本发明专利技术属于计算机硬件试验技术领域，尤其是涉及一种图形处理芯片GPU老化试验装置，包括箱体和显卡主体，所述箱体的内底固定安装有测试插槽，所述显卡主体位于测试插槽的插接端插接设置，所述显卡主体包括GPU组件，所述箱体的内部靠近GPU组件的一侧设置有机盒，所述机盒的内部设置有加热盒，且加热盒的内部固定安装有电热板，所述加热盒的侧壁开设有进风孔。本发明专利技术可以对GPU进行高温耐老化测试，且可以利用加热的风流对各个引脚进行针对性的高频脉冲喷吹振动，测试GPU引脚耐振动老化的抗疲劳性能，振动针对性强，模拟试验效果好，同时，可以提高对GPU引脚耐老化性能测试的精准性，并同步进行GPU抗静电性能的试验测试。并同步进行GPU抗静电性能的试验测试。并同步进行GPU抗静电性能的试验测试。
【技术实现步骤摘要】
一种图形处理芯片GPU老化试验装置
[0001]本专利技术属于计算机硬件试验
，尤其是涉及一种图形处理芯片GPU老化试验装置。
技术介绍
[0002]显卡是一种图形处理装置，与主板和处理器完全分离，它是一块独立的插槽卡，通过插入计算机主板上的PCIe插槽或其他适配器槽位来与计算机系统连接，而GPU就是显卡的主要组成部分，它负责处理图形和图像相关的任务。
[0003]目前，GPU芯片封装在显卡主体上，且显卡主体上的其它主要构件（如接口、显存等）都安装完成后，需要进行GPU的老化试验测试，一般是置于极限高温和极限负载环境下进行一定时间的工作，通过测试其工作性能，来判断GPU的耐老化性能，如专利公开号CN111610430A公开的一种图形处理芯片GPU老化试验装置；但是，在GPU的实际工作中，由于显卡上会安装专门的散热系统，如常见的散热风扇，其在工作时，风流和风扇自身转动的机械振动会导致GPU长期处于微振现象，微振会导致GPU引脚老化疲劳，甚至GPU引脚与显卡主体连接点的脱离，而虽然可以通过外置的振动模拟机构进行振动模拟，但是针对于引脚未完全脱离的现象非常不易发现，且外置振动模拟机构，无法对GPU引脚进行针对性冲击振动模拟，使用效果不佳。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是针对上述问题，提供一种图形处理芯片GPU老化试验装置。
[0005]为达到上述目的，本专利技术采用了下列技术方案：一种图形处理芯片GPU老化试验装置，包括箱体和显卡主体，所述箱体的内底固定安装有测试插槽，所述显卡主体位于测试插槽的插接端插接设置，所述显卡主体包括GPU组件，所述箱体的内部靠近GPU组件的一侧设置有机盒，所述机盒的内部设置有加热盒，且加热盒的内部固定安装有电热板，所述加热盒的侧壁开设有进风孔，所述加热盒的侧壁固定插接有多个与GPU组件的引脚对应的喷吹隔热毛细管，所述机盒的内部一体成型设置有进风机筒，所述进风机筒的内部安装有进风机构，所述进风机构与进风机筒共同安装有脉冲喷吹机构，所述箱体的内部远离GPU组件的一侧设置机架，所述机架的端面安装有感热检测机构，所述箱体的侧壁设置有与感热检测机构相配合的触发提示组件，所述脉冲喷吹机构还安装有静电产生机构，且机盒的端部安装有与静电产生组件相配合的静电引流组件，所述箱体的外侧壁固定安装有控制器，所述箱体的两个侧壁均固定插接有与控制器电性连接的电动推杆，所述机架和机盒的侧壁均与同侧电动推杆的输出端固定连接，所述箱体的底部固定安装有与测试插槽电连接的转接头，且箱体的顶部铰接有密封箱盖。
[0006]优选的，所述进风机构包括转动设置于进风机筒内部的转轴，所述转轴的轴端固定安装有风扇叶轮，所述进风机筒的端部固定安装有与控制器电性连接的驱动电机，且驱动电机的输出端与转轴传动连接，所述进风机筒的侧壁开设有出风孔。
