一种显示面板及显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种显示面板及显示装置，将测试焊盘设置在圆形显示面板内的驱动芯片绑定区内，这样测试焊盘与显示区内信号线连接的测试走线在显示面板内部完成连接，在电学测试完成后，由于测试焊盘及测试走线设置在显示面板内部，在对显示面板母板进行切割时可以避免测试走线被切割，因此切割时不会切割到测试走线，从而避免了常规圆形显示面板在切割后导致测试走线在断口位置发生电学腐蚀的问题

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板及显示装置


[0001]本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示面板及显示装置
。

技术介绍

[0002]在显示面板的制程工艺中，由于设计
、
制作设备及环境的问题，将不可避免的产生一些存在显示问题的面板
(Panel)。
因此在显示面板母板制备完成之后，需要对其进行不良检测，该不良检测包括电学测试
(
英文：
Electric Test
；简写：
ET)。
而后对显示面板母板进行切割，制成显示面板
。
这种电学测试是在未贴附
IC
的情况下进行的，通过给
ET Pad
输入模拟
IC
的电信号，
ET Pad
通过走线连接到
Panel
内部，检测
Panel
能否正常点亮，显示效果是否存在问题，从而通过电学手段检测面板制程中出现的不良品，及时检出不良品，避免不良品流入后段工序造成浪费
。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供的一种显示面板及显示装置，用以解决现有的异形显示面板在完成
ET
测试后，
ET
走线被切割导致
ET
走线的切口位置受到电学腐蚀，该走线上的电学腐蚀会延伸至显示面板的内部，导致显示面板的显示效果较差的问题
。
[0004]本专利技术实施例提供的一种显示面板，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述非显示区包括位于所述显示区一侧的驱动芯片绑定区；
[0005]所述驱动芯片绑定区包括：远离所述显示区设置的多个输入焊盘，靠近所述显示区设置的多个输出焊盘，以及设置在所述多个输入焊盘和所述多个输出焊盘之间的多个测试焊盘；所述多个测试焊盘用于在所述输入焊盘和所述输出焊盘与驱动芯片绑定之前向所述显示面板提供测试信号
。
[0006]可选地，在具体实施时，在本专利技术实施例提供的上述显示面板中，所述显示区包括沿行方向排列的多条数据线，所述驱动芯片绑定区还包括设置在所述多个测试焊盘和所述多个输出焊盘之间
、
且与所述数据线一一对应的测试开关；
[0007]所述多个测试焊盘包括数据信号测试焊盘和控制信号测试焊盘，所述控制信号测试焊盘与所述测试开关的控制端电连接，所述数据信号测试焊盘与所述测试开关的第一极电连接，所述测试开关的第二极与所述数据线电连接
。
[0008]可选地，在具体实施时，在本专利技术实施例提供的上述显示面板中，所述显示区还包括沿列方向排列的多条栅线，所述多条栅线和所述多条数据线绝缘交叉限定出多行多列不同颜色的子像素，同一列所述子像素与同一条所述数据线电连接，且同一条所述数据线电连接的各所述子像素的颜色相同；
[0009]所述数据信号测试焊盘的数量与所述子像素的颜色数量相同，相同颜色的各列所述子像素电连接的所述数据线通过对应的所述测试开关与同一所述数据信号测试焊盘电连接，不同颜色的各列所述子像素电连接的各所述数据线通过对应的所述测试开关与不同的所述数据信号测试焊盘电连接；
[0010]所有所述测试开关的控制端与同一所述控制信号测试焊盘电连接
。
[0011]可选地，在具体实施时，在本专利技术实施例提供的上述显示面板中，相同颜色的各列所述子像素电连接的所述测试开关位于同一行，不同颜色的各列所述子像素电连接的所述测试开关位于不同行；
[0012]所述驱动芯片绑定区还包括设置在所述多个测试焊盘和所述多个输出焊盘之间
、
且沿所述列方向排列的多条控制线，每一行所述测试开关的控制端与同一所述控制线电连接，不同行所述测试开关的控制端与不同的所述控制线电连接；
[0013]各所述控制线之间相互电连接，所述控制信号测试焊盘与任意所述控制线电连接
。
[0014]可选地，在具体实施时，在本专利技术实施例提供的上述显示面板中，所述驱动芯片绑定区还包括设置在所述多个测试焊盘和所述多条控制线之间
、
且沿所述列方向排列的多条数据传输线，相同颜色的各列所述子像素电连接的所述测试开关的第一极与同一条所述数据传输线电连接，不同颜色的各列所述子像素电连接的所述测试开关的第一极与不同的所述数据传输线电连接；
[0015]各所述数据传输线与所述数据信号测试焊盘一一对应电连接
。
[0016]可选地，在具体实施时，在本专利技术实施例提供的上述显示面板中，所述驱动芯片绑定区位于所述显示区沿所述列方向一侧的非显示区内，所述显示区沿所述行方向两侧的非显示区分别设置有栅极驱动电路；
[0017]所述多个测试焊盘还包括公共信号测试焊盘和扫描信号测试焊盘，所述公共信号测试焊盘与所述显示区的公共信号线电连接，所述扫描信号测试焊盘与所述栅极驱动电路的信号线电连接
。
[0018]可选地，在具体实施时，在本专利技术实施例提供的上述显示面板中，每一所述栅极驱动电路分别对应一组所述扫描信号测试焊盘，两组所述扫描信号测试焊盘对称分布在所述驱动芯片绑定区的中心区域两侧；
[0019]每一组所述扫描信号测试焊盘远离所述驱动芯片绑定区的中心区域一侧分别设置有所述公共信号测试焊盘；
