一种测试方法技术

本公开提供一种测试方法

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法、测试设备和计算机存储介质


[0001]本公开涉及半导体测试
，尤其涉及一种测试方法
、
测试设备和计 算机存储介质
。

技术介绍

[0002]动态随机存取存储器
(Dynamic Random Access Memory
，
DRAM)
芯片一 般是制作在晶圆上，在对晶圆上形成的
DRAM
芯片进行封装或者在投入使用之 前，一般都需要对
DRAM
芯片的各项性能参数进行测试以保证
DRAM
芯片的 设计符合要求
。
[0003]随着半导体存储器技术的快速发展，存储器的数据速度也随之加快
。
例如， 与第四代双倍速率同步动态随机存储器
(Low Power Double Data Rate FourthSynchronous Dynamic Random Access Memory
，
DDR4 SDRAM
，简写为
LPDDR4) 相比，
LPDDR5
的数据速度提升到了
6400Mbps。
在相关技术中，
DRAM
高速 测试依赖于高速自动测试设备
(Automatic Test Equipment
，
ATE)
的开发
。
然而， 高速测试设备的费用昂贵
、
而且测试程序需要重新开发和设计，导致对高频存 储器的测试成本过高
。

技术实现思路

[0004]本公开实施例提供的一种测试方法
、
测试设备和计算机存储介质
。
[0005]第一方面，本公开实施例提供了一种测试方法，该方法包括：
[0006]确定初始时钟信号；
[0007]基于所述初始时钟信号生成目标时钟信号；其中，所述目标时钟信号的时 钟频率高于所述初始时钟信号的时钟频率；
[0008]获取测试数据；其中，所述测试数据包括第一测试数据和第二测试数据；
[0009]根据所述目标时钟信号的第一类翻转时刻将所述第一测试数据依次写入到 被测芯片的目标存储区域后，根据所述目标时钟信号的第二类翻转时刻将所述 第二测试数据依次写入到被测芯片的目标存储区域；
[0010]根据所述目标时钟信号的第一类翻转时刻和第二类翻转时刻分别对所述被 测芯片的目标存储区域进行数据读取采样，确定第一采样数据和第二采样数据；
[0011]基于所述第一测试数据与所述第一采样数据以及所述第二测试数据与所述 第二采样数据，确定测试结果
。
[0012]在一些实施例中，所述第一类翻转时刻表示所述目标时钟信号由低电平向 高电平翻转的上升沿时刻，所述第二类翻转时刻表示所述目标时钟信号由高电 平向低电平翻转的下降沿时刻；或者，
[0013]所述第一类翻转时刻表示所述目标时钟信号由高电平向低电平翻转的下降 沿时刻，所述第二类翻转时刻表示所述目标时钟信号由低电平向高电平翻转的 下降沿时刻
。
[0014]在一些实施例中，所述获取测试数据，包括：
[0015]将所述测试数据中的偶数比特位数据确定为所述第一测试数据，将所述测 试数
据中的奇数比特位数据确定为所述第二测试数据；或者，
[0016]将所述测试数据中的奇数比特位数据确定为所述第一测试数据，将所述测 试数据中的偶数比特位数据确定为所述第二测试数据
。
[0017]在一些实施例中，在所述第一类翻转时刻为所述目标时钟信号的上升沿时 刻，所述第二类翻转时刻为所述目标时钟信号的下降沿时刻；以及所述第一测 试数据为所述测试数据中的偶数比特位数据，所述第二测试数据为所述测试数 据中的奇数比特位数据的情况下，
[0018]所述根据所述目标时钟信号的第一类翻转时刻将所述第一测试数据依次写 入到被测芯片的目标存储区域后，根据所述目标时钟信号的第二类翻转时刻将 所述第二测试数据依次写入到被测芯片的目标存储区域，包括：
[0019]确定第一数据掩码信号和第二数据掩码信号，且所述第一数据掩码信号和 所述第二数据掩码信号的相位相反；
