具有校准机制的设备制造技术

本申请案涉及一种具有校准机制的设备

【技术实现步骤摘要】
具有校准机制的设备
[0001]分案申请的相关信息
[0002]本案是分案申请
。
本分案申请的母案是专利技术名称为“具有校准机制的设备”、
申请日为
201 9
年
07
月
11
日
、
申请号为
201910623281.9
的中国专利技术专利申请案
。


[0003]所揭示实施例涉及例如存储器装置的设备，并且特定来说，涉及具有校准机制的存储器装置
。

技术介绍

[0004]存储器系统可采用存储器装置来存储及存取信息
。
存储器装置可包含易失性存储器装置
、
非易失性存储器装置或组合装置
。
例如动态随机存取存储器
(DRAM)
的存储器装置可利用电能来存储及存取数据
。
一些存储器装置可包含垂直堆叠裸片
(
例如，裸片堆叠
)
，其使用硅通孔
(TSV)
以主
‑
从
(MS)
配置连接
。
举例来说，存储器装置可包含双倍数据速率
(DDR)RAM
装置，其实施用于高速数据传送的
DDR
接口连接方案
。DDR RAM
装置
(
例如，
DDR4
装置
、DDR5
装置等
)
可包含存储器芯片，其包含裸片堆叠，所述裸片堆叠各自包含主裸片及一或多个从裸片
。
[0005]一些存储器装置可包含专用于裸片之间的通信
(
例如，用于交换数据
、
时钟等
)
的连接垫
、TSV、
数据线等
。
因此，可调整或校准各种方面
(
例如，阻抗
、
时序
、
信号电平等
)
以实施电路组件及
/
或裸片之间的通信
。
[0006]随着其它领域的技术进步及应用的不断增加，市场不断寻求更快及更小装置
。
为满足市场需求，半导体装置的物理大小或尺寸正在被推向极限
。
鉴于不断增加的商业竞争压力，以及不断增长的消费者期望及区分市场中的产品的愿望，越来越希望找到这些问题的答案
。
此外，降低成本
、
改进效率及性能以及满足竞争压力的需求为寻找这些问题的答案带来更大压力
。

技术实现思路

[0007]一方面，本申请案提供一种设备，其包括：
ZQ
连接，其经配置以针对
ZQ
校准过程提供参考电阻电平，所述
ZQ
校准过程在多个裸片中的对应一者处调谐与输入
/
输出信号相关联的一或多个电阻电平；一或多个从裸片，其电耦合到所述
ZQ
垫，所述从裸片中的每一者经配置以实施所述
ZQ
校准过程或其一部分，其中所述多个裸片包含所述一或多个从裸片；主裸片，其电耦合到所述
ZQ
垫，所述主裸片经配置以实施所述
ZQ
校准过程或其一部分，其中所述多个裸片包含所述主裸片；及校准通道，其电耦合所述主裸片及所述从裸片，所述校准通道经配置以在所述主裸片与所述一或多个从裸片之间传达信号，以用于在实施所述
ZQ
校准过程时跨越所述连接裸片协调对所述
ZQ
连接的存取
。
[0008]另一方面，本申请案提供一种设备，其包括：
ZQ
连接，其经配置以针对
ZQ
校准过程提供参考电阻电平，所述
ZQ
校准过程在多个裸片中的对应一者处调谐与输入
/
输出信号相
关联的一或多个电阻电平；主裸片，其电耦合到所述
ZQ
垫，其中所述多个裸片包含所述主裸片，所述主裸片经配置以：产生校准时钟信号以协调对所述
ZQ
连接的存取，以及根据所述校准时钟信号实施所述
ZQ
校准过程或其一部分；及一或多个从裸片，其电耦合到所述
ZQ
垫及所述主裸片，所述从裸片中的每一者经配置以根据所述校准时钟信号实施所述
ZQ
校准过程或其一部分，其中所述多个裸片包含所述一或多个从裸片
。
[0009]另一方面，本申请案提供一种操作存储器装置的方法，所述存储器装置包含电连接到
ZQ
连接的主裸片及一或多个从裸片，所述方法包括：在所述主裸片处产生校准时钟信号；根据所述校准时钟信号在所述主裸片处执行
ZQ
校准过程或其一部分，其中所述
ZQ
校准过程在多个裸片中的对应一者处调谐与输入
/
输出信号相关联的一或多个电阻电平，其中所述多个裸片包含所述主裸片及所述一或多个从裸片；以及根据来自所述主裸片的所述校准时钟信号在所述一或多个从裸片处执行所述
ZQ
校准过程或其一部分
。
附图说明
[0010]图1说明根据本技术的实施例的存储器装置的框图
。
[0011]图2说明根据本技术的实施例的图1的存储器装置中的裸片的框图
。
[0012]图3说明根据本技术的实施例的存储器装置的
ZQ
协调通道的框图
。
[0013]图4说明根据本技术的实施例的校准通道的实例电路图
。
[0014]图5说明根据本技术的实施例的通道管理电路的框图
。
[0015]图6说明根据本技术的实施例的针对图1的存储器装置的时序图
。
[0016]图
7A
说明根据本技术的实施例的与开始针对图1的存储器装置的校准过程相关联的时序图
。
[0017]图
7B
说明根据本技术的实施例的与停止针对图1的存储器装置的校准过程相关联的时序图
。
[0018]图8是说明根据本技术的实施例的操作图1的存储器装置的实例方法的流程图
。
[0019]图9是包含根据本技术的实施例的存储器装置的系统的示意图
。
具体实施方式
[0020]如下文更详细描述，本文揭示的技术涉及例如存储器装置的设备
、
具有存储器装置的系统以及用于管理
/
促进数据源阻抗
(ZQ)
校准的相关方法
。ZQ
校准可包含调谐与经配置以接收及
/
或供应输入
/
输出
(I/O)
电力
(V
DDQ
)
到其它组件
(
例如，输出晶体管
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种设备，其包括：
ZQ
连接，其经配置以针对
ZQ
校准过程提供参考电阻电平，所述
ZQ
校准过程在多个裸片中的对应一者处调谐与输入
/
输出信号相关联的一或多个电阻电平；一或多个从裸片，其电耦合到所述
ZQ
垫，所述从裸片中的每一者经配置以实施所述
ZQ
校准过程或其一部分，其中所述多个裸片...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾森，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：