显示面板信赖性测试方法技术

本发明专利技术公开了一种显示面板信赖性测试方法

【技术实现步骤摘要】
显示面板信赖性测试方法、装置、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及显示面板测试
，尤其涉及一种显示面板信赖性测试方法
、
装置
、
电子设备和存储介质
。

技术介绍

[0002]显示面板在生产后，为了保证产品的可靠性，通常在正常使用环境下测试显示面板的各个功能，比如测试产品在正常使用环境下长时间使用后显示屏的画面质量是否发生变化等
。
[0003]然而，显示面板工作环境除了正常使用环境之外，还可能用于极端环境，比如高温高湿环境，在正常使用环境下测试显示面板无法保证所生产的显示面板在高温高湿环境下的使用品质，因此，需要一种在高温高湿环境下测试显示面板性能的方法，以保证显示面板在高温高湿环境下的使用品质
。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种显示面板信赖性测试方法
、
装置
、
电子设备和存储介质，以解决现有测试方法无法保证显示面板在高温高湿环境下的使用品质的问题
。
[0005]第一方面，本专利技术提供了一种显示面板信赖性测试方法，信赖性试验包括多个测试周期，包括：
[0006]确定待测试的显示面板的初始状态数据；
[0007]将所述显示面板放置于恒温恒湿测试设备中并计算测试时长；
[0008]在根据所述测试时长确定当前测试周期结束时，确定所述显示面板在当前测试周期结束后的状态数据，所述状态数据包括不良像素点数据和水分渗透图像；
[0009]在根据所述测试时长确定测试结束时，根据各个测试周期结束时所述显示面板的不良像素点数据和水分渗透图像生成所述显示面板的测试报告
。
[0010]第二方面，本专利技术提供了一种显示面板信赖性测试装置，信赖性试验包括多个测试周期，包括：
[0011]初始状态数据确定模块，用于确定待测试的显示面板的初始状态数据；
[0012]测试模块，用于将所述显示面板放置于恒温恒湿测试设备中并计算测试时长；
[0013]测试状态数据确定模块，用于在根据所述测试时长确定当前测试周期结束时，确定所述显示面板在当前测试周期结束后的状态数据；
[0014]测试报告生成模块，用于在根据所述测试时长确定测试结束时，根据各个测试周期结束时所述显示面板的状态数据生成所述显示面板的测试报告
。
[0015]第三方面，本专利技术提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0016]至少一个处理器；以及
[0017]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0018]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序
被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术第一方面所述的显示面板信赖性测试方法
。
[0019]第四方面，本专利技术提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术第一方面所述的显示面板信赖性测试方法
。
[0020]本专利技术实施例在确定待测试的显示面板的初始状态数据后，将显示面板放置于恒温恒湿测试设备中并计算测试时长，在根据测试时长确定当前测试周期结束时，确定显示面板在当前测试周期结束后的状态数据，状态数据包括不良像素点数据和水分渗透图像，在根据测试时长确定测试结束时，根据各个测试周期结束时显示面板的不良像素点数据和水分渗透图像生成显示面板的测试报告，实现了在恒温恒湿试验设备中模拟高温高湿环境对显示面板进行测试，并获取各个测试周期结束时显示面板的不良像素点数据和水分渗透图像，从而根据不良像素点数据和水分渗透图像生成显示面板的测试报告，以通过恒温恒湿测试来测试显示面板在高温高湿环境下的使用品质，提高显示面板在高温高湿环境下使用的可靠性
。
[0021]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围
。
本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解
。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0023]图1是本专利技术实施例一提供的一种显示面板信赖性测试方法的流程图；
[0024]图2是本专利技术实施例二提供的一种显示面板信赖性测试方法的流程图；
[0025]图3是本专利技术实施例中标记不良像素点的示意图；
