集成电路测试方法和测试系统技术方案

集成电路测试方法和测试系统，涉及集成电路技术，本发明专利技术的测试方法包括下述步骤：

【技术实现步骤摘要】
集成电路测试方法和测试系统


[0001]本专利技术涉及集成电路技术，特别涉及集成电路测试技术
。

技术介绍

[0002]自动化测试设备
(ATE)
是集成电路测试必备设备，用来进行
IC
测试
。
一般包括计算机和软件系统
、
系统总线控制系统
、
图形存储器
、
图形控制器
、
定时发生器
、
精密测量单元
(PMU)、
可编程电源和测试台
、ATE
测试座等
。
[0003]现有技术中，
ATE
设备设计测试重复工作量大，占用
ATE
测试平台较长，不利于测试工作
、
不方便移动；如果采购多台
ATE
，其采购成本非常高昂，常规公司不能承担多台采购费用，加之维护及使用成本较高
。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种适用于多种测试仪且可进行快捷本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
集成电路测试方法，其特征在于，包括下述步骤：
(1)
选定待测参数；
(2)
对搭载有待测芯片的测试板卡进行视频采集，识别出与待测参数对应的测试板卡的扩展触点位置，所述测试板卡具有预定数量的扩展触点，扩展触点与待测芯片的外部连接端形成对应连接；
(3)
机械臂移动对应于待测参数的探测信号输入部件，使其与识别确定的
、
对应于待测参数的扩展触点接触，以建立探测信号输入部件和待测芯片之间的测试连接关系；
(4)
探测信号输入部件所属的测试仪输出测试信号
。2.
如权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述步骤
(3)
中，机械臂通过力反馈算法确定
Z
向移动距离，所述
Z
向为垂直于触点所在平面的方向
。3.
如权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述步骤
(3)
中，通过对探测信号输入部件的特征点进行视频采集，以确定特征点的空间位置
。4.
如权利要求2所述的集成电路测试方法，其特征在于，探测信号输入部...

【专利技术属性】
技术研发人员：李友刚，
申请(专利权)人：成都华微电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：