一种制造技术

技术编号:39569534 阅读:28 留言:0更新日期:2023-12-03 19:20
本发明专利技术涉及一种

【技术实现步骤摘要】
一种LCD点阵驱动集成电路的低成本测试电路及方法


[0001]本专利技术涉及电路
,特别涉及测试电路及测试方法
,具体是指一种
LCD
点阵驱动集成电路的低成本测试电路及方法


技术介绍

[0002]LCD
(液晶显示)是目前市场上应用规模极大的显示电路,为了提高显示的对比度,驱动波形通常用
1/3 BAIS
(偏置)电压,也就是驱动波形有三个电压台阶

对于这种周期性的

三个台阶的电压,现有技术中一般用商用数字
ATE
(自动化测试仪)来测试其逻辑关系以及驱动波形的电压台阶分布

由于
LCD
驱动电路驱动管脚数量较多,需要较多的
ATE
管脚测试资源,一般
ATE
只能做到1工位或2工位,严重影响测试效率和测试产能

又由于驱动波形是周期性扫描的,不能静态停止,精确测试驱动波形的电压台阶较为困难

[0003]所以,目前针对<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
LCD
点阵驱动集成电路的低成本测试电路,其特征在于,包括:
MCU
模块;电源模块,由所述的
MCU
模块控制向被测电路供电;电平转换电路,从所述的电源模块获得供电,由所述的
MCU
模块控制向所述的被测电路写入控制指令及显示数据;所述的
MCU
模块还通过该电平转换电路读取所述被测电路中的数据用以校验与写入的是否相同;逻辑关系测试模块,从所述的被测电路的
COM
管脚和
SEG
管脚获得驱动波形,将所述的驱动波形转换为二值化波形并送至所述的
MCU
模块;并利用比较电压测试所述被测电路的
COM
管脚和
SEG
管脚的逻辑关系;波形台阶测试电路,用以对所述的被测电路的
COM
管脚的台阶电压进行测试
。2.
根据权利要求1所述的
LCD
点阵驱动集成电路的低成本测试电路,其特征在于,所述的电源模块为可编程电源,该可编程电源包括
12 BIT DAC
和线性稳压电路,该可编程电源向所述的被测电路和所述的电平转换电路的提供精确电源
。3.
根据权利要求1所述的
LCD
点阵驱动集成电路的低成本测试电路,其特征在于,所述的逻辑关系测试模块包括比较器阵列,该比较器阵列的高低比较电平通过所述的
12 BIT DAC
确定
。4.
根据权利要求3所述的
LCD
点阵驱动集成电路的低成本测试电路,其特征在于,所述的逻辑关系测试模块包括还包括锁存器阵列,该锁存器阵列用于在所述的
COM
管脚和
SEG
管脚的高低电平判定时刻,同时锁定
32

SEG
管脚的电平,
32

SEG
管脚分为8个组,高低电平各4组,利用译码器选择所述8组中的任意一组测试
COM
管脚和
SEG
管脚的逻辑关系
。5.
根据权利要求1所述的
LCD
点阵驱动集成电路的低成本测试电路,其特征在于,所述的波形台阶测试电路包括采样保持电路和
16 BIT ADC
,实现了
COM

SEG
的驱动波形的的台阶电压测试,在
COM
管脚波形的高电平判定时刻,所述的
MCU
模块控制所述的采样保持电路瞬间采样第一台阶电压值且一直将该
COM
管脚电平稳定保持,所述的
MCU
模块控制所述的
16 BIT ADC
采样并读取该
COM
管脚的台阶电压;在完成所述第一台阶电压测试后,在
COM
管脚波形的高电平判定时刻,延时
t
时间,进行第二台阶电压测试,在完成该第二台阶电压测试后,在
COM
管脚波形的高电平判定时刻,延时
t
时间,进行第三台阶电压测试
。6.
一种
LCD
点阵驱动集成电路的低成本测试方法,其特征在于,该方法应用于权利要求1所述的
LCD
点阵驱动集成电路的低成本测试电路,所述的方法包括:
MCU
模块控制电源模块向被测电路及电平转换电路供电;所述的
MCU

【专利技术属性】
技术研发人员:王兵王美娟王国鹏汪芳陆小杰孙思兵
申请(专利权)人:无锡力芯微电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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