【技术实现步骤摘要】
一种便携式高灵敏X射线检查仪
[0001]本专利技术涉及
X
射线检查仪领域,具体为一种便携式高灵敏
X
射线检查仪
。
技术介绍
[0002]X
射线检测仪是一种利用射线时物体局部结构的差异来改变物体对射线的衰减,然后检测射线强度,判断物体内部缺陷和物质分布的仪器,然而常规的
X
射线检测仪一般体积较大,不过由于部分零时安检场所也需要采用
X
射线检测仪来保护场所的安全,这时就需要采用一种便携式高灵敏
X
射线检查仪,以起到便携方便的作用
。
[0003]然而现有便携式
X
射线检查仪为了提高其便携性,因此设备配套设施就有所欠缺,这时就可能会导致
X
射线检测仪在进行检测时容易发生干扰,从而出现检测画面不清晰的情况,针对该情况,这时就需要采用一种增强机构,以提高便携式
X
射线检查仪的灵敏性,从而提高便携式
X
射线检测仪的适用性
。
技术实现思路
[0004]基于此,本专利技术的目的是提供一种便携式高灵敏
X
射线检查仪,以解决传统携式
X
射线检查可能存在检测画面模糊的技术问题
。
[0005]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种便携式高灵敏
X
射线检查仪,包括收纳箱,所述收纳箱包括右箱体和左箱体,所述左箱体的内部设置有增强机构,所述增强 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.
一种便携式高灵敏
X
射线检查仪,包括收纳箱
(1)
,其特征在于:所述收纳箱
(1)
包括右箱体
(101)
和左箱体
(102)
,所述左箱体
(102)
的内部设置有增强机构
(2)
,所述增强机构
(2)
包括步进电机
(201)
,所述步进电机
(201)
的一侧通过活动块固定链接有增强板
(202)
,所述增强板
(202)
的背部一侧设置有发讯模组
(203)。2.
根据权利要求1所述的便携式高灵敏
X
射线检查仪,其特征在于:所述增强板
(202)
由
n*n
块石墨烯
‑
半导体异质结探测单元组成,所述石墨烯
‑
半导体异质结探测单元包括硅半导体层
、
石墨烯层和金增强层,硅半导体层厚度为
200nm
,石墨烯层厚度为
50nm
,金增强层厚度为
20nm
;所述石墨烯层为
AB
结构,且
I
D
/I
G
为1%
。3.
根据权利要求1所述的便携式高灵敏
X
射线检查仪,其特征在于:所述右箱体
(101)
的内部设置有保护块
(7)
,所述保护块
(7)
的内部开设有收纳槽
(9)
,所述保护块
(7)
的顶部开设有卡槽
(8)
,所述保护块
(7)
的上方设置有顶板
(3)
,所述顶板
(3)
的底部设置有卡块,所述卡槽
(8)
与卡块相卡合
。4.
根据权利要求1所述的便携式高灵敏
X
射线检查仪,其特征在于:所述右箱体
技术研发人员:高超,俞丹萍,曹小雪,彭蠡,
申请(专利权)人:山西浙大新材料与化工研究院,
类型:发明
国别省市:
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