【技术实现步骤摘要】
一种限位装置及电子束检测设备
[0001]本技术涉及电子束检测
,尤其涉及一种限位装置及电子束检测设备
。
技术介绍
[0002]在电子束检测领域,器件尺寸不断缩小,晶圆上缺陷的尺寸也变得越来越小,缺陷检测变得更加的困难
。
电子束检测设备克服了光学波长的限制,且由于其优异的分辨率和检测精度,成为下一代制程
(7nm/5nm)
的检测不可或缺的手段,工件台是电子束检测设备的核心部件之一,为晶圆提供水平向精密定位功能
。
限位装置是工件台必不可少的装置,为工件台提供水平向限位功能
。
在电子束检测装备中,限位装置在真空环境下工作,限位装置的放气率影响检测精度
。
[0003]目前,限位装置包括导向块和底座,底座设置有用于导向的阶梯孔,阶梯孔包括大径孔和小径孔,导向块设置有大径段和小径段,大径段滑动连接于大径孔,小径段滑动连接于小径孔
。
但是为了保证导向块的移动精度,大径段的外壁与大径孔的外壁之间的间隙往往在几个微米内,大径段与阶梯孔的阶梯面之间形成腔室,腔室内的残留空气很难被有效排出,这些残留气体会在设备运行时慢慢被释放,放气率较高,从而在真空环境下影响设备的精密性和稳定性
。
[0004]基于此,亟需一种限位装置及电子束检测设备,以解决上述存在的问题
。
技术实现思路
[0005]基于以上所述,本技术的目的在于提供一种限位装置及电子束检测设备,降低限位装置的放气率,提高电
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种限位装置,其特征在于,底座
(1)
,所述底座
(1)
设置有沿一个方向延伸的导向部
(11)
,所述导向部
(11)
内设置有沿轴向延伸且贯通所述底座
(1)
的阶梯孔
(111)
,所述阶梯孔
(111)
包括大径孔
(1111)
和小径孔
(1112)
,所述大径孔
(1111)
与所述小径孔
(1112)
之间设置有阶梯面
(1113)
,所述阶梯孔
(111)
的侧壁设置有沿径向延伸的第一导气孔
(112)
,所述第一导气孔
(112)
位于所述大径孔
(1111)
与所述小径孔
(1112)
衔接处,且贯通所述导向部
(11)
外壁;衬套
(2)
,所述衬套
(2)
包括依次连接的第一限位部
(23)、
中间部
(27)
和第二限位部
(24)
,所述中间部
(27)
滑动连接于所述小径孔
(1112)
内,所述第一限位部
(23)
滑动连接于所述大径孔
(1111)
内,且所述第一限位部
(23)
能够抵接于所述阶梯面
(1113)
,所述第二限位部
(24)
能够抵接于所述小径孔
(1112)
远离所述大径孔
(1111)
一端的端面;弹性件
(3)
,其设置于所述底座
(1)
和所述第二限位部
(24)
之间,所述弹性件
(3)
用于驱动所述第二限位部
(24)
向远离所述底座
(1)
的方向移动
。2.
根据权利要求1所述的限位装置,其特征在于,所述中间部
(27)
和所述第二限位部
(24)
一体成型,所述第一限位部
(23)
包括锁紧螺钉
(25)
和垫片
(26)
,所述垫片
(26)
设置有通孔,所述中间部
(27)
靠近所述第一限位部
(23)
的一端设置有螺纹孔,所述锁紧螺钉
(25)
穿设于所述通孔并螺纹连接于所述螺纹孔,所述垫片
(26)
滑动连接于所述大径孔
(1111)
且能够抵接于所述阶...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈啸虎,江旭初,周羽,雒佳,
申请(专利权)人:上海隐冠半导体技术有限公司,
类型:新型
国别省市:
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