液晶显示模组光学测定检测方法技术

本发明专利技术涉及液晶显示模组光学测定技术领域，且公开了液晶显示模组光学测定检测方法，包括以下步骤：通过人工上料，将需要检测的液晶显示模组放置在进行光学检测机构指定的位置，通过液晶显示模组将接收到的数据信号以文本和图像的形式对外显示，通过探头对液晶显示模组进行光学检查流程，主要检查项目为最大亮度

【技术实现步骤摘要】
液晶显示模组光学测定检测方法


[0001]本专利技术涉及液晶显示模组光学测定
，具体为液晶显示模组光学测定检测方法
。

技术介绍

[0002]液晶显示模块使用液晶材料来显示图像
。
液晶材料是一种透明的物质，它通过电场的作用而改变构型，从而改变光的折射率
。
在电场施加时，液晶分子排列紧密，光线通过时受到较大折射，使得背景显示为黑色
。
而在电场施加时，液晶分子排列松散，光线通过时受到较小折射，使得背景显示为白色
。
通过控制电场的强度和液晶分子的排列，可以得到不同的亮度和颜色
。
[0003]液晶模组在各检查工位进行现有技术进行光学检查时，在面对一些高端产品
(VR
产品等
)
的检测需求时，由于镜头精度
、
信号传输速度等因素的影响，导致镜头测量出的光学参数值与实际存在偏差，测量精度不足导致客户需求无法实现
。

