高速运算放大器测试电路及其测试方法技术

本发明专利技术涉及高速运算放大器测试电路及其测试方法，包括函数信号发生模块，函数信号发生模块电性连接有偏置电流采样模块，偏置电流采样模块的分别电性连接有被测运放模块和反馈电路模块，被测运放模块包括正输入端和负输入端，被测运放模块的负输入端与偏置电流采样模块电性连接，被测运放模块的正输入端电性连接有输入电阻模块，被测运放模块的输出端电性连接有被测运放模块，通过在被测运算放大器正负输入端使用精密高输入阻抗测流电路替代测流电阻，提高了测试效率和测试精度，使输入失调电压

【技术实现步骤摘要】
高速运算放大器测试电路及其测试方法


[0001]本专利技术涉及的高速运算放大器测试电路及其测试方法，特别是涉及应用于放大器领域的高速运算放大器的测试电路及其测试方法
。

技术介绍

[0002]运算放大器是一个内含多级放大电路的电子集成电路，其输入级是差分放大电路，具有高输入电阻和抑制零点漂移能力，中间级主要进行电压放大，具有高电压放大倍数，一般由共射极放大电路构成，输出极与负载相连，具有带载能力强
、
低输出电阻特点，在实际电路中，通常结合反馈网络共同组成某种功能模块
。
它是一种带有特殊耦合电路及反馈的放大器
。
其输出信号可以是输入信号加
、
减或微分
、
积分等数学运算的结果，运算放大器的应用非常广泛
。
[0003]为解决高速运算放大器测试的问题，实验室中的采用在测试电路中的偏置电流采样中利用测流电阻来进行测试的设计，常见于各种高速运算放大器的测试实验电路和测试仪器中
。
[0004]现有的利用测流电阻的电路无法直接测量输入失调电压进和输入偏置电流的数据参数，其测试效率和测试精度均难以达到高速运算放大器的测试需求
。
[0005]申请内容
[0006]针对上述现有技术，本专利技术要解决的技术问题是现有的高速运算放大器测试电路无法直接测量输入失调电压进和输入偏置电流的数据参数，且测试效率和测试精度均难以达到高速运算放大器的测试需求
。
[0007]为解决上述问题，本专利技术提供了高速运算放大器测试电路，包括函数信号发生模块，函数信号发生模块电性连接有偏置电流采样模块，偏置电流采样模块的分别电性连接有被测运放模块和反馈电路模块，被测运放模块包括正输入端和负输入端，被测运放模块的负输入端与偏置电流采样模块电性连接，被测运放模块的正输入端电性连接有输入电阻模块，被测运放模块的输出端电性连接有被测运放模块，被测运放模块的输出端和反馈电路模块分别与示波器模块电性连接
。
[0008]在上述高速运算放大器测试电路中，通过在被测运算放大器正负输入端使用精密高输入阻抗测流电路替代测流电阻，提高了测试效率和测试精度，使输入失调电压
、
输入偏置电流参数可同时测量
。
[0009]作为本申请的进一步改进，偏置电流采样模块包括一对串联的电阻
R2
和
R3
，且
R2
和
R3
的阻值均为
1k
Ω
，
R2
远离
R3
的一端电性连接有开关
S3
，
S3
远离
R2
的一端与函数信号发生模块电性连接，
R3
的两端并联有开关
S1
，
R3
靠近
R2
的一端与反馈电路模块电性连接，
R3
远离
R2
的一端与被测运放模块的负输入端电性连接
。
[0010]作为本申请的进一步改进的补充，
S3
为单刀双掷开关，
S3
可以将
R2
远离
R3
的一端转接地，将整体电路转换为
Gain
测试和带宽测试运放电路
。
[0011]作为本申请的进一步改进，输入电阻模块包括一对相互串联的电阻
R4
和
R6
，
R4
和
R6
的阻值均为
1k
Ω
，
R6
的两端并联有
S2
，
R6
靠近
R4
的一端接地，
R6
远离
R4
的一端与被测运放模块的正输入端电性连接，
R4
远离
R6
的一端接地
。
[0012]作为本申请的进一步改进，被测运放模块包括被测运算放大器，被测运算放大器的型号选用
UA741CD
