【技术实现步骤摘要】
一种中长波红外偏振探测器及其制备方法
[0001]本专利技术涉及红外探测
,尤其涉及一种中长波红外偏振探测器及其制备方法
。
技术介绍
[0002]Te
纳米线是一种新兴的元素范德华
(vdWs)
半导体,具有许多有趣的光电性质,在新型光电探测器件中显示出巨大应用潜力
。
准一维
Te
纳米线的本征结构具有各向异性,其中红外及太赫兹波段呈现出偏振相关光响应的特点
(Xin Wei,Shiyao Wang,Nannan Zhang,Yubin Li,Yue Tang,Hongmei Jing,Jiangbo Lu,Zhuo Xu,Hua Xu.Single
‑
Orientation Epitaxy of Quasi
‑
1DTellurium Nanowires on M
‑
Plane Sapphire for Highly Uniform Polarization Sensitive Short
‑
Wave Infrared Photodetection.Advanced Functional Materials,2023.https://doi.org/10.1002/adfm.202300141.)。
使用化学气相沉积法或物理气相沉积法,通过控制合适的制备条件,可获得单取向的
Te
纳米线
。
然而由于
Te
纳 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种中长波红外偏振探测器,其特征在于,所述的探测器具备如下器件结构:硅衬底上覆盖有
SiO2介质层,
SiO2介质层上设有第一锰钴镍氧薄膜台面和第二锰钴镍氧薄膜台面;第一锰钴镍氧薄膜台面与
SiO2介质层之间设有
Ti/Au
底反射层及延展电极,第一锰钴镍氧薄膜台面上设有
Cr/Au
周期性金属方盘阵列,所述的
Cr/Au
周期性金属方盘阵列的四周设有
Cr/Au/Cr
环状顶电极;第二锰钴镍氧薄膜台面上设有
Ti/Au/Ti
侧边延展金电极;所述的
Cr/Au/Cr
环状顶电极与
Ti/Au/Ti
侧边延展金电极之间以自支撑方式搭附有
Te
纳米线;
Ti/Au
底反射层及延展电极与
Ti/Au/Ti
侧边延展金电极连接有电学引线;所述的硅衬底上制备有硅微桥,所述的硅微桥位于第一锰钴镍氧薄膜台面的下方
。2.
根据权利要求1所述的中长波红外偏振探测器,其特征在于,第一锰钴镍氧薄膜台面与第二锰钴镍氧薄膜台面的间距为5‑
10
μ
m。3.
根据权利要求1所述的中长波红外偏振探测器,其特征在于,膜台面的边长为
40
‑
100
μ
m
;
Cr/Au
周期性金属方盘的周期为8μ
m
,周期数为
(5
×
5)
‑
(12
×
12)
,边长为
2.8
‑4μ
m。4.
根据权利要求1‑3任一项所述的中长波红外偏振探测器,其特征在于,第一锰钴镍氧薄膜台面的厚度为
1.5
‑2μ
m。5.
根据权利要求1所述的中长波红外偏振探测器,其特征在于,所述的
SiO2介质层厚度为
300nm
;
Ti/Au
底反射层及延展电极中,
Ti
膜层与
Au
膜层的厚度分别为
30nm
与
100nm
;
Cr/Au
周期性金属方盘中,
Cr
膜层与
Au
膜层的厚度分别为
20nm
与
80nm
;
Cr/Au/Cr
环状顶电极中,
Cr
膜层
、Au
膜层与
Cr
膜层的厚度分别为
30nm、100nm
与
30nm
;
Ti/Au/Ti
侧边延展金电极中,
Ti
膜层
、Au
膜层与
Ti
膜层的厚度分别为
30nm、100nm
与
30nm。6.
根据权利要求1所述的中长波红外偏振探测器,其特征在于,所述的
Te
纳米线的长度为
20
‑
30
μ
m。7.
根据权利要求1所述的中长波红外偏振探测器,其特征在于,第一锰钴镍氧薄膜台面的厚度为
1.5
μ
m
,第一锰钴镍氧薄膜台面与第二锰钴镍氧薄膜台面的间距为5μ
m
,第一锰钴镍氧薄膜台面的边长为
40
μ
m
,
Cr/Au
周期性金属方盘的周期为8μ
m
,
Cr/Au
周期性金属方盘的周期数为5×5,
Cr/Au
周期...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄志明,陈世杰,周炜,高艳卿,郑国彬,陈杭,江林,姚娘娟,
申请(专利权)人:国科大杭州高等研究院,
类型:发明
国别省市:
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