一种激光显示设备的控制系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及显示控制技术领域，公开了一种激光显示设备的控制系统及方法，用于提高对激光显示设备控制的准确率及效率。包括：进行位姿数据提取得到初始位姿数据集；对实际电信号集合进行位姿数据计算得到待比对位姿数据集；进行位姿数据计算得到标准位姿数据集；进行线性插值分析确定校准位姿数据，进行校准电信号生成得到校准电信号；采集图像数据得到目标图像数据并对目标图像数据进行移动轨迹分析，确定待分析移动轨迹；对图像数据进行数据格式分析确定图像数据格式，进行激光发射器扫描速度计算，确定目标扫描速度；对待分析移动轨迹进行校准路径计算，确定目标校准路径，对激光发射器进行目标校准控制。射器进行目标校准控制。射器进行目标校准控制。

【技术实现步骤摘要】
一种激光显示设备的控制系统及方法


[0001]本专利技术涉及显示控制
，尤其涉及一种激光显示设备的控制系统及方法。

技术介绍

[0002]激光显示设备是一种高级投影技术，利用激光光源将图像投射到目标平面上，具有高亮度、高对比度和高分辨率的特点，被广泛应用于各种场合，如演示、娱乐、虚拟现实等。然而，激光显示设备在实际应用中仍面临一些挑战，其中之一就是确保激光发射器的位置和角度准确，以实现高精度的图像投影。
[0003]传统的激光显示设备校准通常需要人工干预，调整激光发射器的位置和角度，这不仅费时费力，而且容易出现人为误差，影响校准的准确性和稳定性。一些现有的校准方法依赖于精确的机械结构，但在长时间使用后，设备可能会出现微小的偏差和松动，导致校准的精度下降。部分现有技术中的反馈控制并不实时，无法快速响应设备的运动变化，导致校准过程中的误差无法及时纠正，影响校准效果。并且由于环境、温度等因素的影响，激光显示设备的校准效果可能会出现波动，需要进一步提高校准的稳定性。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种激光显示设备的控制系统及方法，用于提高对激光显示设备控制的准确率及效率。
[0005]本专利技术第一方面提供了一种激光显示设备的控制方法，所述一种激光显示设备的控制方法包括：对激光显示设备中的激光发射器进行位姿数据提取，得到初始位姿数据集，其中，所述初始位姿数据集包括：所述激光发射器的初始位置坐标以及所述激光发射器的初始角度数据；采集所述激光显示设备在运行状态下的电信号，得到实际电信号集合，并通过预设的映射算法对所述实际电信号集合进行位姿数据计算，得到待比对位姿数据集；通过所述映射算法对预设的标准电信号集合进行位姿数据计算，得到标准位姿数据集；基于所述初始位姿数据集及所述标准位姿数据集，对所述待比对位姿数据集进行线性插值分析，确定校准位姿数据，并对所述校准位姿数据进行校准电信号生成，得到校准电信号，并通过所述校准电信号对所述激光发射器进行初始校准控制；采集所述激光显示设备在运行状态下产生的图像数据，得到目标图像数据，并对所述目标图像数据进行激光发射器移动轨迹分析，确定待分析移动轨迹；对所述图像数据进行数据格式分析，确定图像数据格式，并通过所述图像数据格式进行激光发射器扫描速度计算，确定目标扫描速度；基于所述目标扫描速度对所述待分析移动轨迹进行校准路径计算，确定目标校准路径，并通过所述目标校准路径对所述激光发射器进行目标校准控制。
[0006]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第一实施方式中，所述采集所述激光显示设备在运行状态下的电信号，得到实际电信号集合，并通过预设的映射算法对所述实际电信号集合进行位姿数据计算，得到待比对位姿数据集，包括：通过功率传感器采集所述激光显示设备在运行状态下的电信号，得到实际电信号集合；对所述激光显示设备进行设备标识分析，生成目标设备标识，并通过所述目标设备标识对所述激光显示设备进行光学系统参数提取，确定光学系统参数集合，其中，所述光学系统参数集合包括激光束发射角度及激光发射器的反射镜面面积；对所述光学系统参数进行位姿变化因素计算，确定位姿变化因素集合；基于所述位姿变化因素集合，通过所述映射算法对所述实际电信号集合进行位姿数据分析，得到待比对位姿数据集。