，共有7支引脚，分别标记为1‑7号引脚，2号引脚与测运算放大器的负输入端电性连接，3号引脚与被测运算放大器的正输入端电性连接，6号引脚与被测运算放大器的输出端电性连接，并与被测运放模块的正输入端电性连接，4号引脚电性连接有负压电源，7号引脚电性连接有正压电源
。
[0013]作为本申请的进一步改进，被测运放模块包括测试辅助运算放大器，测试辅助运算放大器的型号也选用
UA741CD
，共有7支引脚，标记为1′‑7′
号引脚，2′
号引脚接地，3′
号引脚与测试辅助运算放大器的正输入端电性连接，6′
号引脚与测运算放大器的输出端电性连接，并与示波器模块电性连接，4′
号引脚电性连接有负压电源，7′
号引脚电性连接有正压电源
。
[0014]作为本申请的进一种改进，反馈电路模块包括一组并联的电阻
R1
和电容
C1
，
R1
的阻值的
10k
Ω
，
C1
的电容量为
22pF
，
R1
的一端与偏置电流采样模块电性连接，
R1
的另一端与测试辅助运算放大器的输出端电性连接
。
[0015]高速运算放大器测试电路的测试方法，主要包括以下步骤：
[0016]步骤一
、
首先测试被测运算放大器的失调电压，关闭开关
S1
和开关
S2
，测试出被测运算放大器的输出电压记下
Vout
，则输入失调电压为：
[0017][0018]步骤二
、
打开开关
S2
，被测运算放大器的
Ib+
流入电阻
R2
，会形成一个附加的失调电压
Vos1
，测试出被测运算放大器的输出电压记下
Vout1
，则被测运算放大器同向输入失调电压为：
[0019][0020]步骤三
、
关闭开关
S2
，打开开关
S1
，待测被测运算放大器的
Ib
‑
流入电阻
R1
，会形成一个附加的失调电压
Vos2
，测试出被测运算放大器的输出电压记下
Vout2
，则被测运算放大器反向输入失调电压为：
[0021][0022]被测运算放大器输入偏置电流为：
[0023]Ib
＝
[(Ib+)+(Ib
‑
)]/2
；
[0024]被测运算放大器输入失调电流为：
[0025]Ios
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
高速运算放大器测试电路，包括函数信号发生模块
(1)
，其特征在于：所述函数信号发生模块
(1)
电性连接有偏置电流采样模块
(2)
，所述偏置电流采样模块
(2)
的分别电性连接有被测运放模块
(4)
和反馈电路模块
(6)
，所述被测运放模块
(4)
包括正输入端和负输入端，所述被测运放模块
(4)
的负输入端与偏置电流采样模块
(2)
电性连接，所述被测运放模块
(4)
的正输入端电性连接有输入电阻模块
(3)
，所述被测运放模块
(4)
的输出端电性连接有被测运放模块
(5)
，所述被测运放模块
(5)
的输出端和反馈电路模块
(6)
分别与示波器模块
(7)
电性连接
。2.
根据权利要求1所述的高速运算放大器测试电路，其特征在于：所述偏置电流采样模块
(2)
包括一对串联的电阻
R2
和
R3
，所述
R2
远离
R3
的一端电性连接有开关
S3
，所述
S3
远离
R2
的一端与函数信号发生模块
(1)
电性连接，所述
R3
的两端并联有开关
S1
，所述
R3
靠近
R2
的一端与反馈电路模块
(6)
电性连接，所述
R3
远离
R2
的一端与被测运放模块
(4)
的负输入端电性连接
。3.
根据权利要求2所述的高速运算放大器测试电路，其特征在于：所述
S3
为单刀双掷开关，
S3
可以将
R2
远离
R3
的一端转接地
。4.
根据权利要求1所述的高速运算放大器测试电路，其特征在于：所述输入电阻模块
(3)
包括一对相互串联的电阻
R4
和
R6
，所述
R6
的两端并联有
S2
，所述
R6
靠近
R4
的一端接地，所述
R6
远离
R4
的一端与被测运放模块
(4)
的正输入端电性连接，所述
R4
远离
R6
的一端接地
。5.
根据权利要求1所述的高速运算放大...

【专利技术属性】
技术研发人员：张明，漆星宇，
申请(专利权)人：江苏润石科技有限公司，
类型：发明
国别省市：