存储芯片的数据丢失检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及数据处理技术领域，公开了一种存储芯片的数据丢失检测方法及装置，用于提高存储芯片的数据丢失检测的准确率

【技术实现步骤摘要】
存储芯片的数据丢失检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及数据处理
，尤其涉及一种存储芯片的数据丢失检测方法及装置
。

技术介绍

[0002]数据的完整性和可用性在现代信息
中至关重要
。
随着数据的产生
、
存储和传输规模不断扩大，数据的损坏
、
丢失或篡改成为了一个普遍存在的问题
。
为了应对这一挑战，研究人员和工程师们一直在努力开发和改进各种技术来确保数据的可靠性和完整性
。
[0003]现有技术中，存储系统中的数据通常具有复杂的模式和结构，这增加了准确检测数据丢失的难度
。
传统的检测算法无法适应这种多样性
。
现代存储系统通常处理大量数据，这使得检测算法需要处理大规模的数据流
。
准确检测数据丢失需要高度有效的算法和足够的计算资源，存储环境还会受到各种噪音和干扰的影响，会导致误报或降低检测准确性
。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种存储芯片的数据丢失检测方法及装置，用于提高存储芯片的数据丢失检测的准确率
。
[0005]本专利技术第一方面提供了一种存储芯片的数据丢失检测方法，所述存储芯片的数据丢失检测方法包括：从预置的存储芯片中进行数据块采集，得到多个数据块；对多个所述数据块进行冗余信息读取，得每个所述数据块的冗余数据，并分别对每个所述数据块的冗余数据进行纠错码提取，得到每个所述数据块的纠错码；通过多个所述纠错码对多个所述数据块多元解码处理，得到每个所述数据块的原始数据块；对多个所述原始数据块进行数据校验和计算，得到每个所述原始数据块的校验和数据；通过每个所述原始数据块的校验和数据对每个所述原始数据块进行数据编码特征提取，得到每个所述原始数据块的编码特征；将每个所述原始数据块的编码特征输入预置的编码特征识别模型进行特征识别，得到每个所述原始数据块的语义特征及每个所述原始数据块的数据量特征；分别对每个所述原始数据块的语义特征以及数据量特征进行丢失数据检测，得到数据丢失检测结果，并根据所述数据丢失检测结果创建所述存储芯片的数据丢失异常处理方案
。
[0006]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第一实施方式中，所述对多个所述数据块进行冗余信息读取，得每个所述数据块的冗余数据，并分别对每个所述数据块的冗余数据进行纠错码提取，得到每个所述数据块的纠错码，包括：对每个所述数据块进行数据存储区域校验，得到每个所述数据块的芯片存储区
域；通过每个所述数据块的芯片存储区域，对每个所述数据块进行数据分割，得到每个所述数据块的子数据块集合；分别对每个所述数据块的子数据块集合进行数据量提取，得到每个所述数据块的当前数据量；对每个所述数据块进行标准数据量匹配，得到每个所述数据块的标准数据量；对每个所述数据块的当前数据量以及每个所述数据块的标准数据进行数据量差值计算，得到每个所述数据块对应的数据量差值数据；基于每个所述数据块对应的数据量差值数据，对多个所述数据块进行冗余信息读取，得每个所述数据块的冗余数据；分别对每个所述数据块的冗余数据进行纠错码提取，得到每个所述数据块的纠错码
。
[0007]结合第一方面的第一实施方式，在本专利技术第一方面的第二实施方式中，所述分别对每个所述数据块的冗余数据进行纠错码提取，得到每个所述数据块的纠错码，包括：分别对每个所述数据块的冗余数据进行冗余奇偶校验位标定，得到每个所述数据块的冗余奇偶校验位；对每个所述数据块的冗余数据进行实际数据位标定，得到每个所述数据块的实际数据位；对每个所述数据块的冗余奇偶校验位以及每个所述数据块的实际数据位进行比对，得到比对结果；根据所述比对结果生成每个所述数据块的数据异常结果；根据每个所述数据块的数据异常结果分别对每个所述数据块的冗余数据进行纠错码提取，得到每个所述数据块的纠错码
。
[0008]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第三实施方式中，所述通过多个所述纠错码对多个所述数据块多元解码处理，得到每个所述数据块的原始数据块，包括：分别对每个所述数据块进行编码片段提取，得到每个所述数据块的多个编码片段；分别对每个所述数据块的多个编码片段进行片段融合，得到每个所述数据块的融合编码片段；通过多个所述纠错码，分别对每个所述数据块的融合编码片段进行解码处理，得到每个所述数据块的原始数据块
。
[0009]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第四实施方式中，所述通过每个所述原始数据块的校验和数据对每个所述原始数据块进行数据编码特征提取，得到每个所述原始数据块的编码特征，包括：对每个所述原始数据块以及每个所述原始数据块的校验和数据进行数据拼接，得到每个所述原始数据块的拼接数据；分别对每个所述原始数据块的拼接数据进行哈希映射，得到每个所述原始数据块的哈希数据；对每个所述原始数据块的哈希数据按照预设的运算逻辑进行数据运算，得到每个
所述原始数据块的运算数据；对每个所述原始数据块的运算数据进行数据编码特征提取，得到每个所述原始数据块的编码特征
。
