一种图像传感器图像坏点的校正装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及图像处理技术领域，特别是涉及一种图像传感器图像坏点的校正装置

【技术实现步骤摘要】
一种图像传感器图像坏点的校正装置、方法、设备及介质


[0001]本专利技术涉及图像处理
，特别是涉及一种图像传感器图像坏点的校正装置
、
方法
、
设备及介质
。

技术介绍

[0002]图像传感器由于制造工艺的原因，使得在某些位置出现坏点，并在使用的过程中也会不断的产生新的坏点
。
图像传感器的坏点是指不随感光变化，始终呈现一种颜色的像素点
。
如果不进行坏点校正，会由于颜色差值导致生成的图像质量下降
。
动态坏点校正方法是基于图像在领域内的颜色相关性和空间相关性，预测出中心像素点像素值的正常范围，若是实际值超出正常范围则判断其为坏点
。
现有动态坏点校正方法用于存储数据的缓存空间较大，增加了图像传感器芯片的面积和功耗
。
因此，存在待改进之处
。

技术实现思路

[0003]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种图像传感器图像坏点的校正装置
、
方法
、
设备及介质，改善现有图像传感器芯片面积和功耗较大的问题
。
[0004]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种图像传感器图像坏点的校正装置，包括：
[0005]至少一个随机存储器，用以存放图像传感器的像素阵列，所述像素阵列包括多个像素点；以及
[0006]主控制器，电连接于所述随机存储器，所述主控制器包括：
[0007]读取模块，用以读取所述像素阵列中每一行像素点的像素值和待定标志；
[0008]写入模块，用以根据不同行中相邻像素点之间的像素差值和预设像素阈值的关系，向所述随机存储器写入当前行像素点对应的像素值和待定标志；
[0009]处理器模块，用以根据待测像素点与相邻像素点之间的像素差值与所述像素阈值的比较结果，以保持所述待测像素点的像素值为原像素值，或者校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值
。
[0010]在本专利技术的一个实施例中，所述处理器模块用以获取所述检测行中像素点的像素值时，读取第一参考行中像素点的像素值；
[0011]所述处理器模块还用以对于所述检测行中的待测像素点，计算其与所述第一参考行和所述检测行中相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于所述像素阈值的待测像素点添加待定标志，并通过所述写入模块向所述随机存储器写入所述检测行中像素点对应的像素值和待定标志，其中，所述待测像素点位于所述检测行中；
[0012]其中，所述第一参考行
、
所述检测行和所述第二参考行是按先后顺序排列的三行
。
[0013]在本专利技术的一个实施例中，所述处理器模块用以获取第二参考行中像素点的像素值时，读取所述检测行中像素点对应的像素值和待定标志；
[0014]所述处理器模块还用以获取第二参考行中像素点的像素值时，计算出所述检测行
中待测像素点与相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于所述像素阈值的所述待测像素点添加校正标志，将所述待测像素点添加校正标志；
[0015]所述处理器模块还用以统计出同时具有所述待定标志和所述校正标志的待测像素点，校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值
。
[0016]在本专利技术的一个实施例中，所述处理器模块用以在所述第一参考行及所述检测行的像素阵列中，计算出与行相邻
、
列相邻及对角相邻的像素点之间的像素差值大于等于所述像素阈值的所述待测像素点，通过所述写入模块向所述随机存储器写入待定标志
。
[0017]在本专利技术的一个实施例中，所述处理器模块用以在所述第一参考行和所述检测行中，计算出大于等于相邻像素点像素值，且与相邻像素点之间的像素差值大于等于预设亮阈值的所述待测像素点，通过所述写入模块向所述随机存储器写入待定亮坏点标志；
[0018]所述处理器模块还用以计算出小于相邻像素点的像素值，且与相邻像素点之间的像素差值大于等于预设暗阈值的所述待测像素点，通过所述写入模块向所述随机存储器写入待定暗坏点标志
。
[0019]在本专利技术的一个实施例中，所述处理器模块用以在所述第一参考行和所述检测行中，计算出与所述参考行中的相邻像素点的像素差值大于等于所述像素阈值，且与所述检测行中的部分相邻像素点之间的像素差值大于等于所述像素阈值的所述待测像素点，通过所述写入模块向所述随机存储器写入像素点对应的像素值和待定标志；
[0020]所述处理器模块还用以在所述检测行和所述第二参考行中，计算出与所述校正行中的相邻像素点的像素差值大于等于所述像素阈值，且与所述检测行中的其余相邻像素点之间的像素差值大于等于所述像素阈值的所述待测像素点，添加校正标志
。
[0021]本专利技术还提出一种图像传感器图像坏点的校正方法，包括：
[0022]通过随机存储器，存放图像传感器的像素阵列，所述像素阵列包括多个像素点；
[0023]通过写入模块，根据不同行中相邻所述像素点之间的像素差值和预设像素阈值的关系，向所述随机存储器写入像素点对应的像素值和待定标志；
