一种测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种测试装置及系统，应用于对SOC芯片的测试。其中，该测试装置包括配置有测试协议及检测模块的自动检测机台、配置有转换桥和APB总线的待测芯片、配置为自动检测机台与转换桥之间进行数据传输的测试总线。转换桥两端分别配置遵循第一测试协议的第一接口和配置遵循第二测试协议第二接口，APB总线一端连接转换桥，另一端连接若干IP。用于实现通过测试总线与APB总线的数据交互，实现芯片内部各模块数据的访问，减少了人工操作，减少了数据接口和芯片引脚。测试总线实现数据的并行传输以提高数据的处理效率，使得服务器在单位时间内所能够处理数据的吞吐量更大，从而避免造成数据拥塞宕机，提升了服务器的稳定性。提升了服务器的稳定性。提升了服务器的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置及方法


[0001]本专利技术涉及系统芯片测试
，具体涉及一种测试装置及方法。

技术介绍

[0002]随着芯片设计复杂度的提高，芯片的自动测试设备(ATE)测试成为越来越重的环节。同时SOC芯片跟ASIC芯片不同，SOC芯片一般都由很多IP(Intellectual Property，在集成电路设计行业中指已验证、可重复利用、具有某种确定功能的芯片设计模块)以及总线组成，所以对SOC芯片的测试需要很多不同的配置来验证不同的IP。目前常用的测试方式有以下几种：通过片外电路以及数据接口进行测试；通过自定通信协议实现ATE测试。
[0003]通过片外电路以及数据接口进行测试时，片外电路可以是片外FLASH等存储器，也可以是FPGA等片外板级电路，片外电路通过一些数据接口，比如SPI、JTAG、USB等将测试程序进行加载，然后完成SOC芯片测试。
[0004]通过自定通信协议实现ATE测试时，通过ATE基台发送测试指令给MCU，MCU接受到相应指令后进行测试。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种测试装置及方法，用于实现对SOC芯片的测试。
[0006]本专利技术的一方面提供了一种测试装置，应用于对SOC芯片的测试，包括配置有第一测试协议及检测模块的自动检测机台、配置有转换桥和APB总线的待测芯片、配置为所述自动检测机台与所述转换桥之间进行数据传输的测试总线；其中，所述转换桥具有与所述测试总线连接的第一接口以及与所述APB总线连接的第二接口，所述自动检测机台、测试线路及第一接口配置为遵循第一测试协议；所述第二接口与APB总线配置为遵循第二测试协议；所述待测芯片还包括与APB总线连接的若干IP，所述APB总线存储有所述若干IP的地址，所述转换桥存储有所述APB总线中存储的地址；自动检测机台，用于向转换桥发送测试主控时钟和第一测试指令以选定测试目标及测试种类，发送选定的所述测试目标的地址以找到待测试IP地址，并与所述测试目标的地址进行对应测试种类的测试；所述检测模块，用于检测是否完成所述测试目标的地址的发送及是否完成测试。
[0007]根据本专利技术一实施例，所述测试总线包括：
[0008]时钟测试总线，用于作为发送测试主控时钟的传输线路；
[0009]命令测试总线，用于作为发送测试指令的传输线路；
[0010]数据测试总线，用于发送和接收测试数据的双向传输线路；
[0011]所述时钟测试总线和命令测试总线为自动检测机台至所述转换桥方向的单向传输总线。
[0012]本专利技术的另一方面提供了一种测试方法，应用于对SOC芯片的测试，包括如下步骤：
[0013]自动检测机台发送测试主控时钟和第一测试指令，用于选择测试目标及测试种
类；
[0014]根据确定的所述测试目标及所述测试种类，自动检测机台发送所述测试目标的地址，检测模块检测是否完成所述测试目标的地址的发送；
[0015]自动检测机台与所述测试目标的地址进行数据的传输以实现对应测试种类的测试；检测模块检测是否完成测试。
[0016]根据本专利技术一实施例，所述测试目标包括：转换桥、APB总线；所述测试种类包括：读测试、写测试；所述测试目标的地址包括若干IP的地址。
[0017]根据本专利技术一实施例，所述自动检测机台向转换桥发送测试主控时钟和第一测试指令前还包括如下步骤：
[0018]使用测试总线连接自动检测机台与待测芯片，并进行初始化；
[0019]将所述待测芯片转为测试模式。
[0020]根据本专利技术一实施例，所述根据选定的所述测试目标及所述测试种类，自动检测机台发送所述测试目标的地址，用于找到待测试IP地址还包括检测步骤如下：
[0021]根据所述测试目标的地址位宽及所述测试目标的位宽，计算待发送次数；
[0022]检测所述自动测试机台发送次数，当所述自动测试机台发送次数达到计算的所述发送次数，则停止继续传输数据，完成所述测试目标的地址的发送；
[0023]自动检测机台与所述测试目标的地址进行数据的传输以实现对应测试种类的测试还包括检测步骤如下：
