一种抛光设备及抛光方法技术

本发明专利技术公开了一种抛光设备及抛光方法，涉及磁流变抛光技术领域

【技术实现步骤摘要】
一种抛光设备及抛光方法


[0001]本专利技术属于磁流变抛光
，特别是涉及一种抛光设备及抛光方法
。

技术介绍

[0002]光学玻璃在表面存在划痕等缺陷时，通常采用抛光的方式对表面缺陷进行修复，使得光学玻璃这类高精度元件在修复后可以再次使用，延长光学玻璃的使用寿命
。
在对光学玻璃进行修复时，需要工作人员将光学玻璃放置到视觉检测机构的检测位置上，利用视觉检测机构先检测光学玻璃表面的缺陷位置，使缺陷位置在光学玻璃上得到定位
。
然后，工作人员从视觉检测机构中取出检测完成的光学玻璃，再将光学玻璃放置到抛光机构的抛光位置处，采用抛光机构对光学玻璃的缺陷位置进行抛光打磨，通过抛光打磨的方式恢复光学玻璃表面的平整度，从而消除缺陷
。
在抛光打磨结束后，工作人员再次将光学玻璃从抛光机构处取出，将取出的光学玻璃放置到视觉检测机构的检测位置上，采用视觉检测机构对光学玻璃表面进行再次检测，确定光学玻璃表面的平整度达到标准，从而完成对光学玻璃的修复，修复完成后需要工作人员将光学玻璃再次取出并存放
。
[0003]然而，光学玻璃表面的缺陷通常是局部缺陷，缺陷的形式为光学玻璃表面凸起或者凹陷，在进行抛光时，抛光轮与光学玻璃相对移动，从而对光学玻璃表面进行抛光
。
在抛光轮与光学玻璃相对移动时，抛光轮对光学玻璃的抛光深度会持续变化
。
当抛光轮与光学玻璃表面的抛光深度变化过大时，很容易出现两种情况，一种情况是抛光轮移动至光学玻璃表面凸起处，抛光轮与凸起部分接触，导致一次性抛光深度过深，在光学玻璃表面造成更大的损伤；另一种情况是抛光轮移动至光学玻璃的凹陷处，导致抛光轮无法接触光学玻璃，从而无法使光学玻璃得到抛光，此时需要反复调节抛光轮与光学玻璃的相对间距进行抛光，需要反复调节导致抛光效率很低
。
所以，现有技术抛光时存在容易损坏光学玻璃以及抛光效率低的问题
。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种抛光设备及抛光方法，第一方面用于解决抛光时存在容易损坏光学玻璃以及抛光效率低的问题
。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术通过以下技术方案实现的：一种抛光设备，包括抛光轮
、z
轴模组
、
第三定位工装
、
测距传感器和控制器，所述测距传感器设置于所述抛光轮一侧，所述第三定位工装与所述
z
轴模组连接，所述测距传感器用于检测所述抛光轮与所述第三定位工装的间距，所述测距传感器和
z
轴模组与控制器电连接，所述控制器根据测距传感器的检测数据控制
z
轴模组移动，使抛光轮与所述第三定位工装上放置的抛光件的抛光深度保持在恒定范围内
。
[0006]在本方案中，通过测距传感器实时检测抛光轮与第三定位工装的间距，实际是检测抛光轮与放置于第三定位工装上的光学玻璃的抛光深度，确保抛光轮与光学玻璃的抛光深度保持在一个稳定的范围内，使抛光轮的抛光深度保持稳定，避免抛光深度过深而造成
光学玻璃损坏，同时也避免抛光轮与光学玻璃脱离接触，确保抛光轮的抛光效果，提高抛光效率
。
而将抛光轮与光学玻璃的抛光深度控制在一个范围内，而不是控制在一个固定值，目的是使得光学玻璃与抛光轮的间距不会突然变化，使抛光轮加工出的面更顺滑
。
[0007]为进一步解决抛光轮重量大惯性大，移动抛光轮工作时抛光轮的位移精度低的问题，为此，所述抛光设备还包括
x
轴模组和
y
轴模组，所述
x
轴模组与
y
轴模组连接，所述
y
轴模组与所述
z
轴模组连接，所述
x
轴模组
、y
轴模组和
z
轴模组组合构成三轴模组，所述三轴模组与所述第三定位工装连接
。
[0008]在本方案中，由
x
轴模组
、y
轴模组和
z
轴模组组合构成的三轴模组移动第三定位工装，第三定位工装仅用于放置光学玻璃，重量低惯性小，不会因为惯性等因素造成位移精度降低
。
并且，抛光轮需要转动，而转动会进一步导致抛光轮的位移精度下降，因此，本方案通过移动第三定位工装，从而使光学玻璃与抛光轮相对移动，可以提高光学玻璃的位移精度，能够达到提高抛光精度的目的
。
[0009]本专利技术第二方面用于解决转移光学玻璃时光学玻璃容易与设备碰撞而损坏的问题
。
