一种天线检测治具制造技术

本申请公开一种天线检测治具，涉及天线检测技术领域。该天线检测治具包括基板和测试系统，基板用于放置待测天线，测试系统用于对待测天线进行测试，测试系统设置于基板的一侧，测试系统包括金属装置、PCB板和设置于PCB板上的测试探针，金属装置设置于基板上，或者金属装置设置于PCB板上，金属装置位于待测天线的近场区域，以增加待测天线的电场耦合量。本申请通过在天线检测治具上设置的金属装置，与待检测的天线之间形成耦合，增加待检测天线的电场耦合量，提升检测治具对待检测天线的S11参数的检测灵敏度。数的检测灵敏度。数的检测灵敏度。

【技术实现步骤摘要】
一种天线检测治具


[0001]本申请涉及天线检测
，尤其涉及一种天线检测治具。

技术介绍

[0002]随着手机、平板等电子设备的发展，电子设备的通信规格也在不断地提升，越来越多的PDS/LDS/FPC天线出现在了电子设备的天线设计方案中。目前，业内PDS天线加工厂商的S11检测手段拦截性较差，仅能检测出印刷天线的长度异常，断连，短路等缺陷。而且，上述的这些异常项，一般在进行目检和电阻检测的环节即可检测出来。而对天线性能影响较大的一些异常项，例如左右印制偏位，目前的检测仪器暂无可靠的检测性能，导致对一些不良品的天线无法进行检测。