技术实现思路

[0004](
一
)
解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本专利技术提供了液晶显示模组光学测定检测方法，在使用过程中，通过设置的控制器工作将
TE
信号与光学检测中的信号同步，通过设置在其内部的振荡器
OSC
和锁相环
PLL
组成的时钟模块来提供规律的时钟脉冲，其周期稳定性较好，在高频振荡中容易产生高质量的方波信号，并且其频率可以通过多种方式来进行精确控制，同时可以使数据同步和定时操作，以确保各种硬件元件的协同工作，保证系统的正常运作，通过设置的偏振分束器可以对反射回的偏振耦合信号进行分离，抵消偏振信号之间的干扰，从而在后续技术处理过程中，可以降低系统的运算处理量，提高对光学性能检测的速度与准确度，以此确保内部元件的运转和数据收集的同步，从而提高测量精度，通过设置的功率管理单元
(PMU)
来控制对外部元件的能量供应，使提供电源的电路
,
在负载变动时
,
电源电路仍能保持负载芯片得到的电压不变，避免出现使用时模板芯片需要使用不同的电压，导致系统不能起动或烧毁芯片等意外情况出现
。
[0006](
二
)
技术方案
[0007]为实现上述提高对光学性能检测的速度与准确度，本专利技术提供如下技术方案：液晶显示模组光学测定检测方法，包括以下步骤：
[0008]S1、
通过人工上料，将需要检测的液晶显示模组放置在进行光学检测机构指定的位置
。
[0009]S2、
通过液晶显示模组将接收到的数据信号以文本和图像的形式对外显示
。
[0010]S3、
通过探头对液晶显示模组进行光学检查流程，主要检查项目为最大亮度
,
包括红
、
绿
、
蓝
、
黄
、
白等的最大亮度；视角，包括水平方向的视角和垂直方向的视角；基色主波长误差和白场色坐标，均为考察
LED
显示屏的颜色特性；均匀性，包括像素光强均匀性
、
显示模
块亮度均匀性和模组亮度均匀性
。
[0011]S4、
通过高光学检测镜头接收从
TFT
控制器到
MCU
的反馈信号与探头
TE
信号
。
[0012]S5、
通过数字信号处理器来控制其内部元件的同步，使用同步电路将
TE
信号与检测信号同步
。
[0013]S6、
通过控制主机得出的信号值并结合数据进行对比，得到所述液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量与亮度均匀性数据
。
[0014]优选的，所述步骤
S1
中，首先经过外观检査，主要检查项目是，异物
、
划痕
、
气泡等影响视觉效果的不良项目，再经过电压调节和高温老化之后，进行显示检查后进行电气特性检査
。
[0015]优选的，所述步骤
S3
中，需要将样品亮度调至最大亮度，使测试设备和待测屏幕距离保持为
45cm
，同时设备的测试角度设置为1度角，对于样品面
14
个点位进行测量，根据这
14
个点位确定一个均匀性计算方程，
[0016]14
点中最低亮度
÷
14
点中最高亮度
×
100
％＝均匀性
。
[0017]优选的，所述步骤
S4
中，该高光学检测镜头包括一个
TE
传感器和一个用于控制内部元件的控制器，在测量过程中，控制器将
TE
信号与光学检测中的信号同步
。
[0018]优选的，所述步骤
S5
中，为了能让
DSP
数字信号处理器工作起来，需要内部振荡器
OSC
和锁相环
PLL
组成的时钟模块来提供规律的时钟脉冲，锁相环
PLL
主要是通过软件实时地配置片上外设时钟，同时通过利用光在单模光纤中传输的偏振特性
,
将传输波长的两个独立且相互正交的偏振态作为独立信道分别传输两路信号
,
先设定
PDM
相干光通信系统接收信号，再对偏振解复用过程进行建模，然后采用偏振分束器对偏振耦合信号进行分离，最后得到发射的两个偏振态信号
。
[0019]优选的，所述偏振耦合信号进行分离过程中，典型的
PDM
相干光通信系统接收信号表示为：
R(t)
＝
J(t)
·
S(t)+N(t)
，式中，
t
表示当前某一数据进行处理的时刻，
S(t)
和
R(t)
分别是发射和接收的两个偏振态信号组成的二维向量，
N(t)
表示二维的加性高斯白噪声信号，
J(t)
为二维的琼斯矩阵，同时偏振分束器由具有至少两个输出端口的光耦合器以及两个不同的
TIR
镜组成
。
[0020]优选的，所述
DSP
数字信号处理器工作过程中，可以通过控制器中的功率管理单元
(PMU)
来控制对外部元件的能量供应，该功率管理单元
(PMU)
测试期间设定有两组，每组通道设置有8个单元
。
[0021]优选的，所述步骤
S6
中，若判定液晶显示模组光学性能不合格，则需要制造商对液晶显示模组的子像素点的光学材料进行修正改善
。
[0022](...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
液晶显示模组光学测定检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、
通过人工上料，将需要检测的液晶显示模组放置在进行光学检测机构指定的位置；
S2、
通过液晶显示模组将接收到的数据信号以文本和图像的形式对外显示；
S3、
通过探头对液晶显示模组进行光学检查流程，主要检查项目为最大亮度
,
包括红
、
绿
、
蓝
、
黄
、
白等的最大亮度；视角，包括水平方向的视角和垂直方向的视角；基色主波长误差和白场色坐标，均为考察
LED
显示屏的颜色特性；均匀性，包括像素光强均匀性
、
显示模块亮度均匀性和模组亮度均匀性；
S4、
通过高光学检测镜头接收从
TFT
控制器到
MCU
的反馈信号与探头
TE
信号；
S5、
通过数字信号处理器来控制其内部元件的同步，使用同步电路将
TE
信号与检测信号同步；
S6、
通过控制主机得出的信号值并结合数据进行对比，得到所述液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量与亮度均匀性数据
。2.
根据权利要求1所述的液晶显示模组光学测定检测方法，其特征在于，所述步骤
S1
中，首先经过外观检査，主要检查项目是，异物
、
划痕
、
气泡等影响视觉效果的不良项目，再经过电压调节和高温老化之后，进行显示检查后进行电气特性检査
。3.
根据权利要求1所述的液晶显示模组光学测定检测方法，其特征在于，所述步骤
S2
中，该液晶显示模组具有内置背光，可以打开或关闭，同时需要
+5V DC
电源，该电源可由多种电源提供，如电池
、
电源适配器或微控制器的电源轨
。4.
根据权利要求1所述的液晶显示模组光学测定检测方法，其特征在于，所述步骤
S3
中，需要将样品亮度调至最大亮度，使测试设备和待测屏幕距离保持为
45cm
，同时设备的测试角度设置为1度角，对于样品面
14
个点位进行测量，根据这
14
个点位确定一个均匀性计算方程，
14
点中最低亮度
÷
14
点中最高亮度
×
...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈景山，莫天豪，高阳，
申请(专利权)人：无锡夏普显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：