[0010]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第五实施方式中，所述将每个所述原始数据块的编码特征输入预置的编码特征识别模型进行特征识别，得到每个所述原始数据块的语义特征及每个所述原始数据块的数据量特征，包括：将每个所述原始数据块的编码特征输入所述编码特征识别模型的特征变换层进行特征转换，输出每个所述原始数据块的转换特征集；将每个所述原始数据块的转换特征输入所述编码特征识别模型的特征融合层进行特征融合，得到每个所述原始数据块的融合特征；将每个所述原始数据块的融合特征输入所述编码特征识别模型的语义识别层进行语义信息识别，得到每个所述原始数据块的语义特征；将每个所述原始数据块的语义特征输入所述编码特征识别模型的数据量分析层进行数据量特征提取，得到每个所述原始数据块的数据量特征
。
[0011]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第六实施方式中，所述分别对每个所述原始数据块的语义特征以及数据量特征进行丢失数据检测，得到数据丢失检测结果，并根据所述数据丢失检测结果创建所述存储芯片的数据丢失异常处理方案，包括：对每个所述原始数据块的语义特征以及数据量特征进行特征加权融合，得到每个所述原始数据块的加权特征；对每个所述原始数据块的加权特征进行特征映射，得到每个所述原始数据块的数据完整性；通过每个所述原始数据块的数据完整性分别对每个所述原始数据块进行丢失数据检测，得到数据丢失检测结果，并根据所述数据丢失检测结果创建所述存储芯片的数据丢失异常处理方案
。
[0012]本专利技术第二方面提供了一种存储芯片的数据丢失检测装置，采用如本专利技术第一方面中任一项所述的存储芯片的数据丢失检测方法，所述存储芯片的数据丢失检测装置包括：采集模块，用于从预置的存储芯片中进行数据块采集，得到多个数据块；读取模块，用于对多个所述数据块进行冗余信息读取，得每个所述数据块的冗余数据，并分别对每个所述数据块的冗余数据进行纠错码提取，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种存储芯片的数据丢失检测方法，其特征在于，所述存储芯片的数据丢失检测方法包括：从预置的存储芯片中进行数据块采集，得到多个数据块；对多个所述数据块进行冗余信息读取，得每个所述数据块的冗余数据，并分别对每个所述数据块的冗余数据进行纠错码提取，得到每个所述数据块的纠错码；通过多个所述纠错码对多个所述数据块多元解码处理，得到每个所述数据块的原始数据块；对多个所述原始数据块进行数据校验和计算，得到每个所述原始数据块的校验和数据；通过每个所述原始数据块的校验和数据对每个所述原始数据块进行数据编码特征提取，得到每个所述原始数据块的编码特征；将每个所述原始数据块的编码特征输入预置的编码特征识别模型进行特征识别，得到每个所述原始数据块的语义特征及每个所述原始数据块的数据量特征；分别对每个所述原始数据块的语义特征以及数据量特征进行丢失数据检测，得到数据丢失检测结果，并根据所述数据丢失检测结果创建所述存储芯片的数据丢失异常处理方案；具体包括：对每个所述原始数据块的语义特征以及数据量特征进行特征加权融合，得到每个所述原始数据块的加权特征；对每个所述原始数据块的加权特征进行特征映射，得到每个所述原始数据块的数据完整性；通过每个所述原始数据块的数据完整性分别对每个所述原始数据块进行丢失数据检测，得到数据丢失检测结果，并根据所述数据丢失检测结果创建所述存储芯片的数据丢失异常处理方案
。2.
根据权利要求1所述的存储芯片的数据丢失检测方法，其特征在于，所述对多个所述数据块进行冗余信息读取，得每个所述数据块的冗余数据，并分别对每个所述数据块的冗余数据进行纠错码提取，得到每个所述数据块的纠错码，包括：对每个所述数据块进行数据存储区域校验，得到每个所述数据块的芯片存储区域；通过每个所述数据块的芯片存储区域，对每个所述数据块进行数据分割，得到每个所述数据块的子数据块集合；分别对每个所述数据块的子数据块集合进行数据量提取，得到每个所述数据块的当前数据量；对每个所述数据块进行标准数据量匹配，得到每个所述数据块的标准数据量；对每个所述数据块的当前数据量以及每个所述数据块的标准数据进行数据量差值计算，得到每个所述数据块对应的数据量差值数据；基于每个所述数据块对应的数据量差值数据，对多个所述数据块进行冗余信息读取，得每个所述数据块的冗余数据；分别对每个所述数据块的冗余数据进行纠错码提取，得到每个所述数据块的纠错码
。3.
根据权利要求2所述的存储芯片的数据丢失检测方法，其特征在于，所述分别对每个所述数据块的冗余数据进行纠错码提取，得到每个所述数据块的纠错码，包括：分别对每个所述数据块的冗余数据进行冗余奇偶校验位标定，得到每个所述数据块的冗余奇偶校验位；对每个所述数据块的冗余数据进行实际数据位标定，得到每个所述数据块的实际数据
位；对每个所述数据块的冗余奇偶校验位以及每个所述数据块的实际数据位进行比对，得到比对结果；根据所述比对结果生成每个所述数据块的数据异常结果；根据每个所述数据块的数据异常结果分别对每个所述数据块的冗余数据进行纠错码提取，得到每个所述数据块的纠错码
。4.
根据权利要求1所述的存储芯片的数据丢失检测方法，其特征在于，所述通过多个所述纠错码对多个所述数据块多元解码处理，得到每个所述数据块的原始数据块，包括：分别对每个所述数据块进行编码片段提取，得到每个所述数据块的多个编码片段；分别对每个所述数据块的多个编码片段进行片段融合，得到每个所述数据块的融合编码片段；通过多个所述纠错码，分别对每个所述数据块的融合编码片段进行解码处理，得到每个所述数据块的原始数据块
。5.
根据权利要求1所述的存...

【专利技术属性】
技术研发人员：高伟，黎江南，
申请(专利权)人：联和存储科技江苏有限公司，
类型：发明
国别省市：