一种检测电路及电子设备制造技术

本申请实施例提供的一种检测电路及电子设备，所述检测电路包括：第一系统级芯片SOC、时序控制器及第一电源模块；所述第一SOC与所述时序控制器连接，所述第一SOC用于响应于测试指令，将第一测试信号发送至所述时序控制器；所述第一电源模块与所述时序控制器连接；所述时序控制器，用于外接显示模块，根据所述第一测试信号控制所述第一电源模块为所述显示模块提供电信号，并根据所述第一测试信号生成测试显示信号，并将所述测试显示信号发送至所述显示模块。用以降低测试成本。所述显示模块。用以降低测试成本。所述显示模块。用以降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种检测电路及电子设备


[0001]本申请涉及显示
，具体地涉及一种检测电路及电子设备。

技术介绍

[0002]目前，随着科技的发展，消费级电子产品已经进入人们生活的方方面面，而消费级电子产品的可靠性相较于车载器件、航空器件等，其器件耐受性规格和使用寿命，都相对薄弱。为了降低成本，生产、检查和测试等环节不断精简，又对由多个模组器件组成的整机寿命产生了冲击。
[0003]基于此，在消费级电子产品中，尤其是使用期限在1年以上的电子产品，如电视、手机、冰箱、空调等，都需要有效的潜在性故障激发和远程维护方案，以降低维护成本并避免偶然风险导致的批量召回事件。
[0004]在一些技术中，通过老化测试对电子产品的潜在性故障进行激发。例如，针对电子产品的不同模组设置不同的用于老化测试的时序控制器，通过控制时序控制器向待测模组发送HVS(High voltage stress，高电压激发)数据和驱动电流/电压，加速激发待测模组的潜在性故障的发生，筛选出失效器件，提高产品的可靠性。示例性的，如图1a所示，在对电子产品中的显示面板老化测试时，需要预先设置用于显示面板内的不同模组进行老化测试的时序控制器。在对每个模组进行老化测试时，通过12V(伏)电源为时序控制器提供电压，并通过PG(Pattern Generator，图像发生器)向每个模组对应的时序控制器发送HVS图像信号及驱动电流/电压，以便对每个模组内可能存在的潜在性故障进行快速激发，例如，在对显示屏模组进行老化测试时，激发出因显示屏(Open
‑/>Cell，OC)异物而引起的故障，或者对COF(Chip on film，柔性薄膜集成芯片)模组进行老化测试时，激发出COF模组原生缺陷等。通过上述老化测试，可以在显示面板的各个模组中筛选出失效器件，提高显示面板的可靠性及良品率。
[0005]但是，现有的老化测试方法需要针对不同模组设置不同的时序控制器，并且该时序控制器仅是用于老化测试，使得老化测试的成本较高。