[0007]优选的，所述脉冲喷吹机构包括设置于进风机筒与加热盒之间的密封块，所述密封块的侧壁固定安装有T形绝缘杆，所述T形绝缘杆的杆端穿过出风孔活动设置，所述转轴的轴壁固定插接有与T形绝缘杆位置相对应的凸轮，所述密封块的端部两侧均固定安装有滑杆，且两个滑杆的杆壁均与进风机筒的侧壁滑动连接，所述密封块与进风机筒之间共同固定设置有复位弹簧，所述进风孔的一侧设置有密封垫圈，且密封垫圈位于加热盒的外侧壁固定设置。
[0008]优选的，所述感热检测机构包括固定插接于机架端部的隔热板，所述隔热板的端部固定插接有多个导热绝缘杆，各个所述导热绝缘杆的杆端均固定安装有热敏电阻，各个所述热敏电阻的外侧均套设有绝缘隔热罩，且各个绝缘隔热罩均位于隔热板的侧壁固定设置，各个所述导热绝缘杆的杆壁均固定套接有隔热膜套。
[0009]优选的，所述触发提示组件包括开设于箱体外侧壁的凹槽，所述凹槽的槽底固定安装有多个电磁开关，且各个电磁开关均与对应的热敏电阻电性连接，所述箱体的外侧壁固定安装有时间继电器组件，且箱体的外侧壁固定安装有与时间继电器组件电性连接的蜂鸣器，多个所述电磁开关均通过控制器与时间继电器组件电性连接，所述凹槽的槽口封装有透明板。
[0010]优选的，所述静电产生机构包括固定安装于凸轮轮壁的弧形塑料条，所述T形绝缘杆的端部固定安装有橡胶半球。
[0011]优选的，所述静电引流组件固定设置于机盒外侧壁的T形通线空心杆，所述T形通线空心杆的杆壁滑动连接有中空绝缘柱，所述中空绝缘柱的端部固定插接有导电柱，且导电柱的端部与GPU组件的侧壁呈相接触设置，所述T形通线空心杆与中空绝缘柱之间共同固定设置有支撑弹簧，所述导电柱与橡胶半球之间通过导线电性连接。
[0012]优选的，各个所述电磁开关的一侧均设置有提示灯，且各个提示灯均位于凹槽的槽底固定设置，各个所述提示灯均与同侧电磁开关电性连接。
[0013]与现有的技术相比，一种图形处理芯片GPU老化试验装置的优点在于：通过设置的箱体、显卡主体、测试插槽、GPU组件、机盒、加热盒、进风孔、控制器、电动推杆、转接头和密封箱盖的相互配合，可以测试GPU在极限温度下的耐老化性能，而通过设置的多个喷吹隔热毛细管、进风机筒和脉冲喷吹机构的相互配合，可以利用加热的风流对各个引脚进行针对性的高频脉冲喷吹振动，从而可以测试GPU引脚耐振动老化的抗疲劳性能，振动针对性强，模拟试验效果好。
[0014]通过设置的机架和感热检测机构，可以基于GPU组件各个引脚振动前后的传热效率变化，而测试出引脚点位是否发生脱落现象，且可以测试出未完全脱落的点位，提高对引脚耐老化性能的测试精准性。
[0015]通过设置的触发提示组件，可以基于感热检测机构，在引脚点位发生脱离和松动现象时自动进行报警，配合设置的提示灯，可以标记脱离或松动的引脚点位，从而可以提醒工作人员检查GPU的前道组装程序。
[0016]通过设置的静电产生机构和静电引流组件的相互配合，可以在进行脉冲喷吹过程中，同步产生静电，从而可以在进行GPU老化测试的同时，同步进行GPU的抗静电性能测试。
附图说明
[0017]图1是本专利技术提供的一种图形处理芯片GPU老化试验装置的结构示意图；图2是本专利技术提供的一种图形处理芯片GPU老化试验装置的俯视剖面结构示意图；图3是本专利技术提供的一种图形处理芯片GPU老化试验装置的加热盒与机盒的俯视连接结构示意图；图4是本专利技术提供的一种图形处理芯片GPU老化试验装置的进风机筒的内部俯视结构示意图；图5是本专利技术提供的一种图形处理芯片GPU老化试验装置的感热检测机构的俯视结构示意图；图6是本专利技术提供的一种图形处理芯片GPU老化试验装置的中空绝缘柱的内部俯视结构示意图。
