基于发光探测一体化器件的屏幕及其控制方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于发光探测一体化器件的屏幕及其控制方法和系统，包括若干个发光探测元件

【技术实现步骤摘要】
基于发光探测一体化器件的屏幕及其控制方法和系统


[0001]本专利技术涉及光电器件领域，尤其涉及一种基于发光探测一体化器件的屏幕及其控制方法和系统
。

技术介绍

[0002]随着光电半导体材料的不断创新与突破，以及器件光学结构设计技术的成熟，光电探测器以及发光二极管在通信
、
医疗
、
显示
、
传感等领域得到了迅速的发展与应用
。
然而，现有的光电探测器和发光二极管不能集于一体，在应用方面受到了较大限制
。
[0003]例如，屏下摄像头将屏幕与摄像头结合，以改善以往摄像头造成屏幕有部分不能显示的缺陷，但在该设计中为了让屏下摄像头发挥作用，采用与其他位置不同的透明导线，减小屏幕发光像素，还是会造成屏幕观感不一致等问题
。
在屏下指纹识别时，当前的技术主要采用光学或超声波技术检测并识别指纹信息，设计有单独的光学或超声波发射检测模块，并将该指纹识别模块与屏幕相组装，该设计对识别模块与屏幕之间的连接有较高要求，并且加装识别模块也会带来厚度增加
、
机械强度减弱等问题
。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例的目的是提供一种基于发光探测一体化器件的屏幕及其控制方法和系统，该屏幕将光电探测器和发光二极管集于一体，同时具备发光与探测功能，每个发光探测元件能够单独控制，使得屏幕发光均匀，整个屏幕的显示效果一致，并提高了设备的集成度
、
轻薄度和便携性，便于推广应用
。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕，包括若干个发光探测元件
、
数据线控制电路
、
扫描线控制电路
、
测试漏端控制电路和测试源端控制电路；发光探测元件包括发光与探测一体化的叠层器件和薄膜晶体管控制模块；若干个发光探测元件组成阵列，每个发光探测元件的四个端口分别与数据线控制电路
、
扫描线控制电路
、
测试漏端控制电路和测试源端控制电路连接，其中，
[0006]发光探测元件，用于发光或探测光强；
[0007]数据线控制电路，用于控制阵列中行或列的发光探测元件；
[0008]扫描线控制电路，用于控制阵列中列或行的发光探测元件；扫描线控制电路和数据线控制电路中一个电路控制行的发光探测元件
、
另一个电路控制列的发光探测元件；
[0009]测试源端控制电路，用于为阵列中的发光探测元件提供工作电压；
[0010]测试漏端控制电路，用于测量阵列中的电流
。
[0011]可选地，发光与探测一体化的叠层器件包括第一电源端
、
源端
、
漏端和透明电极；薄膜晶体管控制模块包括第一端口
、
第二端口
、
第三端口和第二电源端；第三端口与透明电极连接；第一端口与数据线控制电路连接，第二端口与扫描线控制电路连接，源端与测试源端控制电路连接，漏端与测试漏端控制电路连接
。
[0012]可选地，第二电源端与第一电源端的电压差的范围为
4V
至
8V。
[0013]第二方面，本专利技术实施例提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕的控制方法，应用于如上所述的基于发光探测一体化器件的屏幕，包括：
[0014]控制数据线控制电路和扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件的工作模式；工作模式包括发光模式和探测模式；
[0015]控制数据线控制电路和扫描线控制电路为阵列中预设行或预设列的发光探测元件提供工作电压，以使发光探测元件工作在发光模式；
[0016]和
/
或，
[0017]控制测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或所在列的电流，以使发光探测元件工作在探测模式
。
[0018]可选地，发光模式下的控制方法，具体包括：
[0019]控制数据线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第一端口提供第一预设电压，控制扫描线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第二端口提供第二预设电压，使得薄膜晶体管控制模块的第二电源端的电压施加到发光与探测一体化的叠层器件的透明电极上，以使发光探测元件发光
。
[0020]可选地，探测模式下的控制方法，具体包括：
[0021]控制数据线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第一端口提供第三预设电压，控制扫描线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第二端口提供第四预设电压，使得薄膜晶体管控制模块的第二电源端与发光与探测一体化的叠层器件的透明电极断开，以使发光探测元件处于熄灭状态；
