【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光电探测器和形成光电探测器的方法
[0001]本专利技术提供了光电探测器和形成光电探测器的方法
。
特别地,光电探测器包括布置在第一绝缘层上的石墨烯层,该第一绝缘层包括硅氮化物和
/
或铝
、
铪和镁中的一种或更多种的氧化物
。
本专利技术还提供了用于形成包括这样的石墨烯层的光电探测器的方法,特别是包括通过低压化学气相沉积形成硅氮化物层的方法
。
本专利技术还涉及包括光电探测器和电光调制器的系统,特别是其中,光电探测器和电光调制器一体地形成在基板上
。
[0002]当前,二维材料
(
石墨烯是其中最突出的材料之一
)
是密集研究的焦点
。
特别是石墨烯,无论是理论上还是近年来实践上都已经显示出非凡的特性
。
石墨烯的电子特性是特别显著的,并且已经使得能够生产与基于非石墨烯的器件相比数量级改进的电子器件
。
石墨烯还表现出独特的光学特性,使得石墨烯已经被用于电光器件,例如电光调制器
。
电光调制器
(EOM)
是可以用于利用电控制信号控制光的功率或振幅
、
相位
、
频率或偏振的器件
。
工作原理是基于电光效应,电光效应是由电场引起的对介质的折射率的改变
。
[0003]IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics 23(
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.
一种光电探测器,包括:基板,其中嵌入有波导材料的第一通道,所述基板和所述波导材料一起提供基本平坦的上表面;在所述上表面上并跨所述上表面的第一绝缘层;在所述第一绝缘层上并在所述波导材料的第一通道上方布置的石墨烯层;以及至少两个欧姆接触件,其各自被设置成与所述石墨烯层接触并布置在所述波导材料的第一通道的两侧;其中,所述第一绝缘层包括硅氮化物和
/
或铝
、
铪和镁中的一种或更多种的氧化物
。2.
根据权利要求1所述的光电探测器,其中,所述至少两个接触件是不对称的
。3.
根据权利要求2所述的光电探测器,其中,所述至少两个接触件由不同金属形成
。4.
根据权利要求2所述的光电探测器,其中,所述至少两个欧姆接触件中的第一欧姆接触件和第二欧姆接触件在所述基板的平面中与所述波导材料的第一通道的间距不同
。5.
根据任一前述权利要求所述的光电探测器,其中,所述基板包括在硅的下层上的硅氧化物的上层,并且所述波导材料的第一通道嵌入所述硅氧化物的上层
。6.
根据任一前述权利要求所述的光电探测器,其中,所述波导材料为
SiN
x
或非故意掺杂硅
。7.
根据任一前述权利要求所述的光电探测器,其中,所述石墨烯是可选地掺杂的单层石墨烯片
。8.
根据任一前述权利要求所述的光电探测器,其中,所述第一绝缘层包括所述上表面上的硅氮化物层
。9.
根据任一前述权利要求所述的光电探测器,还包括在所述石墨烯层上并跨所述石墨烯层的第二绝缘层
。10.
根据任一前述权利要求所述的光电探测器,其中,所述第一绝缘层和
/
或所述第二绝缘层包括铝
、
铪和镁中的一种或更多种的氧化物,优选地铝氧化物或铪氧化物
。11.
根据任一前述权利要求所述的光电探测器,其中,所述第一绝缘层包括直接在所述上表面上的硅氮化物层,以及在所述硅氮化物层上的铝
、
铪和镁中的一种或更多种的氧化物,优选地铝氧化物或铪氧化物
。12.
根据任一前述权利要求所述的光电探测器,还包括平行于所述波导材料的第一通道并在所述波导材料的第一通道上方对准的波导材料的第二通道,并且所述波导材料的第二通道被设置在:
(i)
所述石墨烯层上;或
(ii)
所述第二绝缘层上
。13.
一种形成光电探测器的方法,所述方法包括:设置其中蚀刻有第一通道的基板;用
SiN
x
或非故意掺杂硅填充所述第一通道;通过低压
CVD
跨所述基板和所述第一通道形成
SiN
x
层;至少部分地蚀刻所述
SiN
x
层以形成基本平坦的生长表面;在所述生长表面上沉积铝
、
铪和镁中的一种或更多种的氧化物以形成第一绝缘层;通过
CVD
跨所述第一绝缘层形成石墨烯单层;
对所述石墨烯单层进行图案化;以及形成至少两个欧姆接触件,其各自与图案化的石墨烯单层接触并且被布置在所述第一通道的两侧
。14.
根据权利要求
13
所述的方法,其中,所述方法还包括:在所述石墨烯单层上并跨所述石墨烯单层沉积铝
、
铪和镁中的一种或更多种的氧化物以形成第二绝缘层
。15.
根据权利要求
13
或
14
所述的方法,其中,沉积铝
、
铪和镁中的一种或更多种的氧化物以形成所述第一绝缘层和
/
...
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