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本发明属于计算机硬件试验技术领域，尤其是涉及一种图形处理芯片GPU老化试验装置，包括箱体和显卡主体，所述箱体的内底固定安装有测试插槽，所述显卡主体位于测试插槽的插接端插接设置，所述显卡主体包括GPU组件，所述箱体的内部靠近GPU组件的一侧设...
该专利属于叩持（西安）电子信息技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过叩持（西安）电子信息技术有限公司授权不得商用。

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