[0010]在进行修复时，需要将光学玻璃不断地从视觉检测机构和抛光机构放入和取出
。
在转移光学玻璃位置时，一方面存在光学玻璃的转移效率低，工作人员手动取出和放置光学玻璃时，为避免光学玻璃受到损坏，因此取出和放置的动作需要缓慢和稳定
。
另一方面则是光学玻璃在取出
、
转移和放置过程中受到损坏，光学玻璃在取出
、
转移和放置过程中，一旦与设备或者其它物体发生碰撞，很容易产生不可修复的损伤，导致光学玻璃的报废
。
为此，所述抛光设备还包括机架
、
上下料工位
、
机械臂
、
控制器
、
缺陷检测工位和抛光机构，所述上下料工位
、
机械臂
、
缺陷检测工位和抛光机构均连接于所述机架，所述上下料工位
、
视觉检测机构和抛光机构均设置于所述机械臂的抓取范围内，所述缺陷检测工位设置有视觉检测机构，所述机械臂
、
视觉检测机构和抛光机构均与所述控制器电连接
。
[0011]在本方案中，工作人员只需要向上下料工位放置和取出光学玻璃即可，由机械臂在上下料工位
、
缺陷检测工位与抛光机构之间抓取
、
移动和放置光学玻璃，机械臂的放置效率高
、
放置精度高
。
并且机械臂的移动沿固定路线移动，能够避免光学玻璃移动时与视觉检测机构或者抛光机构发生碰撞，避免光学玻璃损坏
。
[0012]为进一步解决待抛光的光学玻璃与抛光后的光学玻璃相互阻挡的问题，为此，所述上下料工位包括第一定位工装
、
第四定位工装和第五定位工装，所述第一定位工装
、
第四定位工装和第五定位工装均设置有定位槽
。
[0013]在本方案中，设置第一定位工装可以用于放置待抛光的光学玻璃，设置第四定位工装用于放置抛光后的光学玻璃，设置第五定位工装可以用于放置检测无缺陷的光学玻璃，使处于三种状态的光学玻璃可以分开放置，避免三种状态的光学玻璃混合，避免三种状态的光学玻璃相互阻挡，使抛光流程的能够连续进行
。
[0014]为进一步解决视觉检测机构检测范围有本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种抛光设备，其特征在于：包括抛光轮
(11)、z
轴模组
、
第三定位工装
(9)、
测距传感器
(18)
和控制器，所述测距传感器
(18)
设置于所述抛光轮
(11)
一侧，所述第三定位工装
(9)
与所述
z
轴模组连接，所述测距传感器
(18)
用于检测所述抛光轮
(11)
与所述第三定位工装
(9)
表面的间距，所述测距传感器
(18)
和
z
轴模组与控制器电连接，所述控制器根据测距传感器
(18)
的检测数据控制
z
轴模组移动，使抛光轮
(11)
对所述第三定位工装
(9)
上放置的抛光件的抛光深度保持在恒定范围内
。2.
根据权利要求1所述的一种抛光设备，其特征在于：还包括
x
轴模组和
y
轴模组，所述
x
轴模组与
y
轴模组连接，所述
y
轴模组与所述
z
轴模组连接，所述
x
轴模组
、y
轴模组和
z
轴模组组合构成三轴模组
(8)
，所述三轴模组与所述第三定位工装
(9)
连接
。3.
根据权利要求1所述的一种抛光设备，其特征在于：还包括机架
(1)、
上下料工位
、
机械臂
(2)
和缺陷检测工位，所述缺陷检测工位设置有视觉检测机构
(7)
，所述上下料工位
、
机械臂
(2)、
缺陷检测工位和抛光轮
(11)
均连接于所述机架
(1)
，所述上下料工位
、
视觉检测机构
(7)
和第三定位工装
(9)
均设置于所述机械臂
(2)
的抓取范围内，所述机械臂
(2)、
视觉检测机构
(7)
均与所述控制器电连接
。4.
根据权利要求3所述的一种抛光设备，其特征在于：所述缺陷检测工位还包括第二定位工装
(13)
和移动组件，所述移动组件与视觉检测机构
(7)
或第二定位工装
(13)
连接
。5.
根据权利要求4所述的一种抛光设备，其特征在于：所述移动组件包括两个平移机构，一个所述平移机构与所述视觉检测机构
(7)
连接，另一个所述平移机构与所述第二定位工装
(13)
连接，两个平移机构的移动方向相垂直
。6.
根据权利要求5所述的一种抛光设备，其特征在于：所述平移机构包括伺服电机
(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨伟，杨鹏，张雪梅，李鑫磊，张珂，
申请(专利权)人：成都中科卓尔智能科技集团有限公司，
类型：发明
国别省市：