一种芯片测试方法技术

本申请提供一种芯片测试方法

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及芯片领域，特别涉及一种芯片测试方法
、
装置
、
设备及介质
。

技术介绍

[0002]目前，利用自动测试设备（
Automatic Test Equipment
，
ATE
）可以对芯片进行缺陷检测，
ATE
测试机台可以对多颗芯片同时进行测试，即可以实现多同测
。
待测芯片可以为单线通信芯片，也可以为双线通信芯片
。
在对多颗双线通信芯片进行测试时，可以使用
ATE
的自动匹配方法，此方法的原理是在指定时间周期中，在一颗芯片有了输出响应后，
ATE
测试机台停止其时钟信号，芯片也会停止输出，依次类推处理剩余芯片，直到所有待测芯片都有响应后，再一起恢复时钟信号，一起比较响应的结果是不是符合预期
。
[0003]而在
ATE
测试机台对多颗单线通信芯片进行测试时，由于单线通信芯片没有时钟控制信号，对于输出引脚的状态就没有方法进行控制，无法控制单颗芯片停止输出，无法实现对多颗单线通信芯片的同时测试
。
因此，提供一种合适的芯片测试方法成为目前急需解决的技术问题
。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片测试方法
、
装置
、
设备及介质，能够实现测试机台对多个待测芯片同时进行检测，还能提高芯片检测准确率
。
其具体方案如下：一方面，本申请提供了一种芯片测试方法，包括：控制测试机台利用测试向量对多个待测芯片同时进行测试，得到所述待测芯片对应的第一测试结果并存储；所述第一测试结果包括多个数据位的数据宽度；根据所述数据宽度对所述第一测试结果进行解析，得到第二测试结果；所述第二测试数据包括多个数据位；将所述第二测试结果和预期测试结果进行对比，如果二者一致，则判断所述待测芯片通过测试；所述预期测试结果为对所述测试向量进行解析得到
。
[0005]具体地，所述根据所述数据宽度对所述第一测试结果进行解析，得到第二测试结果，包括：在所述数据宽度位于
220
个周期到
280
个周期之间时，确定所述数据位为一个位，取值为0，在所述数据宽度位于
660
个周期到
840
个周期之间时，确定所述数据位为一个位，取值为1，将多个所述数据位按顺序记录从而得到所述第二测试结果
。
[0006]具体地，所述第二测试结果包括多帧数据，在所述数据宽度大于
2000
个周期时，确定所述数据宽度对应的数据位为相邻两帧的间隔
。
[0007]具体地，所述方法还包括：将所述第一测试结果存储在所述测试机台的失效单元存储模块中
。
[0008]具体地，所述待测芯片为单线通信芯片
。
[0009]又一方面，本申请实施例还提供了一种芯片测试装置，包括：
测试单元，用于控制测试机台利用测试向量对多个待测芯片同时进行测试，得到所述待测芯片对应的第一测试结果并存储；所述第一测试结果包括多个数据位的数据宽度；解析单元，用于根据所述数据宽度对所述第一测试结果进行解析，得到第二测试结果；所述第二测试数据包括多个数据位；对比单元，用于将所述第二测试结果和预期测试结果进行对比，如果二者一致，则判断所述待测芯片通过测试；所述预期测试结果为对所述测试向量进行解析得到
。
[0010]具体地，所述解析单元用于：在所述数据宽度位于
220
个周期到
280
个周期之间时，确定所述数据位为一个位，取值为0，在所述数据宽度位于
660
个周期到
840
个周期之间时，确定所述数据位为一个位，取值为1，将多个所述数据位按顺序记录从而得到所述第二测试结果
。
[0011]具体地，所述第二测试结果包括多帧数据，在所述数据宽度大于
2000
个周期时，确定所述数据宽度对应的数据位为相邻两帧的间隔
。
[0012]又一方面，本申请实施例提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器以及存储器：所述存储器用于存储程序代码，并将所述程序代码传输给所述处理器；所述处理器用于根据所述程序代码中的指令执行以上方面所述的方法
。
[0013]又一方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序用于执行以上方面所述的方法
。
[0014]本申请实施例提供了一种芯片测试方法
、
装置
、
设备及介质，控制测试机台利用测试向量对多个待测芯片同时进行测试，得到待测芯片对应的第一测试结果并存储，这样，每得到一个待测芯片输出的第一测试结果就将其存储起来，便于利用第一测试结果进行芯片测试；第一测试结果包括多个数据位的数据宽度；根据数据宽度对第一测试结果进行解析，得到第二测试结果；第二测试数据包括多个数据位；将第二测试结果和预期测试结果进行对比，如果二者一致，则判断待测芯片通过测试；预期测试结果为对测试向量进行解析得到
。
可见，利用数据宽度进行解析，能够更准确的确定出第二测试结果，以测试向量的预期测试结果作为基准，判断第二测试结果是否与其相同，从而确定待测芯片是否正常，这样，无论待测芯片为单线通信芯片还是双线通信芯片，都能够实现测试机台对多个待测芯片同时进行检测，还能提高芯片检测准确率
。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图
。
[0016]图1示出了本申请实施例提供的一种芯片测试方法的流程示意图；图2示出了本申请实施例提供的一种芯片测试系统的结构示意图；图3示出了本申请实施例提供的又一种芯片测试方法的流程示意图；图4为本申请实施例提供的一种芯片测试装置的结构框图；
图5为本申请实施例提供的一种计算机设备的结构图
。
具体实施方式
[0017]为使本申请的上述目的
、
特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明
。
[0018]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请，但是本申请还可以采用其它不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似推广，因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制
。
[0019]为了便于理解，下面结合附图对本申请实施例提供的一种芯片测试方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种芯片测试方法，其特征在于，包括：控制测试机台利用测试向量对多个待测芯片同时进行测试，得到所述待测芯片对应的第一测试结果并存储；所述第一测试结果包括多个数据位的数据宽度；根据所述数据宽度对所述第一测试结果进行解析，得到第二测试结果；所述第二测试数据包括多个数据位；将所述第二测试结果和预期测试结果进行对比，如果二者一致，则判断所述待测芯片通过测试；所述预期测试结果为对所述测试向量进行解析得到
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述数据宽度对所述第一测试结果进行解析，得到第二测试结果，包括：在所述数据宽度位于
220
个周期到
280
个周期之间时，确定所述数据位为一个位，取值为0，在所述数据宽度位于
660
个周期到
840
个周期之间时，确定所述数据位为一个位，取值为1，将多个所述数据位按顺序记录从而得到所述第二测试结果
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第二测试结果包括多帧数据，在所述数据宽度大于
2000
个周期时，确定所述数据宽度对应的数据位为相邻两帧的间隔
。4.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：将所述第一测试结果存储在所述测试机台的失效单元存储模块中
。5.
根据权利要求1‑4任意一项所述的方法，其特征在于，所述待测芯片为单线通信芯片
。6.
一种芯片测试装置，其特征在于，包括：测试单元，用于控制测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹欢，仵东，金梦辉，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：