[0024]根据需要传输的所述数据的位宽及所述测试目标的位宽，计算待发送次数；
[0025]检测所述自动测试机台发送次数，当所述自动测试机台发送次数达到计算的所述待发送次数，则停止继续传输数据，完成所述所述测试。
[0026]根据本专利技术一实施例，自动检测机台发送测试主控时钟和写APB总线指令；
[0027]下一个时钟，自动检测机台发送需要写入数据的APB总线中存储的对应的IP的地址；
[0028]下一个时钟，自动检测机台向所述对应的IP的地址发送需要写入的数据，进行APB总线写动作的测试。
[0029]根据本专利技术一实施例，自动检测机台向转换桥发送测试主控时钟和写APB总线指令；
[0030]下一个时钟，自动检测机台发送需要读出数据的APB总线中存储的对应的IP的地址；
[0031]下一个时钟，自动检测机台自所述对应的IP的地址接收需要读出的数据，进行APB总线写动作的测试。
[0032]根据本专利技术一实施例，自动检测机台发送测试主控时钟和写APB总线指令；
[0033]下一个时钟，自动检测机台发送需要写入数据的转换桥中存储的对应的IP的地址；
[0034]下一个时钟，自动检测机台向所述对应的IP的地址发送需要写入的数据，进行测试总线写动作的测试。
[0035]根据本专利技术一实施例，自动检测机台发送测试主控时钟和写APB总线指令；
[0036]下一个时钟，自动检测机台发送需要读出数据的转换桥中存储的对应的IP的地
址；
[0037]下一个时钟，自动检测机台自所述对应的IP的地址接收需要读出的数据，进行测试总线写动作的测试。
[0038]与现有技术相比，本专利技术具有如下的有益效果：
[0039]本专利技术通过公开一种用于测试SOC芯片的测试装置及方法，通过在自动检测机台配置测试协议及检测模块、在待测芯片配置转换桥和与转换桥连接的APB总线以及与APB总线连接的若干IP，通过测试总线直接连接自动测试机台及待测芯片的转换桥，直接通过测试总线与APB总线的数据交互，实现芯片内部各模块数据的访问，从而实现了对转换桥和APB总线读和写操作的检测，减少了人工操作，减少了数据接口和芯片引脚。测试总线包括：时钟测试总线、命令测试总线、数据测试总线实现数据的并行传输以提高数据的处理效率，使得服务器在单位时间内所能够处理数据的吞吐量更大，从而避免造成数据拥塞宕机，提升了服务器的稳定性。
附图说明
[0040]图1根据本专利技术实施例，示出了一种用于测试SOC芯片的测试装置的结构示意图；
[0041]图2根据本专利技术实施例，示出了一种用于测试SOC芯片的测试方法的方法流程图；
[0042]图3根据本专利技术实施例，示出了一种用于测试SOC芯片之前的初始化方法流本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，应用于对SOC芯片的测试，其特征在于，包括配置有第一测试协议及检测模块的自动检测机台、配置有转换桥和APB总线的待测芯片、配置为所述自动检测机台与所述转换桥之间进行数据传输的测试总线；其中，所述转换桥具有与所述测试总线连接的第一接口以及与所述APB总线连接的第二接口，所述自动检测机台、测试线路及第一接口配置为遵循第一测试协议；所述第二接口与APB总线配置为遵循第二测试协议；所述待测芯片还包括与APB总线连接的若干IP，所述APB总线存储有所述若干IP的地址，所述转换桥存储有所述APB总线中存储的地址；自动检测机台，用于向转换桥发送测试主控时钟和第一测试指令以选定测试目标及测试种类，发送选定的所述测试目标的地址以找到待测试IP地址，并与所述测试目标的地址进行对应测试种类的测试；所述检测模块，用于检测是否完成所述测试目标的地址的发送及是否完成测试。2.根据权利要求1所述的一种测试装置，其特征在于，所述测试总线包括：时钟测试总线，用于作为发送测试主控时钟的传输线路；命令测试总线，用于作为发送测试指令的传输线路；数据测试总线，用于发送和接收测试数据的双向传输线路；所述时钟测试总线和命令测试总线为自动检测机台至所述转换桥方向的单向传输总线。3.一种测试方法，应用于对SOC芯片的测试，其特征在于，包括如下步骤：自动检测机台发送测试主控时钟和第一测试指令，用于选择测试目标及测试种类；根据选定的所述测试目标及所述测试种类，自动检测机台发送所述测试目标的地址，检测模块检测是否完成所述测试目标的地址的发送；自动检测机台与所述测试目标的地址进行数据的传输以实现对应测试种类的测试；检测模块检测是否完成测试。4.根据权利要求3所述的一种测试方法，其特征在于，所述测试目标包括：转换桥、APB总线；所述测试种类包括：读测试、写测试；所述测试目标的地址包括若干IP的地址。5.根据权利要求3所述的一种测试方法，其特征在于，所述自动检测机台向转换桥发送测试主控时钟和第一测试指令前还包括如下步骤：使用测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱晓曦，
申请(专利权)人：深聪半导体科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：