[0022]并控制测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或列的电流，以测得熄灭的发光探测元件接收到的光强
。
[0023]可选地，探测模式下的控制方法还包括：
[0024]控制测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或列的电流，记录电流并进行分析，得到熄灭的发光探测元件接收到的光强
。
[0025]可选地，控制数据线控制电路或扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件发光，并控制预设行或预设列上的发光探测元件的光强，以使屏幕显示预设图像；其中，发光探测元件所发出的光包括可发出不同颜色的发光探测元件
。
[0026]第三方面，本专利技术实施例提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕的系统，包括：
[0027]第一模块，用于控制数据线控制电路和扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件的工作模式；工作模式包括发光模式和探测模式；
[0028]第二模块，用于控制数据线控制电路和扫描线控制电路为阵列中预设行或预设列的发光探测元件提供工作电压，以使发光探测元件工作在发光模式；；
[0029]第三模块，用于控制测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或所在列的电流，以使发光探测元件工作在探测模式
。
[0030]第四方面，本专利技术实施例提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕的系统，包
括基于发光探测一体化器件的屏幕以及与基于发光探测一体化器件的屏幕连接的计算机设备；其中，
[0031]基于发光探测一体化器件的屏幕，用于进行发光或探测光强；
[0032]计算机设备包括：
[0033]至少一个处理器；
[0034]至少一个存储器，用于存储至少一个程序；
[0035]当至少一个程序被至少一个处理器执行，使得至少一个处理器实现如上所述的方法
。
[0036]实施本专利技术实施例包括以下有益效果：本实施例采用发光与探测一体化的叠层器件，提高了发光效率，增强本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种基于发光探测一体化器件的屏幕，其特征在于，包括若干个发光探测元件
、
数据线控制电路
、
扫描线控制电路
、
测试漏端控制电路和测试源端控制电路；所述发光探测元件包括发光与探测一体化的叠层器件和薄膜晶体管控制模块；若干个所述发光探测元件组成阵列，每个所述发光探测元件的四个端口分别与所述数据线控制电路
、
所述扫描线控制电路
、
所述测试漏端控制电路和所述测试源端控制电路连接，其中，所述发光探测元件，用于发光或探测光强；所述数据线控制电路，用于控制阵列中行或列的发光探测元件；所述扫描线控制电路，用于控制阵列中列或行的发光探测元件；所述扫描线控制电路和所述数据线控制电路中一个电路控制行的发光探测元件
、
另一个电路控制列的发光探测元件；所述测试源端控制电路，用于为阵列中的发光探测元件提供工作电压；所述测试漏端控制电路，用于测量阵列中的电流
。2.
根据权利要求1所述的基于发光探测一体化器件的屏幕，其特征在于，所述发光与探测一体化的叠层器件包括第一电源端
、
源端
、
漏端和透明电极；所述薄膜晶体管控制模块包括第一端口
、
第二端口
、
第三端口和第二电源端；所述第三端口与所述透明电极连接；所述第一端口与所述数据线控制电路连接，所述第二端口与所述扫描线控制电路连接，所述源端与所述测试源端控制电路连接，所述漏端与所述测试漏端控制电路连接
。3.
根据权利要求2所述的基于发光探测一体化器件的屏幕，其特征在于，所述第二电源端与所述第一电源端的电压差的范围为
4V
至
8V。4.
一种基于发光探测一体化器件的屏幕的控制方法，其特征在于，应用于如权利要求1‑3任一项所述的基于发光探测一体化器件的屏幕，包括：控制所述数据线控制电路和所述扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件的工作模式；所述工作模式包括发光模式和探测模式；控制所述数据线控制电路和所述扫描线控制电路为阵列中预设行或预设列的发光探测元件提供工作电压，以使发光探测元件工作在发光模式；和
/
或，控制所述测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制所述测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或所在列的电流，以使发光探测元件工作在探测模式
。5.
根据权利要求4所述的基于发光探测一体化器件的屏幕的控制方法，其特征在于，发光模式下的控制方法，具体包括：控制所述数据线控制电路为所述薄膜晶体管...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘川，李乘霖，
申请(专利权)人：中山大学，
类型：发明
国别省市：