技术实现思路

[0003]本申请提供一种天线检测治具，通过在天线检测治具上设置的金属装置，与待检测的天线之间形成耦合，增加待检测天线的电场耦合量，提升检测治具对待检测天线的S11参数的检测灵敏度。
[0004]为达到上述目的，本申请的实施例采用如下技术方案：
[0005]第一方面，提供一种天线检测治具，包括基板和测试系统，基板用于放置待测天线，测试系统用于对待测天线进行测试，测试系统设置于基板的一侧，测试系统包括金属装置、PCB板和设置于PCB板上的测试探针，金属装置设置于基板上，或者金属装置设置于PCB板上，金属装置位于待测天线的近场区域，以增加待测天线的电场耦合量。
[0006]在此基础上，通过设置测试系统和基板，测试系统中的PCB板和PCB板上的测试探针用于对待测天线进行测试，以获取测试信号。基板主要用于放置待测天线，且基板一般可以进行位置调整，以配合测试系统的位置，调整待测天线到合适的位置。通过在测试系统中设置金属装置，金属装置可以增加待测天线的电场耦合量，提升待测天线在产生异常时被检测的灵敏度。并且将金属装置设置在天线的近场区域，使得待测天线增加的电场耦合量可以满足相应的要求。
[0007]在第一方面的一种可能的设计方式中，金属装置设置在PCB板上靠近基板的一侧，基板靠近PCB板的一侧设置有凹槽，凹槽与金属装置相对应。
[0008]在此基础上，通过将金属装置设置在PCB板上，使得金属装置可以起到增加待测天线在测试时的电场耦合量，从而提高测试灵敏度，又不会直接与待测天线进行接触，避免对待测天线的测试参数产生影响。通过设置凹槽，并且将凹槽与金属装置对应设置，使得金属装置在测试过程中可以位于凹槽中，不会对测试过程产生干扰。
[0009]在第一方面的一种可能的设计方式中，待测天线位于基板的一侧，金属装置设置于基板的另一侧，或者金属装置设置于基板内。该设计方式给出了金属装置的一种具体的设置方式，通过将金属装置设置在远离待测天线的一侧或者设置在基板内，可以起到增加待测天线在测试时的电场耦合量，从而提高测试灵敏度，又不会直接与待测天线进行接触，
避免对待测天线的测试参数产生影响。
[0010]在第一方面的一种可能的设计方式中，金属装置为金属块、金属片或金属条。该设计方式给出了金属装置的一种具体设计形式。
[0011]在第一方面的一种可能的设计方式中，基板与PCB板之间通过连接杆连接，基板可相对连接杆滑动，实现靠近或者远离PCB板。
[0012]在此基础上，将基板与PCB板通过连接杆滑动连接，可以调节基板与PCB板之间的距离，从而调节待测天线与测试系统之间的距离，便于对待测天线进行测试。
[0013]在第一方面的一种可能的设计方式中，基板包括上基板和下基板，下基板位于上基板和PCB板之间，下基板与PCB板之间通过连接杆连接，待测天线放置于下基板上，上基板上连接有气泵，上基板用于推动下基板上的待测天线靠近并接触PCB板上的测试探针。
[0014]在此基础上，通过设置上基板和下基板，下基板主要用于放置待测天线，由于上基板上连接有气泵，因此可以控制气泵带动上基板进行运动，上基板可以带动下基板以及下基板上的待测天线进行运动，以靠近PCB板上的测试探针，使得测试探针可以对待测天线进行测试。
[0015]在第一方面的一种可能的设计方式中，下基板上设置有通孔，通孔与PCB板上的测试探针相对应，通孔用于测试探针穿过，对待测天线进行检测。
[0016]在第一方面的一种可能的设计方式中，金属装置设置于上基板内，或者设置于下基板内。该设计方式给出了金属装置的一种具体的设置位置。
[0017]在第一方面的一种可能的设计方式中，金属装置与PCB板上的接地电路相连接。在此基础上，通过将金属装置进行接地，可以改变金属装置与待测天线之间的电场耦合量。
[0018]在第一方面的一种可能的设计方式中，PCB板上还设置有连接电缆，连接电缆的另一端与矢量网络分析仪连接。在此基础上，通过设置连接电缆和网络分析仪，连接电缆用于将检测到的信号传输到网络分析仪，网络分析仪对检测到的信号进行分析，得到检测结果。
附图说明
[0019]图1为现有技术中一种电子设备中天线位置结构示意图
[0020]图2为现有技术中一种天线检测治具的内部结构示意图；
[0021]图3为图2所示的检测治具对天线样品的检测效果图；
[0022]图4为图2所示的检测治具对各种天线样品的检测效果仿真图；
[0023]图5为本申请实施例提供的一种天线检测治具的内部结构示意图；
[0024]图6为本身实施例提供的一种天线检测治具对各天线样品的检测效果仿真图；
[0025]图7为本申请实施例提供的一种天线检测治具对各天线样品的检测效果仿真图。
具体实施方式
[0026]下面将结合附图，对本申请中的技术方案进行描述。
[0027]在本申请实施例中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本申请实施例中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其它实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。
[0028]在本申请的实施例中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。
[0029]应理解，在本文中对各种所述示例的描述中所使用的术语只是为了描述特定示例，而并非旨在进行限制。如在对各种所述示例的描述中所使用的那样，单数形式“一个(“a”，“an”)”和“该”旨在也包括复数形式，除非上下文另外明确地指示。
[0030]本申请中，“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a,b,或c中的至少一项(个)，可以表示：a,b,c,a
‑
b,a
‑
c,b
‑
c,或a
‑
b
‑
c，其中a,b,c可以是单个，也可以是多个。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种天线检测治具，其特征在于，包括基板和测试系统，所述基板用于放置待测天线，所述测试系统用于对待测天线进行测试，所述测试系统设置于所述基板的一侧，所述测试系统包括金属装置、PCB板和设置于所述PCB板上的测试探针，所述金属装置设置于所述基板上，或者所述金属装置设置于所述PCB板上，所述金属装置位于所述待测天线的近场区域，以增加所述待测天线的电场耦合量。2.根据权利要求1所述的天线检测治具，其特征在于，所述金属装置设置在所述PCB板上靠近所述基板的一侧，所述基板靠近所述PCB板的一侧设置有凹槽，所述凹槽与所述金属装置相对应。3.根据权利要求1所述的天线检测治具，其特征在于，所述待测天线位于所述基板的一侧，所述金属装置设置于所述基板的另一侧，或者所述金属装置设置于所述基板内。4.根据权利要求1至3任意一项所述的天线检测治具，其特征在于，所述金属装置为金属块、金属片或金属条。5.根据权利要求4所述的天线检测治具，其特征在于，所述基板与所述PCB板之间通过连接杆连接，所述基板...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪晶，乔震宇，刘柱，孟航，
申请(专利权)人：荣耀终端有限公司，
类型：新型
国别省市：