[0007]结合第一方面的第一实施方式，在本专利技术第一方面的第二实施方式中，所述对所述光学系统参数进行位姿变化因素计算，确定位姿变化因素集合，包括：对所述光学系统参数进行基于预设数据类型的参数遍历分类，得到多个子参数集；对每个所述子参数集进行位姿参数关键词提取，得到每个所述子参数集对应的关键词信息；通过每个所述子参数集对应的关键词信息进行变化因素类型构建，确定变化因素类型集，其中，所述变化因素类型集包括：激光束位置偏移、激光束角度偏移以及激光束形变；基于所述变化因素类型集，对所述光学系统参数进行位姿变化因素计算，得到所述位姿变化因素集合。
[0008]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第三实施方式中，所述基于所述初始位姿数据集及所述标准位姿数据集，对所述待比对位姿数据集进行线性插值分析，确定校准位姿数据，并对所述校准位姿数据进行校准电信号生成，得到校准电信号，并通过所述校准电信号对所述激光发射器进行初始校准控制，包括：对所述初始位姿数据集进行数据点遍历，得到多个初始位姿数据点；对所述标准位姿数据集进行数据点遍历，得到多个标准位姿数据点；对多个所述初始位姿数据点以及多个标准位姿数据点进行插值范围分析，确定目标插值范围；基于所述目标插值范围，对多个所述初始位姿数据点以及多个所述标准位姿数据点进行插值斜率分析，确定目标插值斜率；基于所述目标插值范围以及所述目标插值斜率，通过线性插值计算公式对所述待比对位姿数据集进行线性插值分析，确定校准位姿数据；对所述标准位姿数据进行激光器功率分析，确定激光器功率数据，并通过所述标准位姿数据对所述激光发射器进行频率分析，确定对应的频率数据；基于所述激光器功率数据以及所述频率数据进行电信号生成，得到标准电信号，并通过所述校准电信号对所述激光发射器进行初始校准控制。
[0009]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第四实施方式中，所述采集所述激光显示设
备在运行状态下产生的图像数据，得到目标图像数据，并对所述目标图像数据进行激光发射器移动轨迹分析，确定待分析移动轨迹，包括：采集所述激光显示设备在运行状态下产生的图像数据，得到目标图像数据；对所述目标图像数据进行二值化处理，得到二值化图像数据；对所述二值化图像数据进行边缘检测，得到边缘检测数据；基于所述边缘检测数据对所述二值化图像数据进行背景去除，得到候选图像数据；对所述候选图像数据进行激光点遍历分析，确定目标激光点集群；对所述目标激光点集群进行激光发射器移动轨迹分析，确定待分析移动轨迹。
[0010]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第五实施方式中，所述对所述图像数据进行数据格式分析，确定图像数据格式，并通过所述图像数据格式进行激光发射器扫描速度计算，确定目标扫描速度，包括：对所述图像数据进行编码方式提取，确定所述图像数据对应的目标编码方式；基于所述目标编码方式对所述图像数据进行数据结构分析，确定目标数据结构；基于所述目标数据结构对所述图像数据进行数据格式分析，确定图像数据格式；基于所述图像数据格式对所述图像数据进行激光像素点识别，确定目标激光像素点集；对所述目标激光像素点集每个激光像素点进行位置坐标分析，确定位置坐标集合；基于所述位置坐标集合进行扫描路径生成，确定目标扫描路径；基于所述目标扫描路径进行激光发射器扫描速度分析，得到目标扫描速度。
[0011]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第六实施方式中，所述基于所述目标扫描速度对所述待分析移动轨迹进行校准路径计算，确定目标校准路径，并通过所述目标校准路径对所述激光发射器进行目标校准控制，包括：基于所述目标扫描速度对所述待分析移动轨迹进行时间步长分割，得到多个待校准移动轨迹；对每个所述待校准移动轨迹进行期望速度规划，得到每个所述待校准移动轨迹对应的目标期望速度；基于每个所述待校准本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