[0020]在对所述被测芯片执行第一次写操作时，基于所述第一数据掩码信号屏蔽 所述奇数比特位数据，以及在所述目标时钟信号的上升沿时刻将所述偶数比特 位数据依次写入到被测芯片的目标存储区域；
[0021]在对所述被测芯片执行第二次写操作时，基于所述第二数据掩码信号对所 述偶数比特位数据进行掩码处理，以及在所述目标时钟信号的第二类翻转时刻 将所述奇数比特位数据依次写入到被测芯片的目标存储区域
。
[0022]在一些实施例中，所述根据所述目标时钟信号的第一类翻转时刻和第二类 翻转时刻分别对所述被测芯片的目标存储区域进行数据读取采样，确定第一采 样数据和第二采样数据，包括：
[0023]在对所述被测芯片执行第一次读操作时，从所述被测芯片的目标存储区域 中进行数据读取，根据所述目标时钟信号的上升沿时刻对读取到的数据进行采 样，得到所述第一采样数据；
[0024]在对所述被测芯片执行第二次读操作时，从所述被测芯片的目标存储区域 中进行数据读取，根据所述目标时钟信号的下降沿时刻对读取到的数据进行采 样，得到所述第二采样数据；
[0025]相应地，所述基于所述第一测试数据与所述第一采样数据以及所述第二测 试数据与所述第二采样数据，确定测试结果，包括：
[0026]确定所述偶数比特位数据与所述第一采样数据的第一比较结果；
[0027]确定所述奇数比特位数据与所述第二采样数据的第二比较结果；
[0028]在所述第一比较结果指示所述偶数比特位数据与所述第一采样数据相同， 且所述第二比较结果指示所述奇数比特位数据与所述第二采样数据相同时，确 定所述测试结果为测试通过
。
[0029]在一些实施例中，所述根据所述目标时钟信号的第一类翻转时刻将所述第 一测试数据依次写入到被测芯片的目标存储区域后，根据所述目标时钟信号的 第二类翻转时刻将所述第二测试数据依次写入到被测芯片的目标存储区域，包 括：
[0030]确定第一数据掩码信号和第二数据掩码信号，且所述第一数据掩码信号和 所述第二数据掩码信号的相位相反；
[0031]在对所述被测芯片执行第一次写操作时，基于所述第一数据掩码信号对所 述第二测试数据进行掩码处理，以及在所述目标时钟信号的第一类翻转时刻将 所述第一测试数据依次写入到所述被测芯片的目标存储区域；
[0032]在对所述被测芯片执行第二次写操作时，基于所述第二数据掩码信号对所 述第一测试数据进行掩码处理，以及在所述目标时钟信号的第二类翻转时刻将 所述第二测试数据依次写入到所述被测芯片的目标存储区域，以实现将所述测 试数据写入到所述被测芯片的目标存储区域
。
[0033]在一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：确定初始时钟信号；基于所述初始时钟信号生成目标时钟信号；其中，所述目标时钟信号的时钟频率高于所述初始时钟信号的时钟频率；获取测试数据；其中，所述测试数据包括第一测试数据和第二测试数据；根据所述目标时钟信号的第一类翻转时刻将所述第一测试数据依次写入到被测芯片的目标存储区域后，根据所述目标时钟信号的第二类翻转时刻将所述第二测试数据依次写入到被测芯片的目标存储区域；根据所述目标时钟信号的第一类翻转时刻和第二类翻转时刻分别对所述被测芯片的目标存储区域进行数据读取采样，确定第一采样数据和第二采样数据；基于所述第一测试数据与所述第一采样数据以及所述第二测试数据与所述第二采样数据，确定测试结果
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一类翻转时刻表示所述目标时钟信号由低电平向高电平翻转的上升沿时刻，所述第二类翻转时刻表示所述目标时钟信号由高电平向低电平翻转的下降沿时刻；或者，所述第一类翻转时刻表示所述目标时钟信号由高电平向低电平翻转的下降沿时刻，所述第二类翻转时刻表示所述目标时钟信号由低电平向高电平翻转的下降沿时刻
