本发明专利技术公开了一种ＣＣＤ式的光学品质测量装置，该装置以一数字式的视觉装置将影像讯号传送至计算机，经特性化系数的转换，将影像的像素读值转换成具光度单位的辉度读值与ＣＩＥ１９３１的ｘ与ｙ读值。本发明专利技术经一特性化的比对系数修正后即可与任一辉度、色度计进行数据比对，为一白光平面发光源的辉度、色度与均匀性的光学品质是否符合标准的测量装置，适合应用在研发单位的产品开发实验室与生产在线，快速的检出全画面光学性能与品质程度，缩短产品设计周期与降低随机性与批次性不良的风险。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光学品质测量装置，具体的涉及一种CCD式的光学品质测量装置。
技术介绍
LCD (Liquid Crystal Display，液晶显示器)由 BLU (Back Light Unit，背光模块)作为发光源并以LCM(Liquid Crystal Module，液晶模块)显像，发光源的光学品质(例如 辉度、色度，均勻度，MURA)直接影响LCD的性能。一般的辉度、色度计仅能单点量测，或是 搭配X-Y table逐点量测，此种量测方式需花费时间且不符合量产效益更无法全面的对发 光源进行品质管控。IXD的各零组件的材料及结构决定了该IXD的辉度、色度及均勻性的表现，有效 率且全面性的检出LCD的光学品质，及时发现问题并解决，对制造商与使用者兼具有双赢 的优势。以LCD内的BLU发光源为例，目前多半使用单点量测的辉度、色度计并搭配一 X-Y table作为光学品质的检测装置，经人工操作定位后并依VESA (Video Electronics Standards Association,视讯电子标准协会)规范的量测点数与位置对该BLU进行逐点量 测，此种检测方式费时且因需经人工定位而有被测点重复性与再现性是否一致的疑虑。由 于检测时间长，且无法对整个发光源做整面性的量测，虽然可以进行随机抽样但仍会出现 有问题的区域不落在VESA量测点位置的风险，无法真正有效率对品质把关并降低批量性 或随机性不良的风险。
技术实现思路
为克服现有技术的不足，本专利技术要解决的技术问题是提供一种CCD式的光学品质 测量装置，该装置可快速的检测出数字取像子系统视角内的平面光源的光学品质。为解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案一种CXD式的光学品质测量装置，包括有一可更换镜头的数字取像子系统，所 述数字取像子系统包含一 CCD (Charge Couple Device,电荷耦合组件)camera,所述CCD camera上设有多组成像镜头，所述数字取像子系统与一计算机的数字讯号接口形成一单向 的数据传送路径。进一步的，所述计算机的硬盘中含有一辉度运算子系统、色度运算子系统与均勻 性运算子系统，此三项子系统由一人机接口管理并做为一白光平面光源的光学品质测量装 置的操作平台。进一步的，所述数字取像子系统安装在一可调整高度的支架上，所述支架安装在 一可承载大小为1”_27”的平面发光源的基座上。优选的，所述支架可根据所述基座上平面光源机构的厚度，来调整所述成像镜头 的前缘与待测物表面的相对距离为30或65厘米。进一步的，所述辉度运算子系统以一白光平面光源为参考并选择较均勻的区域建立像素与辉度的特性化转换系数，转换结果由人机接口立即显示。进一步的，所述色度运算子系统将数字取像子系统的RGB读值经一特性化矩阵转 换成CIE1931的χ与y，转换结果由人机接口立即显示。进一步的，所述均勻性运算子系统以一彩色图形显示均勻性分布，依VESA定义的 均勻性表示式由人机接口做定量显示。进一步的，所述人机接口管理平台供使用者依其量测需求在此接口 设定量测参数 与品质的允收范围，比较的结果若落在品质的允收范围内则为良品，反之为NG品。本专利技术以一数字式的视觉装置将影像讯号传送至计算机，经特性化系数的转换， 将影像的像素读值(digital count)转换成具光度(photometry)单位的辉度读值(nits) 与 CIE(International Commission on Illumination，国际照明委员会)1931 的 χ 与 y 读 值。本专利技术经一特性化的比对系数修正后即可与任一辉度、色度计进行数据比对，为一平面 发光源的辉度(Luminance)、色度(Chromatic)与均勻性(Uniformity)的光学品质是否符 合标准的测量装置，适合应用在研发单位的产品开发实验室与生产在线，快速的检出全画 面光学性能与品质程度，缩短产品设计周期与降低随机性与批次性不良的风险。