【技术实现步骤摘要】
一种用于检测X射线辐射防护安全性的方法
[0001]本专利技术涉及
X
射线辐射防护
，尤其对
X
射线辐射防护的检测的方法
。
技术介绍
[0002]X
射线具有贯穿能力，差别吸收
、
感光作用
、
荧光作用等物理特性，被广泛应用于医学检测
、
车辆安全检测
、
箱包行李安全检测
、
无损检测等领域
。
当
X
射线穿过物质时，它会与物质中的原子相互作用，其中一部分能量会被吸收，而另一部分能量则会以散射辐射的形式散射出去
。
这些散射辐射不仅会增加环境辐射剂量，也可能会影响到周围的人员受到各种不同类型和不同程度的辐射损伤
。
因此，人们在运用
X
射线的同时，尽量避免人类受到
X
射线的有害效应，对
X
射线进行有效的防护
。X
射线散射线，指的是
X
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种用于检测
X
射线辐射防护安全性的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，在待检测装置张红建立空间直角坐标系；步骤2，将散射区域划分成若干个单元，确定描述该单元的出束点坐标
、
散射点坐标
、
关注点坐标以及
X
射线实际屏蔽厚度；步骤3，对多个所述单元按如下公示进行计算：其中：
D0：源项剂量率，
μ
Gy/h
；
D
：关注点剂量率，
μ
Gy/h
；
α
：散射因子，无量纲；
F
i
：第
i
个散射体对应的散射面积，
m2；
R
i
：辐射源点
(
靶点
)
至第
i
个散射体的距离，
m
；
R
si
：第
i
个散射体至关注点的距离，
m
；
d
θ
：考虑入射角度的屏蔽厚度，
mm
；
TVL
：
X
射线在屏蔽体材料中的十分之一值层，
mm。2.
根据权利要求1所述的用于检测
X
射线辐射防护安全性的方法，其特征在于，确定
X
射线实际屏蔽厚度包括如下步骤：
a)
根据屏蔽体所在平面方程
A
×
X+B
×
Y+C
×
Z+D
＝0及散射直线方程计算
X
射线实际屏...
【专利技术属性】
技术研发人员：夏先国，王霞，强博，张吉峰，贺伟达，王琰，张志刚，
申请(专利权)人：北京真空电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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