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取测试数据，包括：将所述测试数据中的偶数比特位数据确定为所述第一测试数据，将所述测试数据中的奇数比特位数据确定为所述第二测试数据；或者，将所述测试数据中的奇数比特位数据确定为所述第一测试数据，将所述测试数据中的偶数比特位数据确定为所述第二测试数据
。4.
根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述第一类翻转时刻为所述目标时钟信号的上升沿时刻，所述第二类翻转时刻为所述目标时钟信号的下降沿时刻；以及所述第一测试数据为所述测试数据中的偶数比特位数据，所述第二测试数据为所述测试数据中的奇数比特位数据的情况下，所述根据所述目标时钟信号的第一类翻转时刻将所述第一测试数据依次写入到被测芯片的目标存储区域后，根据所述目标时钟信号的第二类翻转时刻将所述第二测试数据依次写入到被测芯片的目标存储区域，包括：确定第一数据掩码信号和第二数据掩码信号，且所述第一数据掩码信号和所述第二数据掩码信号的相位相反；在对所述被测芯片执行第一次写操作时，基于所述第一数据掩码信号屏蔽所述奇数比特位数据，以及在所述目标时钟信号的上升沿时刻将所述偶数比特位数据依次写入到被测芯片的目标存储区域；在对所述被测芯片执行第二次写操作时，基于所述第二数据掩码信号对所述偶数比特位数据进行掩码处理，以及在所述目标时钟信号的第二类翻转时刻将所述奇数比特位数据依次写入到被测芯片的目标存储区域
。5.
根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标时钟信号的第一类翻转时刻和第二类翻转时刻分别对所述被测芯片的目标存储区域进行数据读取采样，确定第一
采样数据和第二采样数据，包括：在对所述被测芯片执行第一次读操作时，从所述被测芯片的目标存储区域中进行数据读取，根据所述目标时钟信号的上升沿时刻对读取到的数据进行采样，得到所述第一采样数据；在对所述被测芯片执行第二次读操作时，从所述被测芯片的目标存储区域中进行数据读取，根据所述目标时钟信号的下降沿时刻对读取到的数据进行采样，得到所述第二采样数据；相应地，所述基于所述第一测试数据与所述第一采样数据以及所述第二测试数据与所述第二采样数据，确定测试结果，包括：确定所述偶数比特位数据与所述第一采样数据的第一比较结果；确定所述奇数比特位数据与所述第二采样数据的第二比较结果；在所述第一比较结果指示所述偶数比特位数据与所述第一采样数据相同，且所述第二比较结果指示所述奇数比特位数据与所述第二采样数据相同时，确定所述测试结果为测试通过
。6.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标时钟信号的第一类翻转时刻将所述第一测试数据依次写入到被测芯片的目标存储区域后，根据所述目标时钟信号的第二类翻转时刻将所述第二测试数据依次写入到被测芯片的目标存储区域，包括：确定第一数据掩码信号和第二数据掩码信号，且所述第一数据掩码信号和所述第二数据掩码信号的相位相反；在对所述被测芯片执行第一次写操作时，基于所述第一数据掩码信号对所述第二测试数据进行掩码处理，以及在所述目标时钟信号的第一类翻转时刻将所述第一测试数据依次写入到所述被测芯片的目标存储区域；在对所述被测芯片执行第二次写操作时，基于所述第二数据掩码信号对所述第一测试数据进行掩码处理，以及在所述目标时钟信号的第二类翻转时刻将所述第二测试数据依次写入到所述被测芯片的目标存储区域，以实现将所述测试数据写入到所述被测芯片的目标存储区域
。7.
根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢欢，王鹏，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：