一种自夹持测试转盘机构制造技术

本实用新型专利技术涉及半导体测试技术领域，公开了一种自夹持测试转盘机构，包括转盘组件、开夹组件和多个测试夹具，转盘组件包括盘体，测试夹具均布排列设于盘体的边沿，开夹组件设于盘体的一侧，开夹组件处设有开夹件，开夹件用于为测试夹具进行开夹；通过在盘体处设置多个测试夹具，通过转动转盘与开夹组件配合，对测试夹具进行自动开夹，再将待测的半导体产品放置于测试夹具处进行夹持测试，以提高对半导体产品的测试效率。产品的测试效率。产品的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种自夹持测试转盘机构


[0001]本技术涉及半导体测试
，特别涉及一种自夹持测试转盘机构。

技术介绍

[0002]随着电子产品更新速度越来越快，对半导体产品的生产效率要求也越来高，在半导体产品的自动化生产离不开元件测试机构，通过元件测试机构对半导体产品进行通电测试，以筛选次品，提升半导体产品的良品率，现有的元件测试机构一般效率较为低下，需要通过人工将半导体产品夹持至相应的检测夹具内以实现对半导体产品的检测，如此较为麻烦，且人工成本较高，由于人工夹持所导致的单个产品测试时间长也是现有的元件测试机构效率低下的重要原因之一，因此需要进行改进。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的是提出一种自夹持测试转盘机构，旨在提供一种检测效率高的自夹持测试转盘机构。
[0004]为实现上述目的，本技术提出一种自夹持测试转盘机构，包括转盘组件、开夹组件和多个测试夹具，转盘组件包括盘体，测试夹具均布排列设于盘体的边沿，开夹组件设于盘体的一侧，开夹组件处设有开夹件，开夹件用于为测试夹具进行开夹。
[0005]具体地，所述测试夹具包括检测夹板，检测夹板处设有检测槽，检测槽内设有测试探针，检测槽用于对半导体产品进行夹持并通过测试探针与半导体产品点连接以实现对半导体产品进行通电检测。
[0006]具体地，所述检测夹板包括第一检测板、第二检测板和压板，所述测试探针设于第一检测板的端部，第二检测板处设有与测试探针相对应的避位孔，第二检测板通过避位孔与测试探针的配合设于第一检测板设有测试探针的同一端，第二检测板的一侧壁设有向上凸起的挡块，压板枢接于第一检测板，压板与第一检测板紧贴时与挡块配合形成所述检测槽。
[0007]具体地，所述压板包括枢接部和压部，枢接部处设有枢接孔，枢接部通过枢接孔与所述第一检测板的中部枢接，压部的上端与所述挡块配合形成所述检测槽。
[0008]具体地，所述压部的下端设有复位拉块，所述第一检测板处设有一向下延伸的挂钩件，复位拉块处设有复位槽，相邻两个检测夹板之间设有复位弹簧，复位弹簧的一端与前一检测夹板的复位槽连接，复位弹簧的另一端与后一检测夹板的挂构件连接以实现对所述压板的自动复位。
[0009]具体地，所述压部的前端设有开夹块，开夹块与所述开夹件抵接，开夹块的下端设有可旋转的随动凸轮。
[0010]具体地，所述第一检测板相对于设有所述测试探针的另一端设有第一安装孔，所述盘体的边沿处设有与第一安装孔相对于的第二安装孔，所述检测夹板通过外部螺丝依次穿过第一安装孔和第二安装孔与盘体可拆卸连接。
[0011]具体地，所述开夹件包括开夹座、开夹驱动件和开夹挡件，开夹驱动件件设于开夹座处，开夹驱动件的驱动端与开夹挡件传动连接并驱动开夹挡件靠近或远离所述盘体。
[0012]具体地，所述开夹驱动件包括开夹电机，开夹电机的电机轴端处设有开夹凸轮，所述开夹座朝向开夹电机的电机轴的一端设有开夹滑轨，开夹滑轨上滑动设有开夹滑块，所述开夹挡件与开夹滑块连接，开夹凸轮与开夹挡件传动连接并驱动开夹挡件通过开夹滑块沿开夹滑轨移动。
[0013]具体地，所述开夹凸轮设于一与圆心错位设置的凸部，所述开夹挡件朝向开夹凸轮的一侧设有卡接头，卡接头与凸部连接。
[0014]本技术技术方案通过在盘体处设置多个测试夹具，通过转动转盘与开夹组件配合，对测试夹具进行自动开夹，再将待测的半导体产品放置于测试夹具处进行夹持测试，以提高对半导体产品的测试效率。
附图说明
[0015]图1为本技术的立体结构示意图。
[0016]图2为本技术的测试夹具与半导体产品的夹持状态示意图。
[0017]图3为本技术的测试夹具的结构示意图之一。
