显示面板及其老化测试方法、时序控制器和显示设备技术

本公开提供了一种显示面板及其老化测试方法、时序控制器和显示设备，其中的老化测试方法包括控制点灯机向显示面板的时序控制器发送老化测试信号，以使所述时序控制器基于所述老化测试信号，在第一时段输出高电平栅极电压和低电平数据电压，在第二时段输出低电平栅极电压和高电平数据电压。该老化测试方法能够提前触发并拦截显示产品的数据线扫描线短路的不良缺陷。的不良缺陷。的不良缺陷。

【技术实现步骤摘要】
显示面板及其老化测试方法、时序控制器和显示设备


[0001]本申请涉及显示
，尤其涉及一种显示面板及其老化测试方法、时序控制器和显示设备。

技术介绍

[0002]对于氧化物薄膜晶体管的显示产品，存在数据线扫描线短路(Data Gate short,DGS)不良，此不良往往在制造厂内检测时画面正常出货，但在客户终端处点灯使用一段时间后触发。故而DGS不良无法在制造厂内有效拦截，容易在客户终端使用一段时间后出现，造成显示产品的质量问题，影响客户的正常使用。

技术实现思路

[0003]鉴于上述问题，本公开提供了一种显示面板及其老化测试方法、时序控制器和显示设备，能够提前触发并拦截显示产品的DGS不良，减少客户终端处的显示产品质量问题。
[0004]第一方面，本公开通过一实施例提供如下的技术方案：
[0005]一种显示面板的老化测试方法，包括：
[0006]控制点灯机向显示面板的时序控制器发送老化测试信号，以使所述时序控制器基于所述老化测试信号，在第一时段输出高电平栅极电压和低电平数据电压，在第二时段输出低电平栅极电压和高电平数据电压。
[0007]在一些实施例中，所述高电平栅极电压和低电平数据电压之间的第一压差不低于35V，所述高电平数据电压和所述低电平栅极电压之间的第二压差不低于35V。
[0008]在一些实施例中，所述高电平栅极电压为移位寄存器中的高电平栅极电压设定范围的上限值，所述低电平数据电压为所述显示面板的全白画面负帧电压。
[0009]在一些实施例中，所述低电平栅极电压为移位寄存器中的低电平栅极电压设定范围的下限值，所述高电平数据电压为所述显示面板的全白画面正帧电压。
[0010]在一些实施例中，所述第一时段包括多个第一子时段，所述第二时段包括多个第二子时段，所述多个第一子时段和所述多个第二子时段间隔设置。
[0011]在一些实施例中，所述多个第一子时段和所述多个第二子时段呈周期性间隔设置，在一个周期内所述第一子时段和所述第二子时段的持续时间不超过50毫秒。
[0012]在一些实施例中，所述时序控制器基于所述老化测试信号，在所述第一时段输出第一公共电压，在所述第二时段输出第二公共电压；所述第一公共电压等于所述低电平数据电压，所述第二公共电压等于所述高电平数据电压。
[0013]在一些实施例中，所述控制点灯机向显示面板的时序控制器发送老化测试信号，包括：
[0014]控制所述点灯机通过内部自测接口向所述时序控制器的通用型输入输出接口输出高电平信号，所述高电平信号为所述老化测试信号。
[0015]第二方面，基于同一专利技术构思，本公开通过一实施例提供如下技术方案：
[0016]一种时序控制器，被配置为：
[0017]接收点灯机发送的老化测试信号，基于所述老化测试信号，在第一时段输出高电平栅极电压和低电平数据电压，在第二时段输出低电平栅极电压和高电平数据电压。
[0018]第三方面，基于同一专利技术构思，本公开通过一实施例提供如下技术方案：
[0019]一种显示面板，显示面板的驱动电路包括第二方面实施例提供的时序控制器。
[0020]第四方面，基于同一专利技术构思，本公开通过一实施例提供如下技术方案：
[0021]一种显示设备，包括第三方面实施例提供的显示面板。
[0022]通过本公开的一个或者多个技术方案，本公开具有以下有益效果或者优点：
[0023]本专利技术提供了一种老化测试方法，通过点灯机向时序控制器输出老化测试信号，使时序控制器进入特定测试模式，在第一时段输出高电平栅极电压VGH和低电平数据电压VDL，在第二时段输出低电平栅极电压VGL和高电平数据电压VDH，如此使扫描线Gate和数据线SD在第一时段里形成了VGH
‑
VDL的压差，在第二时段内形成了VDH
‑
VGL的压差，从而在不影响薄膜晶体管的TFT特性的前提下使Gate和SD之间保持较高的电位差，以快速激发DGS不良，将DGS不良及时拦截在显示产品的老化测试阶段，避免该不良流入客户端所造成的质量问题。
[0024]上述说明仅是本公开技术方案的概述，为了能够更清楚了解本公开的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本公开的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本公开的具体实施方式。
附图说明
[0025]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本公开的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。
[0026]在附图中：
[0027]图1示出了根据本公开实施例的GT异物的显微组织照片；
[0028]图2示出了根据本公开实施例的GI异物的显微组织照片；
[0029]图3示出了根据本公开实施例的扫描线和数据线之间的DGS激发机理示意图；
[0030]图4示出了根据本公开实施例的老化测试方法的流程示意图；
[0031]图5示出了根据本公开实施例的扫描线电压和数据线电压的时序控制示意图；
[0032]图6示出了根据本公开实施例的栅极驱动电路(GOA)的示意图。
具体实施方式
[0033]以下，将参照附图来描述本公开的实施例。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本公开的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本公开的概念。
[0034]在附图中示出了根据本公开实施例的各种结构示意图。这些图并非是按比例绘制的，其中为了清楚表达的目的，放大了某些细节，并且可能省略了某些细节。图中所示出的各种区域、层的形状以及它们之间的相对大小、位置关系仅是示例性的，实际中可能由于制造公差或技术限制而有所偏差，且本领域技术人员根据实际所需可以另外设计具有不同形
状、大小、相对位置的区域/层。
[0035]除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
[0036]研究表明，氧化物制程的TFT
‑
LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：控制点灯机向显示面板的时序控制器发送老化测试信号，以使所述时序控制器基于所述老化测试信号，在第一时段输出高电平栅极电压和低电平数据电压，在第二时段输出低电平栅极电压和高电平数据电压。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述高电平栅极电压和低电平数据电压之间的第一压差不低于35V，所述高电平数据电压和所述低电平栅极电压之间的第二压差不低于35V。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述高电平栅极电压为移位寄存器中的高电平栅极电压设定范围的上限值，所述低电平数据电压为所述显示面板的全白画面负帧电压。4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述低电平栅极电压为移位寄存器中的低电平栅极电压设定范围的下限值，所述高电平数据电压为所述显示面板的全白画面正帧电压。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一时段包括多个第一子时段，所述第二时段包括多个第二子时段，所述多个第一子时段和所述多个第二子时段间隔设置。6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述多...

【专利技术属性】
技术研发人员：周丽霞，徐阳，王海宏，
申请(专利权)人：南京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：