技术实现思路

[0006]有鉴于此，本申请提供一种检测电路及电子设备，以利于解决现有技术中测试成本高的问题。
[0007]第一方面，本申请实施例提供了一种检测电路，应用于电子设备，所述检测电路包括：第一系统级芯片SOC、时序控制器及第一电源模块；
[0008]所述第一SOC与所述时序控制器连接，所述第一SOC用于响应于测试指令，将第一测试信号发送至所述时序控制器；
[0009]所述第一电源模块与所述时序控制器连接；所述时序控制器，用于外接显示模块，根据所述第一测试信号控制所述第一电源模块为所述显示模块提供电信号，并根据所述第一测试信号生成测试显示信号，并将所述测试显示信号发送至所述显示模块。
[0010]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述第一测试信号包括第一测试控制信号、第一测试图像信号及第一侦测表征信号中的至少一种；
[0011]在所述第一测试信号包括第一测试控制信号时，所述第一SOC用于通过第一通道与所述时序控制器传输所述第一测试控制信号；或者，
[0012]在所述第一测试信号包括第一测试图像信号时，所述第一SOC用于通过第二通道向所述时序控制器发送所述第一测试图像信号；或者，
[0013]在所述第一测试信号包括第一侦测表征信号时，所述第一SOC用于通过第三通道与所述时序控制器传输所述第一侦测表征信号。
[0014]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述第一SOC还用于通过所述第一通道接收所述时序控制器发送的控制响应信号。
[0015]在第一方面的一种可能的实现方式中，还包括：第二电源模块及第一电压转换模块；
[0016]所述第二电源模块与所述第一电压转换模块的输入端连接；所述第一电压转换模块的输出端与所述第一电源模块连接；
[0017]所述第一电压转换模块，用于将所述第一电源模块提供的第一电压信号转换为所述第二电源模块的工作电压信号。
[0018]在第一方面的一种可能的实现方式中，还包括：与所述第一SOC连接的第一存储模块；
[0019]所述第一SOC，用于获取测试信息，并将所述测试信息存储至所述第一存储模块中；以及响应于测试指令，从所述第一存储模块中获取所述测试指令对应的测试信息并根据所述测试指令对应的测试信息生成第一测试信号，将所述第一测试信号发送至所述时序控制器。
[0020]在第一方面的一种可能的实现方式中，还包括：与所述第一SOC连接的第二存储模块；所述第二存储模块用于存储所述第一测试信号；
[0021]所述第一SOC，用于响应于测试指令，在所述第二存储模块中获取所述测试指令对应的第一测试信号，将所述第一测试信号发送至所述时序控制器。
[0022]在第一方面的一种可能的实现方式中，还包括：计数器；
[0023]所述第一SOC，还用于在检测到异常信息时，在预设时间段内将所述时序控制器的状态信号由第一数值切换为第二数值，并重新向所述时序控制器发送所述异常信息对应的目标信号；所述目标信号为所述第一SOC发送至所述时序控制器的信号中的任一信号；
[0024]所述计数器与所述第一SOC连接，用于检测到所述时序控制器的状态信号由第一数值切换为第二数值时，更新记录的错误信号发生次数。
[0025]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述计数器，还用于在接收到关闭信号时，清除记录的错误信号发生次数。
[0026]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述时序控制器，还用于在检测到异常信息时，向所述第一SOC返回所述异常信息。
[0027]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述第一SOC，还用于向所述时序控制器发送运行状态获取信号；
[0028]所述时序控制器，还用于响应于运行状态获取信号，获取运行状态信息，向所述第
一SOC返回所述运行状态信息；
[0029]所述第一SOC，还用于根据所述运行状态信息检测是否存在异常信息。
[0030]在第一方面的一种可能的实现方式中，还包括：
[0031]所述第一SOC，还用于获取用户触发的更新指示信息，并根据所述更新指示信息更新所述更新指示信息指示的目标数据。
[0032]第二方面，本申请实施例提供了一种检测电路，应用于电子设备，所述检测电路包括：第二系统级芯片SOC、第三电源模块；其中，所述第二SOC与所述第三电源模块连接；
[0033]所述第二SOC，用于外接显示模块，响应于测试指令，确定测试信号，根据所述测试信号控制所述第三电源模块向所述显示模块提供电信号，并根据所述测试信号生成测试显示信号，将所述测试显示信号发送至所述显示模块。
[0034]在第二方面的一种可能的实现方式中，所述第二测试信号包括第二测试图像信号及第二侦测表征信号中的至少一种；
[0035]在所述第二测试信号包括第二测试图像信号时，所述第二SOC用于根据所述第二测试图像信号生成测试显示图像信号，并通过第四通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测电路，其特征在于，应用于电子设备，所述检测电路包括：第一系统级芯片SOC、时序控制器及第一电源模块；所述第一SOC与所述时序控制器连接，所述第一SOC用于响应于测试指令，将第一测试信号发送至所述时序控制器；所述第一电源模块与所述时序控制器连接；所述时序控制器，用于外接显示模块，根据所述第一测试信号控制所述第一电源模块为所述显示模块提供电信号，并根据所述第一测试信号生成测试显示信号，将所述测试显示信号发送至所述显示模块。2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一测试信号包括第一测试控制信号、第一测试图像信号及第一侦测表征信号中的至少一种；在所述第一测试信号包括第一测试控制信号时，所述第一SOC用于通过第一通道与所述时序控制器传输所述第一测试控制信号；或者，在所述第一测试信号包括第一测试图像信号时，所述第一SOC用于通过第二通道向所述时序控制器发送所述第一测试图像信号；或者，在所述测试信号包括第一侦测表征信号时，所述第一SOC用于通过第三通道与所述时序控制器传输所述第一侦测表征信号。3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一SOC还用于通过所述第一通道接收所述时序控制器发送的控制响应信号。4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，还包括：第二电源模块及第一电压转换模块；所述第二电源模块与所述第一电压转换模块的输入端连接；所述第一电压转换模块的输出端与所述第一电源模块连接；所述第一电压转换模块，用于将所述第一电源模块提供的第一电压信号转换为所述第二电源模块的工作电压信号。5.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，还包括：与所述第一SOC连接的第一存储模块；所述第一SOC，用于获取测试信息，并将所述测试信息存储至所述第一存储模块中；以及响应于测试指令，从所述第一存储模块中获取所述测试指令对应的测试信息并根据所述测试指令对应的测试信息生成第一测试信号，将所述第一测试信号发送至所述时序控制器。6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，还包括：与所述第一SOC连接的第二存储模块；所述第二存储模块用于存储所述第一测试信号；所述第一SOC，用于响应于测试指令，在所述第二存储模块中获取所述测试指令对应的第一测试信号，将所述第一测试信号发送至所述时序控制器。7.根据权利要求1
‑
6任一项所述的检测电路，其特征在于，还包括：计数器；所述第一SOC，还用于在检测到异常信息时，将所述时序控制器的状态信号由第一数值切换为第二数值，并重新向所述时序控制器发送所述异常信息对应的目标信号；所述目标信号为所述第一SOC发送至所述时序控制器的信号中的任一信号；所述计数器与所述第一SOC连接，用于检测到所述时序控制器的状态信号由第一数值切换为第二数值时，更新记录的错误信号发生次数。
8.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，所述计数器，还用于在接收到关闭信号时，清除记录的错误信号发生次数。9.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，所述时序控制器，还用于在检测到异常信息时，向所述第一SOC返回所述异常信息。10.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，所述第一SOC，还用于向所述时序控制器发送运行状态获取信号；所述时序控制器，还用于响应于运行状态获取信号，获取运行状态信息，向所述第一SOC返回所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李星，刘建锋，王旭，杜伟，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：