高低温探针台测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了高低温探针台测试装置，包括：探针台测试部；力限位部，力限位部包含连接于探针测试结构上端的支柱、贯穿支柱上部的抵触柱和相对抵触柱设置，连接于置料结构外表面的操控开关；针头清理部，连接于置料结构外表面，并处于操控开关的下方。本实用新型专利技术对移动的测试探头的上部进行抵触柱结构的设置，并设置有相对的操控开关，可通过抵触柱与操控开关之间的抵触，及时进行向内推力的限制，以解决现有探针台测试装置，在使用探针头对半导体进行测试处理时，初始状态下的测试探针与待测试的半导体之间不相接触，需使用电动推杆对其进行相内推动力的施加，施力力的控制不足，易作用于待测试半导体上，影响美观的问题。影响美观的问题。影响美观的问题。

【技术实现步骤摘要】
高低温探针台测试装置


[0001]本技术涉及探针台
，特别是涉及高低温探针台测试装置。

技术介绍

[0002]探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发。
[0003]但它在实际使用中仍存在以下弊端：
[0004]现有探针台测试装置，在使用探针头对半导体进行测试处理时，初始状态下的测试探针与待测试的半导体之间不相接触，需使用电动推杆对其进行相内推动力的施加，施力力的控制不足，易作用于待测试半导体上，使其表面发生损伤，影响美观性。
[0005]因此，新提出高低温探针台测试装置，以解决上述问题。

技术实现思路

[0006]1.要解决的技术问题
[0007]本技术的目的在于提供高低温探针台测试装置，对移动的测试探头的上部进行抵触柱结构的设置，并设置有相对的操控开关，可通过抵触柱与操控开关之间的抵触，及时进行向内推力的限制，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0008]2.技术方案
[0009]为解决上述技术问题，本技术是通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.高低温探针台测试装置，其特征在于，包括：探针台测试部，所述探针台测试部包含底支撑结构(1)、连接于底支撑结构(1)上端外边缘的探针测试结构(2)、连接于底支撑结构(1)上端中部的置料结构(3)和连接于底支撑结构(1)上端内边缘的查看结构(4)；力限位部(5)，所述力限位部(5)包含连接于探针测试结构(2)上端的支柱(51)、贯穿支柱(51)上部的抵触柱(52)和相对抵触柱(52)设置，连接于置料结构(3)外表面的操控开关(53)；针头清理部(6)，连接于置料结构(3)外表面，并处于操控开关(53)的下方。2.根据权利要求1所述的高低温探针台测试装置，其特征在于，所述底支撑结构(1)包含底支座(11)、连接于底支座(11)上端中部的承接柱(12)和连接于承接柱(12)上端中部的安装板(13)。3.根据权利要求1所述的高低温探针台测试装置，其特征在于，所述探针测试结构(2)包含多个等距连接于安装板(13)上端外边缘的支架(21)、贯穿支架(21)上部的电动推杆(22)和连接于电动推杆(22)输出前端的测试探针(23)。4.根据权利要求3所述的高低温探针台测试装置，其特征在于，所述支架(21)呈L形状，其支架(21)通过底端前部的螺柱与安装板(13)...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晶晶，
申请(专利权)人：天津多为莱博科技有限公司，
类型：新型
国别省市：