光显示设备的控制方法，其特征在于，所述一种激光显示设备的控制方法包括：对激光显示设备中的激光发射器进行位姿数据提取，得到初始位姿数据集，其中，所述初始位姿数据集包括：所述激光发射器的初始位置坐标以及所述激光发射器的初始角度数据；采集所述激光显示设备在运行状态下的电信号，得到实际电信号集合，并通过预设的映射算法对所述实际电信号集合进行位姿数据计算，得到待比对位姿数据集；通过所述映射算法对预设的标准电信号集合进行位姿数据计算，得到标准位姿数据集；基于所述初始位姿数据集及所述标准位姿数据集，对所述待比对位姿数据集进行线性插值分析，确定校准位姿数据，并对所述校准位姿数据进行校准电信号生成，得到校准电信号，并通过所述校准电信号对所述激光发射器进行初始校准控制；采集所述激光显示设备在运行状态下产生的图像数据，得到目标图像数据，并对所述目标图像数据进行激光发射器移动轨迹分析，确定待分析移动轨迹；对所述图像数据进行数据格式分析，确定图像数据格式，并通过所述图像数据格式进行激光发射器扫描速度计算，确定目标扫描速度；基于所述目标扫描速度对所述待分析移动轨迹进行校准路径计算，确定目标校准路径，并通过所述目标校准路径对所述激光发射器进行目标校准控制。2.根据权利要求1所述的激光显示设备的控制方法，其特征在于，所述采集所述激光显示设备在运行状态下的电信号，得到实际电信号集合，并通过预设的映射算法对所述实际电信号集合进行位姿数据计算，得到待比对位姿数据集，包括：通过功率传感器采集所述激光显示设备在运行状态下的电信号，得到实际电信号集合；对所述激光显示设备进行设备标识分析，生成目标设备标识，并通过所述目标设备标识对所述激光显示设备进行光学系统参数提取，确定光学系统参数集合，其中，所述光学系统参数集合包括激光束发射角度及激光发射器的反射镜面面积；对所述光学系统参数进行位姿变化因素计算，确定位姿变化因素集合；基于所述位姿变化因素集合，通过所述映射算法对所述实际电信号集合进行位姿数据分析，得到待比对位姿数据集。3.根据权利要求2所述的激光显示设备的控制方法，其特征在于，所述对所述光学系统参数进行位姿变化因素计算，确定位姿变化因素集合，包括：对所述光学系统参数进行基于预设数据类型的参数遍历分类，得到多个子参数集；对每个所述子参数集进行位姿参数关键词提取，得到每个所述子参数集对应的关键词信息；通过每个所述子参数集对应的关键词信息进行变化因素类型构建，确定变化因素类型集，其中，所述变化因素类型集包括：激光束位置偏移、激光束角度偏移以及激光束形变；基于所述变化因素类型集，对所述光学系统参数进行位姿变化因素计算，得到所述位姿变化因素集合。4.根据权利要求1所述的激光显示设备的控制方法，其特征在于，所述基于所述初始位
姿数据集及所述标准位姿数据集，对所述待比对位姿数据集进行线性插值分析，确定校准位姿数据，并对所述校准位姿数据进行校准电信号生成，得到校准电信号，并通过所述校准电信号对所述激光发射器进行初始校准控制，包括：对所述初始位姿数据集进行数据点遍历，得到多个初始位姿数据点；对所述标准位姿数据集进行数据点遍历，得到多个标准位姿数据点；对多个所述初始位姿数据点以及多个标准位姿数据点进行插值范围分析，确定目标插值范围；基于所述目标插值范围，对多个所述初始位姿数据点以及多个所述标准位姿数据点进行插值斜率分析，确定目标插值斜率；基于所述目标插值范围以及所述目标插值斜率，通过线性插值计算公式对所述待比对位姿数据集进行线性插值分析，确定校准位姿数据；对所述标准位姿数据进行激光器功率分析，确定激光器功率数据，并通过所述标准位姿数据对所述激光发射器进行频率分析，确定对应的频率数据；基于所述激光器功率数据以及所述频率数据进行电信号生成，得到标准电信号，并通过所述校准电信号对所述激光发射器进行初始校准控制。5.根据权利要求1所述的激光显示设备的控制方法，其特征在于，所述采集所述激光显示设备在运行状态下产生...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘太龙，张保平，
申请(专利权)人：深圳市宝溢显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：