[0018]图4为本技术的测试夹具的结构示意图之二。
[0019]图5为本技术的开夹组件的结构示意图。
[0020]附图标记包括：10.转盘组件；20.测试夹具；21.第一检测板；22.第二检测板；23.压板；24.复位拉块；25.挂钩件；26.复位弹簧；27.随动凸轮；28.检测槽；29.测试探针；30.开夹组件；31.开夹座；32.开夹电机；33.开夹凸轮；34.开夹滑轨；35.开夹滑块；36.开夹挡件；40.半导体产品。
具体实施方式
[0021]下面将结合附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]需要说明，若本技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后、顶、底、内、外、垂向、横向、纵向，逆时针、顺时针、周向、径向、轴向
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0023]另外，若本技术实施例中有涉及“第一”或者“第二”等的描述，则该“第一”或者“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
[0024]如图1至5所示，一种自夹持测试转盘机构，包括转盘组件10、开夹组件30和多个测
试夹具20，转盘组件10包括盘体，测试夹具20均布排列设于盘体的边沿，开夹组件30设于盘体的一侧，开夹组件30处设有开夹件，开夹件用于为测试夹具20进行开夹。在对半导体产品40进行测试时，由转盘组件10处设置有转盘基座，盘体设于转盘基座处，盘体的上方设有用于为转盘基座和测试夹具20供电的导电滑环，由转盘基座带动盘体转动，在盘体转动时，由卡夹组件处设置的开价件对相应测试夹具20配合并对测试夹具20进行开价，以便于操作人员或机械臂将待测半导体放入测试夹具20或将测试夹具20处的半导体取出，以便于通过测试夹具20对半导体产品40进行通电检测，进而有效提高半导体产品40的检测效率。
[0025]测试夹具20包括检测夹板，检测夹板处设有检测槽28，检测槽28内设有测试探针29，检测槽28用于对半导体产品40进行夹持并通过测试探针29与半导体产品40点连接以实现对半导体产品40进行通电检测。在检测夹板处设有检测槽28，本实施例中在检测槽28内设有向上凸起的测试探针29，同时待测试的半导体产品40设有与测试探针29相对应的探针容纳槽，通过将半导体产品40放入检测槽28内，使得测试探针29位于探针容纳槽内，以实现半导体产品40与测试夹具20的电连接，进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自夹持测试转盘机构，其特征在于：包括转盘组件、开夹组件和多个测试夹具，转盘组件包括盘体，测试夹具均布排列设于盘体的边沿，开夹组件设于盘体的一侧，开夹组件处设有开夹件，开夹件用于为测试夹具进行开夹。2.根据权利要求1所述的一种自夹持测试转盘机构，其特征在于：所述测试夹具包括检测夹板，检测夹板处设有检测槽，检测槽内设有测试探针，检测槽用于对半导体产品进行夹持并通过测试探针与半导体产品点连接以实现对半导体产品进行通电检测。3.根据权利要求2所述的一种自夹持测试转盘机构，其特征在于：所述检测夹板包括第一检测板、第二检测板和压板，所述测试探针设于第一检测板的端部，第二检测板处设有与测试探针相对应的避位孔，第二检测板通过避位孔与测试探针的配合设于第一检测板设有测试探针的同一端，第二检测板的一侧壁设有向上凸起的挡块，压板枢接于第一检测板，压板与第一检测板紧贴时与挡块配合形成所述检测槽。4.根据权利要求3所述的一种自夹持测试转盘机构，其特征在于：所述压板包括枢接部和压部，枢接部处设有枢接孔，枢接部通过枢接孔与所述第一检测板的中部枢接，压部的上端与所述挡块配合形成所述检测槽。5.根据权利要求4所述的一种自夹持测试转盘机构，其特征在于：所述压部的下端设有复位拉块，所述第一检测板处设有一向下延伸的挂钩件，复位拉块处设有复位槽，相邻两个检测夹板之间设有复位弹簧，复位...

【专利技术属性】
技术研发人员：张明，徐鹏，崔强，余新飞，唐小东，
申请(专利权)人：深圳市微特精密科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：