【技术实现步骤摘要】
一种测试设备
[0001]本专利技术涉及功能测试
,特别涉及一种测试设备。
技术介绍
[0002]功能测试系统(Functional Circuit Test,FCT)是指对印制电路板(Printed Circuit Board Assembly,PCBA)提供模拟的运行环境,主要是外部提供测试指令后,给PCBA产品提供不同的激励和负载使其工作在预设的各种状态,并输出对应的测试结果,从而获取的测试结果与理论值进行比较,判断PCBA产品是否达到品质要求。在进行FCT测试时,可以采用手动测试或半自动控制功能测试,近年来随着科技的发展,现在工厂也采用全自动测试方案进行测试。
[0003]目前生产测试的PCBA产品众多且品类复杂,PCBA产品换产速度快,但是由于全自动测试方案仅适用于单产品测试方式,会带来一些问题比如:若采用全自动测试方案会带来额外的人员工作负担,没有节省人工成本;或者全自动测试需要了解产品的设计方案,但是由于产品的换产设计方案复杂,给全自动测试过程增加了技术难题;或者因为全自动测试方案仅适用于单产品测试导致测试人员使用不便,所以若长期使用不便,还会带来设备闲置的风险。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供了一种测试设备,用以解决现有技术中全自动测试方案仅适用于单产品测试方式的问题。
[0005]第一方面,本申请实施例提供了一种测试设备,测试设备包括上位机、下位机和测试模块;测试模块包括至少两个用于测试印制电路板PCBA产品的测试工装;
[0006]上位机, ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试设备,其特征在于,所述测试设备包括上位机、下位机和测试模块;所述测试模块包括至少两个用于测试印制电路板PCBA产品的测试工装;所述上位机,用于向所述下位机发送测试指令,所述测试指令中携带有至少两个测试工装的标识信息;所述下位机,用于接收到所述测试指令后,根据所述测试指令中携带的至少两个测试工装的标识信息,控制所述测试模块中对应标识信息的测试工装上电;所述测试模块,用于对上电的测试工装中的待测PCBA产品进行测试,并将每个标识信息的测试工装对应的测试结果发送至所述上位机;所述上位机,还用于接收到所述测试模块发送的每个标识信息的测试工装对应的测试结果,并基于测试结果对每个测试工装对应的待测PCBA产品进行品质判断。2.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,所述测试设备的壳体上安装有每个测试工装对应的启动按钮;所述上位机,还用于当检测到任一测试工装对应的启动按钮被触发时,向所述下位机发送携带所述测试工装的标识信息的测试指令;所述下位机,具体用于接收到所述测试指令后,控制所述标识信息的测试工装对应的天板下降,当所述天板下降到工作位置时,所述标识信息的测试工装的测试电路导通;当确定所述标识信息的测试工装对应的天板下降到工作位置后,将所述标识信息的测试工装对应的天板下到位指令发送至所述上位机;所述上位机,还用于在接收到所述至少两个标识信息的测试工装对应的天板下到位指令后,向所述测试模块发送开始指令。3.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述上位机,还用于在接收到所述每个标识信息的测试工装对应的测试结果后,向所述下位机发送携带所述测试工装的标识信息的上升指令;所述下位机,还用于接收到所述上升指令后,控制对应标识信息的测试工装对应的天板上升,当确定所述标识信息的测试工装对应的天板上升到指定位置后,将所述标识信息的测试工装应的天板上到位指令发送至所述上位机;所述上位机,还用于接收所述上到位指令,确定所述测试模块中所述标识信息的测试工装恢复到初始状态。4.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述下位机,还用于在测试过程中,若接收到所述上位机发送的任一进行测试的测试工装对应的天板下降指令时,不执行该测试工装对应的天板下降指令。5.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述测试设备的壳体上还安装有急停按钮;所述上位机,还用于当检测到所述急停按钮被触发时,向所述下位机发送所述至少两个测试工装对应的天板上升指令;所述下位机,还用于接收所述天板上升指令,控制所述至少两个测试工装对应的天板上升,停止对所述至少两个测试工装的测试。6.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述测试设备还包括传感器;所述传感器,用于当识别到测试过程中存在危险时,向所述上位机发送告警信息;
所述上位机,还用于当接收到告警信息时,向所述下位机发送所述至少两个标识信息的测试工装对应的天板上升指...
【专利技术属性】
技术研发人员:樊艳飞,邹开元,李潍志,
申请(专利权)人:青岛智动精工电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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