一种具有供电延迟的多通道测试电路及测试板制造技术

本申请提供一种具有供电延迟的多通道测试电路及测试板，包括延迟模块

【技术实现步骤摘要】
一种具有供电延迟的多通道测试电路及测试板


[0001]本专利技术涉及半导体芯片测试及测试电路领域，尤其涉及高温环境下的测试电路与多通道测试电路
。

技术介绍

[0002]当前通信行业及消费电子行业发展迅速，市场对产品相关性能提出了更高的要求，极大推动了半导体器件小型化，集成化的发展进程
。
相应的，半导体器件的测试技术也有了更高的要求，整体趋势上，
PMIC
芯片
、
电源芯片的输出通道越来越多，检测起来越来越复杂，且随着技术发展，芯片性能要求及电路复杂程度越来越高，芯片面积越来越小，对测试环境和测试工具也提出了更高的要求
。
[0003]现有的针对
PMIC
芯片多通道输出的电压电流检测方案中，一方面应用
PMU
进行测试的方案测试通道数量有限，提高通道数量将极大提高测试成本，另一方面没有针对高温箱环境的设计，以应对高温箱测试环节中不便打开高温箱调整测试电路的问题，实际生产中，这种应用场景遇到的主要问题是，由于高温箱在负载被测试过程中需要保持温度，不能打开，当测试通道异常时不能及时调整，也不能使用传统的万用表或传统的测试方式
。
因此，亟需一种新的测试方案，可以对多通道的电压电流进行测试，并对异常通道进行关闭操作；此外，随着芯片性能与功能的精细化，对多通道测试过程中不同通道的供电延迟有了更高的要求，在高温测试的前提下还需要不依赖手动调整供电延迟的测试方案，以满足具有复杂功能的芯片的供电测试需求r/>。

技术实现思路

[0004]基于此，本专利技术针对高温箱测试场景，设计一种具有供电延迟的多通道测试电路及测试板以实现具有延迟供电功能和通道关断功能
。
[0005]为了达成上述目的，本说明书实施例提供以下技术方案：
[0006]本专利技术在第一方面提供一种具有供电延迟的多通道测试电路，其特征在于，包括：
[0007]延迟模块，连接于电源与负载之间，可提供供电延迟；
[0008]检流模块，包括高精度检流电阻与运算放大器；
[0009]模拟开关，包括至少一个模拟开关单元，每个模拟开关单元可提供8‑
16
个通道；
[0010]模数转换与控制模块，包括
ADC
与控制器，将所述检流模块检测到的电压模拟信号转换为数字信号；
[0011]电压转换模块，具有电平转换功能；
[0012]所述电压转换模块输出端连接于所述延迟模块输入端，所述延迟模块输出端连接于所述检流模块输入端，所述检流模块输出端可连接于待测负载，所述模拟开关输入端连接于所述检流模块信号输出端，输出端连接于所述模数转换与控制模块输入端，所述控制器还通过
GPIO
连接于所述延迟模块
。
[0013]进一步的，所述具有供电延迟的多通道测试电路设置于高温箱内
。
[0014]进一步的，所述延迟模块包括
NMOS、PMOS
与电容，所述电容连接于
NMOS
和
/
或
PMOS
之间，所述电容与
NMOS
和
/
或
PMOS
形成等效的
RC
延迟电路，所述等效
RC
延迟至少为
20ms。
[0015]优选的，所述延迟模块输入端连接于所述模数转换中的控制器信号端口，所述控制信号端口输出高电平导通所述延迟模块，通过设置高电平信号时间实现所述延迟供电功能
。
[0016]进一步的，所述检流模块与模拟开关构成的具有供电延迟的多通道测试电路至少包括八个测试通道
。
[0017]进一步的，所述电压转换模块基于稳压器设计，包括至少一块稳压器芯片
。
[0018]进一步的，所述电压转换模块输入端还连接有滤波模块，可将电源中的高频分量滤除后，给所述电压转换模块供电
。
[0019]本专利技术在第二方面提供一种多通道测试板，包括如第一方面所述的任一种具有供电延迟的多通道测试电路
、
上位机以及板体或壳体，所述上位机与所述控制器之间通信连接，可对所述控制器进行编程控制，所述板体或壳体用于集成所述具有供电延迟的多通道测试电路中的元件，所述板体或壳体具有可连接至待测负载与上位机的接口
。
[0020]基于上述设计，本专利技术的有益效果是：
[0021]第一，通过延迟模块，给待测负载提供供电延迟，满足待测负载的上电启动延迟
、
电压转换和模式切换等测试需求
。
[0022]第二，通过
NMOS、PMOS
与电容组成
RC
延迟电路可以减少测试电路对
GPIO
通道的使用，实现不依赖
PMU
单元的测试方案，降低测试成本
。
[0023]第三，通过模拟开关与检流模块来代替
PMU
，实现多通道测试电路的测试通道拓展，用低价器件代替
PMU
，进一步降低成本
。
[0024]第四，通过
CPU
控制所述模拟开关及延迟模块可以实现不开启高温箱条件下的供电调整
。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图
。
[0026]图1是本申请中的具有供电延迟的多通道测试电路模块连接示意图；
[0027]图2是本申请中的具有供电延迟的多通道测试电路连接示意图；
[0028]图3是本申请中的延迟模块通道简略示意图；
[0029]图4是本申请中的滤波模块连接示意图；
[0030]图5是本申请中的测试板示意图
。
具体实施方式
[0031]下面结合附图对本申请实施例进行详细描述
。
[0032]以下通过特定的具体实例说明本申请的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本申请的其他优点与功效
。
显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例
。
本申请还可以通过另外不同的具体实施方式加以实
施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本申请的精神下进行各种修饰或改变
。
需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合
。
基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围
。
[0033]要说明的是，下文描述在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种具有供电延迟的多通道测试电路，其特征在于，包括：延迟模块，包括至少一个场效应管，可提供供电延迟；检流模块，包括高精度检流电阻与运算放大器；模拟开关，包括至少一个模拟开关单元，每个模拟开关单元可提供8‑
16
个通道；模数转换与控制模块，包括
ADC
与控制器，将所述检流模块检测到的电压电流模拟信号转换为数字信号；电压转换模块，具有电平转换功能；所述电压转换模块输出端连接于所述延迟模块输入端，所述延迟模块输出端连接于所述检流模块输入端，所述检流模块输出端可连接于待测负载，所述模拟开关输入端连接于所述检流模块信号输出端，输出端连接于所述模数转换与控制模块输入端，所述控制器还通过
GPIO
连接于所述延迟模块
。2.
如权利要求1所述的一种具有供电延迟的多通道测试电路，其特征在于，所述具有供电延迟的多通道测试电路设置于高温箱内
。3.
如权利要求1所述的一种具有供电延迟的多通道测试电路，其特征在于，所述延迟模块包括
NMOS、PMOS
与电容，所述电容连接于
NMOS
和
/
或
PMOS
之间，所述电容与
NMOS
和
/
或
PMOS
...

【专利技术属性】
技术研发人员：申鹏飞，罗雄科，杨磊，尤艳宏，
申请(专利权)人：西安泽荃半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：