集成电路测试方法和测试系统技术方案

集成电路测试方法和测试系统，涉及集成电路技术，本发明专利技术的测试方法包括下述步骤：

【技术实现步骤摘要】
集成电路测试方法和测试系统


[0001]本专利技术涉及集成电路技术，特别涉及集成电路测试技术
。

技术介绍

[0002]自动化测试设备
(ATE)
是集成电路测试必备设备，用来进行
IC
测试
。
一般包括计算机和软件系统
、
系统总线控制系统
、
图形存储器
、
图形控制器
、
定时发生器
、
精密测量单元
(PMU)、
可编程电源和测试台
、ATE
测试座等
。
[0003]现有技术中，
ATE
设备设计测试重复工作量大，占用
ATE
测试平台较长，不利于测试工作
、
不方便移动；如果采购多台
ATE
，其采购成本非常高昂，常规公司不能承担多台采购费用，加之维护及使用成本较高
。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种适用于多种测试仪且可进行快捷切换的集成电路测试方法和测试系统
。
[0005]本专利技术解决所述技术问题采用的技术方案是，集成电路测试方法，其特征在于，包括下述步骤：
[0006](1)
选定待测参数；
[0007](2)
对搭载有待测芯片的测试板卡进行视频采集，识别出与待测参数对应的测试板卡的扩展触点位置，所述测试板卡具有预定数量的扩展触点，扩展触点与待测芯片的外部连接端形成对应连接；
[0008](3)
机械臂移动对应于待测参数的探测信号输入部件，使其与识别确定的
、
对应于待测参数的扩展触点接触，以建立探测信号输入部件和待测芯片之间的测试连接关系；
[0009](4)
探测信号输入部件所属的测试仪输出测试信号
。
[0010]所述步骤
(3)
中，机械臂通过力反馈算法确定
Z
向移动距离，所述
Z
向为垂直于触点所在平面
(
即所在的测试板表面
)
的方向
。
[0011]所述步骤
(3)
中，通过对探测信号输入部件的特征点进行视频采集，以确定特征点的空间位置
。
[0012]探测信号输入部件为探针，所述特征点为探针的接触端，所述步骤
(3)
中，通过边缘识别算法确定探针接触端的实际位置，调整探针接触端的
X
向和
Y
向位置，使其与对应的扩展触点的
X
向和
Y
向位置重合，然后作
Z
向移动，使探针接触端的
Z
向位置与对应扩展触点的
Z
向位置重合
。
[0013]本专利技术还提供一种集成电路测试系统，包括图像采集单元和机架，所述机架上设置有测试板固定结构和至少一个测试仪固定结构
、
至少一个机械臂，所述机械臂包括空间位置调节单元和夹持结构；所述图像采集单元包括数据输出接口
。
[0014]进一步的，还包括通信中继模块，所述通信中继模块具有外部通信接口和至少一个内部通信接口，所述内部通信接口用于连接各测试仪，所述外部通信接口用于与外部计
算机通信
。
[0015]进一步的，所述机架上设置有密封结构，机械臂和测试板固定结构设置于密封结构的密封腔内
。
[0016]采用本专利技术技术，无需对测试仪本身的结构进行任何改动，可以灵活更换测试仪，本专利技术具有低成本和高可靠性的特点
。
附图说明
[0017]图1是本专利技术的整体结构示意图
。
[0018]图2是测试板的结构示意图
。
[0019]图3是实施例的机械臂
、
探针和测试板的位置关系示意图
。
具体实施方式
[0020]标记说明：
[0021]101 探针
[0022]102 机械臂
[0023]103 夹持结构
[0024]104 测试板
[0025]105 滑轨
[0026]106 摄像头
[0027]202 扩展触点
[0028]203 待测芯片
[0029]204 芯片通信接口
[0030]参见图1～图3，本专利技术提供一种集成电路测试系统，包括作为图像采集单元的摄像头
106
和机架，所述机架上设置有测试板固定结构和至少一个测试仪固定结构
、
至少一个机械臂，测试板固定结构和测试仪固定结构皆为插槽结构，所述机械臂包括空间位置调节单元和夹持结构，空间位置调节单元可以是滑轨及配合部件，机械臂的驱动模块通过通信接口连接到外部计算机；所述图像采集单元包括数据输出接口
。
[0031]进一步的，还包括通信中继模块，所述通信中继模块具有外部通信接口和至少一个内部通信接口，所述内部通信接口用于连接各测试仪，所述外部通信接口用于与外部计算机通信
。
[0032]进一步的，所述机架上设置有密封结构，使机架形成一个
4U
测试机柜，机械臂和测试板固定结构设置于密封结构的密封腔内
。
[0033]图2示出了一种最简化的测试板，适用于
20
个管脚的芯片，芯片的管脚一一引出至各扩展触点，从而将密集的管脚接口转换为空间上分散的扩展触点，便于和探针准确接触
。
[0034]图3示出了一个夹持了探针的机械臂和测试板之间的位置关系，机械臂可以在测试板上方空间自由移动
。
[0035]本专利技术还提供一种集成电路测试方法，包括下述步骤：
[0036](1)
选定待测参数，例如
FPGA
的特定两个管脚之间的电压；
[0037](2)
将待测
FPGA
安装在测试板上，然后通过测试板固定结构固定于机架上，通过芯
片通信接口和外部
PC
建立通信连接以便进行配置
。
对搭载有待测
FPGA
芯片的测试板卡进行视频采集，识别出与待测参数对应的测试板卡的扩展触点位置，所述测试板卡具有预定数量的扩展触点，扩展触点与待测芯片的外部连接端形成对应连接；
[0038](3)
依据待测参数选择对应的测试仪
(
电压计
)
，机械臂夹持电压计探针，使其与识别确定的扩展触点接触，以建立电压计探针和待测芯片之间的测试连接关系；
[0039](4)
对芯片施加激励，电压计输出测试信号
。
[0040]所述步骤
(3)
中，机械臂通过力反馈算法确定
Z
向移动距离，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
集成电路测试方法，其特征在于，包括下述步骤：
(1)
选定待测参数；
(2)
对搭载有待测芯片的测试板卡进行视频采集，识别出与待测参数对应的测试板卡的扩展触点位置，所述测试板卡具有预定数量的扩展触点，扩展触点与待测芯片的外部连接端形成对应连接；
(3)
机械臂移动对应于待测参数的探测信号输入部件，使其与识别确定的
、
对应于待测参数的扩展触点接触，以建立探测信号输入部件和待测芯片之间的测试连接关系；
(4)
探测信号输入部件所属的测试仪输出测试信号
。2.
如权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述步骤
(3)
中，机械臂通过力反馈算法确定
Z
向移动距离，所述
Z
向为垂直于触点所在平面的方向
。3.
如权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述步骤
(3)
中，通过对探测信号输入部件的特征点进行视频采集，以确定特征点的空间位置
。4.
如权利要求2所述的集成电路测试方法，其特征在于，探测信号输入部...

【专利技术属性】
技术研发人员：李友刚，
申请(专利权)人：成都华微电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：