一种制造技术

本发明专利技术公开了一种

【技术实现步骤摘要】
一种
γ
射线吸收和激光测厚混合的高精度厚度测量装置


[0001]本专利技术属于固体厚度测量
，具体涉及一种
γ
射线吸收和激光测厚混合的高精度厚度测量装置
。

技术介绍

[0002]在薄膜
、
纸张
、
涂料和钢板等生产过程中，需要对厚度进行精准测量和控制
。
实现无损
、
高精度的厚度测量，可以提高生产效率，实现高经济效益
。
现有相关技术中，测量方法包括激光测量法
、
超声波测量法
、
磁感应法和射线测量法等
。
其中激光测厚法使用两个激光位移传感器的激光对射，被测体放置在对射区域内，根据测量被测体上表面和下表面的距离，计算出被测体的厚度
。
射线测厚法利用射线透过样品的衰减规律，得到不同厚度与透射射线强度的关系，从而实现厚度测量
。
上述方案中，激光测厚法和射线测厚法测量精度优于目前存在的其他方法，测量精度可以达到
0.05<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
γ
射线吸收和激光测厚混合的高精度厚度测量装置，包括探测装置支撑架
(10)
，其特征在于：所述探测装置支撑架
(10)
上螺纹连接有高精度剪式三轴位移平台
(9)
，探测装置支撑架
(10)
上设置有样品支撑架
(12)
，所述高精度剪式三轴位移平台
(9)
上螺纹连接有探测器支架
(8)
，所述探测器支架
(8)
的上方设置有样品放置架
(4)
，所述样品放置架
(4)
的上方设置有射线源放置架
(3)
，所述射线源放置架
(3)
设置有
γ
射线源
(2)
，射线源放置架
(3)
上螺纹连接有滚珠丝杆直线滑块
(1)
，所述射线源放置架
(3)
和样品放置架
(4)
上分别设置有第一激光位移传感器
(5)
和第二激光位移传感器
(6)
，所述探测器支架
(8)
的顶部设置有
CZT
探测器
(7)
，所述滚珠丝杆直线滑块
(1)
的后侧螺纹连接探测装置支撑架
(10)。2.
根...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕亮亮，李公平，刘军涛，潘小东，张正宏，
申请(专利权)人：兰州大学，
类型：发明
国别省市：