防护设计提供了理论依据，消除因散射点视为定值
、
未考虑实际
X
射线屏蔽厚度而带来的计算误差，大大地提高了散射剂量率的计算精度
。
同时，该方法解决了空间辐射场内任何感兴趣区域内散射剂量率的分布结果，极大缩短了防护设计的时间，提高了设计效率
。
并且该方法适用于各种散射形状，多个
X
射线源同时照射的情况
。

技术实现思路

[0003]为了解决所述技术问题，本申请人提出如下解决方案：一种用于检测
X
射线辐射防护安全性的方法，包括如下步骤：步骤1，在待检测装置张红建立空间直角坐标系；步骤2，将散射区域划分成若干个单元，确定描述该单元的出束点坐标
、
散射点坐标
、
关注点坐标以及
X
射线实际屏蔽厚度；步骤3，对多个所述单元按如下公示进行计算：其中：
D0：源项剂量率，
μ
Gy/h
；
D
：关注点剂量率，
μ
Gy/h
；
α
：散射因子，无量纲；
F
i
：第
i
个散射体对应的散射面积，
m2；
R
i
：辐射源点
(
靶点
)
至第
i
个散射体的距离，
m
；
R
si
：第
i
个散射体至关注点的距离，
m
；
d
θ
：考虑入射角度的屏蔽厚度，
mm
；
TVL
：
X
射线在屏蔽体材料中的十分之一值层，
mm。
优选地，确定
X
射线实际屏蔽厚度包括如下步骤：
a)
根据屏蔽体所在平面方程
A
×
X+B
×
Y+C
×
Z+D
＝0及散射直线方程计算
X
射线实际屏蔽厚度其中优选地，步骤2包括步骤2‑1：将散射区域划分
m
份，即存在
m
个散射点
(
编号依次为
1、2、3
…
m)
射线源出束点坐标：
[x
0 y
0 z0]散射点坐标矩阵：根据射线源出束点和散射点计算散射距离矩阵：
[R
1 R2ꢀ…ꢀ
R
m
]。
最好，步骤2还包括步骤2‑2：由
n
个关注探测点
(
编号依次为
1、2、3
…
n)
构成空间辐射场感兴趣区域
。
关注探测点坐标矩阵：根据散射点坐标矩阵和关注探测点坐标矩阵可得关注距离矩阵：最好，所述
X
射线辐射防护包括折叠式车辆安全检查系统
。
优选地，所述空间直角坐标系以折叠式车辆安全检查系统中心为原点，行车方向为
Y
轴，垂直行车方向为
X
轴，高度方向上为
Z
轴
。
最好，所述屏蔽体为包覆钢板的铅块
。
附图说明
[0004]图1为示出本专利技术的方法的流程图；图2本专利技术的检测防护装置安全性的原理简视图；图3为本专利技术的方法的检测效果图；图4为本专利技术的方法的检测三维效果图
。
其中1为屏蔽体；2为射线源；3为关注点
。
具体实施方式
[0005]在本申请优选实施方式中，公开了通过一种
X
射线散射剂量率的积分计算法来检测设备安全性的方法，包括：建立空间直角坐标系，根据设定的防护情况将防护体的
X
射线散射区域划分为若干个散射子体微分单元，根据射线源与各散射子体空间坐标计算散射距离矩阵；对设置的若干个探测点，根据各散射子体与探测点
(
若干个
)
空间坐标计算关注距离矩阵；其次，当线束斜入射到屏蔽体上时，屏蔽体的厚度与垂直入射时的屏蔽厚度存在差异，应考虑散射线入射屏蔽体时的角度，计算真实的屏蔽厚度
。
将各参数代入散射剂量率计算公式，即可求出
X
射线散射空间剂量率分布结果
。
参考图1‑
图4，一种用于检测
X
射线辐射防护安全性的方法，包括如下步骤：步骤1，在待检测装置张红建立空间直角坐标系；步骤2，将散射区域划分成若干个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于检测
X
射线辐射防护安全性的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，在待检测装置张红建立空间直角坐标系；步骤2，将散射区域划分成若干个单元，确定描述该单元的出束点坐标
、
散射点坐标
、
关注点坐标以及
X
射线实际屏蔽厚度；步骤3，对多个所述单元按如下公示进行计算：其中：
D0：源项剂量率，
μ
Gy/h
；
D
：关注点剂量率，
μ
Gy/h
；
α
：散射因子，无量纲；
F
i
：第
i
个散射体对应的散射面积，
m2；
R
i
：辐射源点
(
靶点
)
至第
i
个散射体的距离，
m
；
R
si
：第
i
个散射体至关注点的距离，
m
；
d
θ
：考虑入射角度的屏蔽厚度，
mm
；
TVL
：
X
射线在屏蔽体材料中的十分之一值层，
mm。2.
根据权利要求1所述的用于检测
X
射线辐射防护安全性的方法，其特征在于，确定
X
射线实际屏蔽厚度包括如下步骤：
a)
根据屏蔽体所在平面方程
A
×
X+B
×
Y+C
×
Z+D
＝0及散射直线方程计算
X
射线实际屏...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏先国，王霞，强博，张吉峰，贺伟达，王琰，张志刚，
申请(专利权)人：北京真空电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：