【技术实现步骤摘要】
一种利用同位素测量垫片泄漏率的方法和系统
[0001]本专利技术涉及化工测量领域,尤其涉及垫片泄漏率的测量
。
技术介绍
[0002]目前化工生产中的垫片实验密封测量设备难以适应化工厂的实际需求,针对某一个特定的压力容器的位置中的介质,现有的测量结果要么难以定量分析,要么测量气体分子量太小,例如氦气
He
的分子量为
4.0026
,但是在密封的化工领域,实际的化工气体几乎没有氦气这样的小分子量的气体,都是大分子量的如
HCL、CO2、CH4,
N2等等,难以反映真实的泄漏数据
。
技术实现思路
[0003]有鉴于现有技术的上述缺陷,本专利技术提供了一种利用同位素测量垫片泄漏率的系统,包括法兰盘式模拟装置;法兰盘式模拟装置包括上法兰盘和下法兰盘;当上法兰盘和下法兰盘对扣时,测试垫片和氟橡胶
O
型圈被压紧在其法兰部上;上法兰盘和下法兰盘的中心凹部共同限定了测试腔;测试腔由测试垫片密封,其容积为
Vt
;而法兰部被位于内侧的测试垫片和位于外侧的氟橡胶
O
型圈所密封的部分为标准腔,其容积为
Vs
;下法兰盘底部设置有和测试腔连通的同位素气体导入管道,下法兰盘侧面则设置有和标准腔连通的标准气体导入管道以及待测气体导出管道
。
[0004]进一步地,还包括液压机构,液压机构包括上夹板
、
下夹板和液压头,法兰盘式模拟装置被固定在上下夹板之间,当启动液 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种利用同位素测量垫片泄漏率的系统,其特征在于,包括法兰盘式模拟装置;法兰盘式模拟装置包括上法兰盘和下法兰盘;当上法兰盘和下法兰盘对扣时,测试垫片和氟橡胶
O
型圈被压紧在其法兰部上;上法兰盘和下法兰盘的中心凹部共同限定了测试腔;测试腔由测试垫片密封,其容积为
Vt
;而法兰部被位于内侧的测试垫片和位于外侧的氟橡胶
O
型圈所密封的部分为标准腔,其容积为
Vs
;下法兰盘底部设置有和测试腔连通的同位素气体导入管道,下法兰盘侧面则设置有和标准腔连通的标准气体导入管道以及待测气体导出管道
。2.
如权利要求1所述的利用同位素测量垫片泄漏率的系统,其中,还包括液压机构,液压机构包括上夹板
、
下夹板和液压头,法兰盘式模拟装置被固定在上下夹板之间,当启动液压泵时,液压头通过上下夹板压紧法兰盘式模拟装置
。3.
如权利要求2所述的利用同位素测量垫片泄漏率的系统,其中,还包括通过同位素气体导入管道连通至测试腔的
C
13
O2气瓶和减压阀
。4.
如权利要求3所述的利用同位素测量垫片泄漏率的系统,其中,还包括通过同位素气体导入管道连通至测试腔的真空泵
。5.
如权利要求4所述的利用同位素测量垫片泄漏率的系统,其中,还包括通过标准气体导入管道连通至标准腔的
C
12
O2气瓶和减压阀
。6.
如权利要求5所述的利用同位素测量垫片泄漏率的系统,其中,还包括通过待测气体导出管道连通至标准腔的同位素质谱仪
。7.
如权利要求6所述的利用同位素测量垫片泄漏率的系统,其中,还包括用于获取检测到的
C
13
O2摩尔质量分数占比
α
进行实时计算以获得泄漏率数据的计算控制与采集装置
。8.
一种利用同位素测量垫片泄漏率的方法,其特征在于,包括步骤:
(1)
提供一种法兰盘式模拟装置;法兰盘式模拟装置包括上法兰盘和下法兰盘;当上法兰盘和下法兰盘对扣时,测试垫片和氟橡胶
O
型圈被压紧在其法兰部上;上法兰盘和下法兰盘的中心凹部共同限定了测试腔;测试腔由测试垫片密封,其容积为
Vt
;而法兰部被位于内侧的测试垫片和位于外侧的氟橡胶
O
型圈所密封的部分为标准腔,其容积为
...
【专利技术属性】
技术研发人员:武跃维,徐丹丹,林剑红,
申请(专利权)人:宁波易天地信远密封技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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