图像测量设备制造技术

本发明专利技术涉及一种图像测量设备。提供了能够避免设备大小的增大并提高应对相对大的工件的能力的图像测量设备。该图像测量设备包括：可移动部，其设置在用于将摄像部支撑在台架上方的支撑部上，并且沿着摄像部的摄像轴可移动；外壳，其固定到可移动部，并且可拆装地附接有具有与工件接触的接触部的触针；触针保持部，其固定到支撑部并且用于保持触针；以及臂部，其在将触针保持在触针可附接到外壳的可附接位置和触针从可附接位置缩回的缩回位置之间期间进行移动。间期间进行移动。间期间进行移动。

【技术实现步骤摘要】
图像测量设备


[0001]本专利技术涉及用于显示工件图像并使用触摸探测器来测量工件的三维坐标的图像测量设备。

技术介绍

[0002]例如，JP 2012
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145422 A公开了包括图像探测器和触摸探测器这两者的三维测量机，其中该图像探测器用于拍摄工件的图像并测量该图像，该触摸探测器用于与台架上的工件接触并测量接触点的三维坐标。
[0003]在JP 2012
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145422 A的三维测量机中，在位于实际测量区域外部、但位于放置有工件的台架上的专用空间中安装有被配置为更换图像探测器和触摸探测器的探测器更换机。
[0004]另一方面，通常，触摸探测器的触针包括诸如十字形触针、L字形触针和T字形触针等的具有不同整体形状的触针或者具有不同大小的探测球的触针等，并且根据待测量对象和测量用途等而选择性地使用。因此，在JP 2012
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145422A中所公开的探测器更换机中，可以保持多个不同类型的触摸探测器。
[0005]在如JP 2012
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145422 A中那本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像测量设备，包括：台架，用于放置工件；基座，其能够移动地支撑所述台架；光投射部，其设置在所述基座上，并且用于用检测光照射所述台架上的工件；摄像部，用于接收所述光投射部所发射的检测光，并且生成工件图像；支撑部，其连接到所述基座，并且用于将所述摄像部支撑在所述台架上方；可移动部，其设置在所述支撑部中，并且能够沿着所述摄像部的摄像轴移动；外壳，其固定到所述可移动部，并且具有使得与所述工件接触的接触部的触针能够拆卸地附接到所述外壳；触针保持部，用于保持所述触针或多个所述触针；臂部，其附接到所述支撑部，用于支撑所述触针保持部，并且使得所述触针保持部所保持的触针在所述触针能够附接到所述外壳的可附接位置和从所述可附接位置缩回的缩回位置之间移动；以及控制部，用于进行控制，以通过使用所述臂部使所述触针移动到所述可附接位置并使用所述可移动部使所述外壳下降，来将所述触针附接到所述外壳。2.根据权利要求1所述的图像测量设备，其中，所述可移动部在沿着所述摄像轴的方向上移动，以执行所述摄像部的焦点调整。3.根据权利要求1所述的图像测量设备，其中，所述臂部使所述触针在与所述摄像轴正交的方向上移动。4.根据权利要求3所述的图像测量设备，其中，所述触针保持部能够布置在所述臂部的末端侧，转动部附接到所述支撑部，其中所述转动部连接到所述臂部的基端侧并且使所述触针保持部围绕与所述摄像轴平行的旋转轴转动，以及所述控制部控制所述转动部以使得所述触针布置在所述可附接位置处。5.根据权利要求4所述的图像测量设备，其中，所述转动部附接到所述支撑部，以使得所述旋转轴位于所述可附接位置处的触针和所述缩回位置处的触针之间。6.根据权利要求4所述的图像测量设备，还包括滑块部，所述滑块部用于使所述触针保持部在所述臂部的轴线方向上移动，其中，所述控制部控制所述滑块部以使得所述触针布置在所述可附接位置处...

【专利技术属性】
技术研发人员：柏原光宏，俞浩洋，
申请(专利权)人：株式会社基恩士，
类型：发明
国别省市：