本专利技术的装置的人机接口定性的提供彩色图形显示均勻性分布，亦定量的显示光 学性能的数值，当待测物的光学性能超出品质规范的设定——即为品质不良(NG)，当NG数 超过厂内规范则立即停线进行异常排除程序，降低厂内损失与防堵NG产品流至客户端。本专利技术的CCD式光学品质测量装置具低成本与操作简易的优点，以更换镜头的方 式并不需搭配X-Y table即可检出大小为1”-32”的平面光源，量测前不需经人工方式进行 选点与定位，通过数字取像子系统的智能处理即可以自动或半自动模式定义出量测点的分 布。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段， 并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。 本专利技术的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。附图说明图1是本专利技术的一种CXD式的光学品质测量装置的结构示意图。图2是本专利技术的辉度运算子系统示意图。图3是本专利技术的色度运算子系统示意图。图4是本专利技术的均勻性运算子系统示意图。图5是VESA定义的5点、9点、13点与25点的量测位置与位置定义规则之示意图。图6是本专利技术的人机界面示意图。具体实施例方式下面结合附图，对本专利技术的优选实施例进行详细的介绍。请参考图1所示，为本专利技术的一种CCD式的光学品质测量装置的结构示意图，本发 明的一种CCD式的光学品质测量装置包括有一可更换镜头的数字取像子系统，所述数字取 像子系统包含一 CXD camera 13，所述CXD camerl3上设有多组成像镜头14 (图标仅以一镜 头图标标示)，所述数字取像子系统与一计算机15的数字讯号接口形成一单向的数据传送路径。图2为本专利技术的辉度运算子系统，其储存于所述计算机15的硬盘(未标示于图中)内，该子系统由一白光平面光源为参考，经Gamma数学函数修正CCDcamera 13的线性 度后并选择发光源较均勻的区域建立像素与辉度的特性化转换系数(未标示于图中)，此 系数亦同时修正CXD camera 13经成像镜头14成像后的中间亮旁边暗21的现象，如均勻 的面(不均勻性< 4% )22所示。图3为本专利技术的色度运算子系统，其储存于所述计算机15的硬盘(未标示于图 中)内，由一特性化转换矩阵32(图中矩阵的维度仅为参考)将CCDcamera 13的RGB读值 33转换成辉、色度计的χ与y读值31 (此特性化转换矩阵的系数依CXD camera^与成像镜 头14的特性不同而不同)。图4为本专利技术的均勻性运算子系统，其依VESA定义的均勻性计算方式以一彩色图 形显示其均勻性分布，其中VESA定义的5点、9点、13点与25点的量测位置分别如图5的 51、52、53、54所示，点数若不在此范围(例如36点、49点或100点)则依VESA的量测点 位置定义规则类推。图6为本专利技术的人机界面示意图，其为一执行文件并以窗口方式显示，储存于所 述计算机15的硬盘(未标示于图中)，图6(a)包含有一影像显示组件61、一均勻性图形显 示组件62、一辉度、色度与均勻性数值显示组件63、一 CIE 1931色度图形组件64、一直方图 显示组件65与一品质判定组件66和MURA显示组件67。其中影像显示组件61，显示数字 取本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种ＣＣＤ式的光学品质测量装置，其特征在于：包括一可更换镜头的数字取像子系统；所述数字取像子系统包含一ＣＣＤｃａｍｅｒａ，所述ＣＣＤｃａｍｅｒａ上设有多组成像镜头；所述数字取像子系统安装在一可调整高度的支架上；所述支架安装在一可承载大小为１”－２７”的平面发光源的基座上；所述数字取像子系统与一计算机连接；所述计算机的硬盘中含有一辉度运算子系统、一色度运算子系统与一均匀性运算子系统，此三项子系统由一人机接口管理并做为一白光平面光源的光学品质测量装置的操作平台。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：许照林，
申请(专利权)人：苏州富鑫林光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]
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