[0018]图中：1箱体、2显卡主体、3测试插槽、4GPU组件、5机盒、6加热盒、7电热板、8进风孔、9喷吹隔热毛细管、10进风机筒、11进风机构、111转轴、112风扇叶轮、113驱动电机、114出风孔、12脉冲喷吹机构、121密封块、122T形绝缘杆、123凸轮、124滑杆、125复位弹簧、126密封垫圈、13机架、14感热检测机构、141隔热板、142导热绝缘本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种图形处理芯片GPU老化试验装置，包括箱体（1）和显卡主体（2），其特征在于，所述箱体（1）的内底固定安装有测试插槽（3），所述显卡主体（2）位于测试插槽（3）的插接端插接设置，所述显卡主体（2）包括GPU组件（4），所述箱体（1）的内部靠近GPU组件（4）的一侧设置有机盒（5），所述机盒（5）的内部设置有加热盒（6），且加热盒（6）的内部固定安装有电热板（7），所述加热盒（6）的侧壁开设有进风孔（8），所述加热盒（6）的侧壁固定插接有多个与GPU组件（4）的引脚对应的喷吹隔热毛细管（9），所述机盒（5）的内部一体成型设置有进风机筒（10），所述进风机筒（10）的内部安装有进风机构（11），所述进风机构（11）与进风机筒（10）共同安装有脉冲喷吹机构（12），所述箱体（1）的内部远离GPU组件（4）的一侧设置机架（13），所述机架（13）的端面安装有感热检测机构（14），所述箱体（1）的侧壁设置有与感热检测机构（14）相配合的触发提示组件（15），所述脉冲喷吹机构（12）还安装有静电产生机构（16），且机盒（5）的端部安装有与静电产生组件相配合的静电引流组件（17），所述箱体（1）的外侧壁固定安装有控制器（18），所述箱体（1）的两个侧壁均固定插接有与控制器（18）电性连接的电动推杆（19），所述机架（13）和机盒（5）的侧壁均与同侧电动推杆（19）的输出端固定连接，所述箱体（1）的底部固定安装有与测试插槽（3）电连接的转接头（20），且箱体（1）的顶部铰接有密封箱盖（22）。2.根据权利要求1所述的一种图形处理芯片GPU老化试验装置，其特征在于，所述进风机构（11）包括转动设置于进风机筒（10）内部的转轴（111），所述转轴（111）的轴端固定安装有风扇叶轮（112），所述进风机筒（10）的端部固定安装有与控制器（18）电性连接的驱动电机（113），且驱动电机（113）的输出端与转轴（111）传动连接，所述进风机筒（10）的侧壁开设有出风孔（114）。3.根据权利要求2所述的一种图形处理芯片GPU老化试验装置，其特征在于，所述脉冲喷吹机构（12）包括设置于进风机筒（10）与加热盒（6）之间的密封块（121），所述密封块（121）的侧壁固定安装有T形绝缘杆（122），所述T形绝缘杆（122）的杆端穿过出风孔（114）活动设置，所述转轴（111）的轴壁固定插接有与T形绝缘杆（122）位置相对应的凸轮（123），所述密封块（121）的端部两侧均固定安装有滑杆（124），且两个滑杆（124）的杆壁均与进风机筒（10）的侧壁滑...
【专利技术属性】
技术研发人员：阎如斌，
申请(专利权)人：叩持西安电子信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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