[0020]所述数据信号测试焊盘和所述控制信号测试焊盘设置在两组所述扫描信号测试焊盘之间
。
[0021]可选地，在具体实施时，在本专利技术实施例提供的上述显示面板中，包括依次层叠设置的栅极金属层
、
第一绝缘层
、
源漏金属层
、
第二绝缘层和透明导电层，各所述测试焊盘包括层叠设置的第一导电部
、
第二导电部和第三导电部，所述第一导电部位于所述栅极金属层，所述第二导电部位于所述源漏金属层，所述第三导电部位于所述透明导电层；
[0022]所述第三导电部的中间区域通过贯穿所述第二绝缘层和所述第一绝缘层的过孔与所述第一导电部电连接，所述第三导电部的两侧区域通过贯穿所述第二绝缘层的过孔与所述第二导电部电连接
。
[0023]可选地，在具体实施时，在本专利技术实施例提供的上述显示面板中，所述多个输出焊盘包括多个第一输出焊盘以及位于所述多个第一输出焊盘沿所述行方向两侧的多个第二输出焊盘；
[0024]所述测试开关的第二极通过对应的所述第一输出焊盘与所述数据线电连接；
[0025]所述扫描信号测试焊盘通过第一走线与所述第二输出焊盘电连接，所述第二输出焊盘与所述栅极驱动电路的信号线电连接；
[0026]所述第一走线位于所述源漏金属层
。
[0027]可选地，在具体实施时，在本专利技术实施例提供的上述显示面板中，所述控制信号测试焊盘通过第二走线与所述控制线电连接，各所述数据信号测试焊盘分别通过第三走线与对应的所述数据传输线电连接；
[0028]所述控制线和所述数据传输线均位于所述栅极金属层，所述第二走线本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种显示面板，其特征在于，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述非显示区包括位于所述显示区一侧的驱动芯片绑定区；所述驱动芯片绑定区包括：远离所述显示区设置的多个输入焊盘，靠近所述显示区设置的多个输出焊盘，以及设置在所述多个输入焊盘和所述多个输出焊盘之间的多个测试焊盘；所述多个测试焊盘用于在所述输入焊盘和所述输出焊盘与驱动芯片绑定之前向所述显示面板提供测试信号
。2.
如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示区包括沿行方向排列的多条数据线，所述驱动芯片绑定区还包括设置在所述多个测试焊盘和所述多个输出焊盘之间
、
且与所述数据线一一对应的测试开关；所述多个测试焊盘包括数据信号测试焊盘和控制信号测试焊盘，所述控制信号测试焊盘与所述测试开关的控制端电连接，所述数据信号测试焊盘与所述测试开关的第一极电连接，所述测试开关的第二极与所述数据线电连接
。3.
如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示区还包括沿列方向排列的多条栅线，所述多条栅线和所述多条数据线绝缘交叉限定出多行多列不同颜色的子像素，同一列所述子像素与同一条所述数据线电连接，且同一条所述数据线电连接的各所述子像素的颜色相同；所述数据信号测试焊盘的数量与所述子像素的颜色数量相同，相同颜色的各列所述子像素电连接的所述数据线通过对应的所述测试开关与同一所述数据信号测试焊盘电连接，不同颜色的各列所述子像素电连接的各所述数据线通过对应的所述测试开关与不同的所述数据信号测试焊盘电连接；所有所述测试开关的控制端与同一所述控制信号测试焊盘电连接
。4.
如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，相同颜色的各列所述子像素电连接的所述测试开关位于同一行，不同颜色的各列所述子像素电连接的所述测试开关位于不同行；所述驱动芯片绑定区还包括设置在所述多个测试焊盘和所述多个输出焊盘之间
、
且沿所述列方向排列的多条控制线，每一行所述测试开关的控制端与同一所述控制线电连接，不同行所述测试开关的控制端与不同的所述控制线电连接；各所述控制线之间相互电连接，所述控制信号测试焊盘与任意所述控制线电连接
。5.
如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述驱动芯片绑定区还包括设置在所述多个测试焊盘和所述多条控制线之间
、
且沿所述列方向排列的多条数据传输线，相同颜色的各列所述子像素电连接的所述测试开关的第一极与同一条所述数据传输线电连接，不同颜色的各列所述子像素电连接的所述测试开关的第一极与不同的所述数据传输线电连接；各所述数据传输线与所述数据信号测试焊盘一一对应电连接
。6.
如权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述驱动芯片绑定区位于所述显示区沿所述列方向一侧的非显示区内，所述显示区沿所述行方向两侧的非显示区分别设置有栅极驱动电路；所述多个测试焊盘还包括公共信号测试焊盘和扫描信号测试焊盘，所述公共信号测试焊盘与所述显示区的公共信号线电连接，所述扫描信号测试焊盘与所述栅极驱动电路的信号线电连接
。7.
如权利要求6所述的显示面板，其特征在于，每一所述栅极驱动电路分别对应一组所
述扫描信号测试焊盘，两组所述扫描信号测试焊盘对称分布在所述驱动芯片绑定区的中心区域两侧；每一组所述扫描信号测试焊盘远离所述驱动芯片绑定区的中心区域一侧分别设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：石磊，安亚帅，张勇，于洪俊，葛杨，王先，关星星，马建威，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：