[0026]图4是本专利技术实施例中对不良像素点分类的流程图；
[0027]图5是本专利技术实施例中水分浸入距离的示意图；
[0028]图6是本专利技术实施例三提供的一种显示面板信赖性测试装置的结构示意图；
[0029]图7是本专利技术实施例四提供的电子设备的结构示意图
。
具体实施方式
[0030]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例
。
基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围
。
[0031]实施例一
[0032]图1为本专利技术实施例一提供的一种显示面板信赖性测试方法的流程图，本实施例可适用于对显示面板在高温高湿环境下的使用性能进行测试的情况，该方法可以由显示面
板信赖性测试装置来执行，该显示面板信赖性测试装置可以采用硬件和
/
或软件的形式实现，该显示面板信赖性测试装置可配置于电子设备中，如图1所示，该显示面板信赖性测试方法包括：
[0033]S101、
确定待测试的显示面板的初始状态数据
。
[0034]本实施例的显示面板可以是通电后能够显示画面的半成品面板，当然也可以是成品显示面板，信赖性测试可以是测试显示面板在恒定温度和恒定湿度下的使用性能，待测试的显示面板可以是无破损和无短路不良像素点的显示面板
。
[0035]在对待测试的显示面板投入测试前，可以对显示面板通电，以在显示面板显示检测画面，并记录检测画面中的不良像素点，以作为显示面板的初始状态数据
。
示例性地，可以在显示面板先后显示彩色检测画面和白色检测画面，并在显示彩色检测画面时用第一符号
(
比如圆形
)
在显示面板上标记不良像素点，在显示白色检测画面时用第二符号
(
比如三角形
)
在显示面板上标记不良像素点，并将所标记的不良像素点添加初始状态符号
(本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种显示面板信赖性测试方法，其特征在于，信赖性试验包括多个测试周期，包括：确定待测试的显示面板的初始状态数据；将所述显示面板放置于恒温恒湿测试设备中并计算测试时长；在根据所述测试时长确定当前测试周期结束时，确定所述显示面板在当前测试周期结束后的状态数据，所述状态数据包括不良像素点数据和水分渗透图像；在根据所述测试时长确定测试结束时，根据各个测试周期结束时所述显示面板的不良像素点数据和水分渗透图像生成所述显示面板的测试报告
。2.
根据权利要求1所述的显示面板信赖性测试方法，其特征在于，所述确定待测试的显示面板的初始状态数据，包括：在所述显示面板显示检测画面；记录所述检测画面中的不良像素点，以作为所述显示面板的初始状态数据
。3.
根据权利要求1所述的显示面板信赖性测试方法，其特征在于，所述将所述显示面板放置于恒温恒湿测试设备中并计算测试时长，包括：设置恒温恒湿测试设备的目标温度和目标湿度；在所述恒温恒湿测试设备的温度达到所述目标温度并且湿度达到所述目标湿度时，将所述显示面板放置于所述恒温恒湿测试设备中并启动计时器计算测试时长
。4.
根据权利要求1所述的显示面板信赖性测试方法，其特征在于，所述在根据所述测试时长确定当前测试周期结束时，确定所述显示面板在当前测试周期结束后的状态数据，包括：判断所述测试时长是否达到当前测试周期的结束时长；若否，继续对所述测试时长计时，并返回判断所述测试时长是否达到当前测试周期的结束时长的步骤；若是，暂停对所述测试时长计时并在所述显示面板显示检测画面；记录所述检测画面中的不良像素点和确定水分渗透图像，以作为所述显示面板在所述当前测试周期结束时的状态数据
。5.
根据权利要求1‑4任一项所述的显示面板信赖性测试方法，其特征在于，所述在根据所述测试时长确定测试结束时，根据各个测试周期结束时所述显示面板的不良像素点数据和水分渗透图像生成所述显示面板的测试报告，包括：在所述测试时长达到总测试时长时，计算测试过程中新增的不良像素点的总数量；判断所述总数量是否大于或等于预设阈值；若是，根据各个测试周期结束时所述显示面板的不良像素点数据确定目标测试周期，所述目标测试周期为测试结束时不良像素点的数量大于或等于所述预设阈值时的测试周期；若否，对所述不良像素点进行分类并确定发生不同类型的不良像素点的测试周期；根据各个测试周期结束时所述显示面板的水分渗透图像确定水分浸入距离和水分渗透发生时间；采用所述总数量
、
不良像素点的数量大于或等于所述预设阈值时的目标测试周期
、
发生不同类型的不良像素点的测...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁吉安，
申请(专利权)人：乐金显示光电科技中国有限公司，
类型：发明
国别省市：