[0024]通过读取模块，读取所述像素阵列中每一行所述像素点的像素值和所述待定标志；以及
[0025]通过处理器模块，根据待测像素点与相邻像素点之间的像素差值与所述像素阈值的比较结果，以保持所述待测像素点的像素值为原像素值，或者校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值
。
[0026]在本专利技术的一个实施例中，所述通过处理器模块，根据待测像素点与相邻像素点之间的像素差值与所述像素阈值的比较结果，以保持所述待测像素点的像素值为原像素值，或者校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值的步骤，包括：
[0027]选取按照先后顺序排列的第一参考行
、
检测行和第二参考行；
[0028]在获取所述检测行中像素点的像素值时，读取所述第一参考行中像素点的像素值；
[0029]对于所述检测行中的待测像素点，计算其与所述第一参考行和所述检测行中相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于所述像素阈值的待测像素点添加待定标志，通过所述写入模块向所述随机存储器写入检测行中像素点对应的像素值和待定标志；
[0030]在获取所述第二参考行中像素点的像素值时，读取所述检测行中像素点对应的像
素值和待定标志；
[0031]获取所述第二参考行中像素点的像素值时，计算出所述检测行中的待测像素点与相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于所述像素阈值的待测像素点添加校正标志；
[0032]统计出同时具有所述待定标志和所述校正标志的待测像素点，校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值
。
[0033]本专利技术还提出一种计算机设备，包括存储器
、
处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种图像传感器图像坏点的校正装置，其特征在于，包括：至少一个随机存储器，用以存放图像传感器的像素阵列，所述像素阵列包括多个像素点；以及主控制器，电连接于所述随机存储器，所述主控制器包括：读取模块，用以读取所述像素阵列中每一行像素点的像素值和待定标志；写入模块，用以根据不同行中相邻像素点之间的像素差值和预设像素阈值的关系，向所述随机存储器写入当前行像素点对应的像素值和待定标志；处理器模块，用以根据待测像素点与相邻像素点之间的像素差值与所述像素阈值的比较结果，以保持所述待测像素点的像素值为原像素值，或者校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值
。2.
根据权利要求1所述的图像传感器图像坏点的校正装置，其特征在于，所述处理器模块用以获取所述检测行中像素点的像素值时，读取第一参考行中像素点的像素值；所述处理器模块还用以对于所述检测行中的待测像素点，计算其与所述第一参考行和所述检测行中相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于所述像素阈值的待测像素点添加待定标志，并通过所述写入模块向所述随机存储器写入所述检测行中像素点对应的像素值和待定标志，其中，所述待测像素点位于所述检测行中；其中，所述第一参考行
、
所述检测行和所述第二参考行是按先后顺序排列的三行
。3.
根据权利要求2所述的图像传感器图像坏点的校正装置，其特征在于，所述处理器模块用以获取第二参考行中像素点的像素值时，读取所述检测行中像素点对应的像素值和待定标志；所述处理器模块还用以获取第二参考行中像素点的像素值时，计算出所述检测行中待测像素点与相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于所述像素阈值的所述待测像素点添加校正标志；所述处理器模块还用以统计出同时具有所述待定标志和所述校正标志的待测像素点，校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值
。4.
根据权利要求2所述的图像传感器图像坏点的校正装置，其特征在于，所述处理器模块用以在所述第一参考行及所述检测行的像素阵列中，计算出与行相邻
、
列相邻及对角相邻的像素点之间的像素差值大于等于所述像素阈值的所述待测像素点，通过所述写入模块向所述随机存储器写入待定标志
。5.
根据权利要求2所述的图像传感器图像坏点的校正装置，其特征在于，所述处理器模块用以在所述第一参考行和所述检测行中，计算出大于等于相邻像素点像素值，且与相邻像素点之间的像素差值大于等于预设亮阈值的所述待测像素点，通过所述写入模块向所述随机存储器写入待定亮坏点标志；所述处理器模块还用以计算出小于相邻像素点的像素值，且与相邻像素点之间的像素差值大于等于预设暗阈值的所述待测像素点，通过所述写入模块向所述随机存储器写入待定暗坏点标志
。6.
根据权利要求4所述的图像传感器图像坏点的校正装置，其特征在于，所述处理器模...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏国，李雪剑，尹翔，张志存，范春晖，刘正，
申请(专利权)人：合肥海图微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：