一种S参数测试方法、装置、设备以及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种S参数测试方法、装置、设备以及存储介质。该方法包括：响应于S参数测试请求，建立与远程矢量网络分析仪的连接，并通过预设的测试端口连接待测器件；基于预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行设置，并根据设置结果进行S参数测试得到测试S参数；基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行处理，得到对应的特征参数信息，并根据测试S参数和特征参数信息，生成测试结果。本发明专利技术的技术方案，可以进行全面自动化的S参数测试，得到准确的测试S参数，同时，通过对测试S参数进行自动化的后处理以得到对应的特征参数信息，可以丰富获取的待测件的参数类型，有助于更好的对待测器件进行性能检验。对待测器件进行性能检验。对待测器件进行性能检验。

【技术实现步骤摘要】
一种S参数测试方法、装置、设备以及存储介质


[0001]本专利技术涉及射频微波领域，尤其涉及一种S参数测试方法、装置、设备以及存储介质。

技术介绍

[0002]S参数(Scatter参数，也叫散射参数)在射频、微波和信号完整性等领域的应用十分广泛，在实际应用中，经常需要对S参数进行测量以及测量后处理。
[0003]现有的S参数测量及后处理方法，通常为测试人员手动通过矢量网络分析仪获取并处理的，测试效率较低。因此，如何实现全面自动化的S参数测试，得到准确的测试S参数，同时丰富获取的待测件的参数类型，以更好的对待测器件进行性能检验，是目前亟待解决的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种S参数测试方法、装置、设备以及存储介质，可以进行全面自动化的S参数测试，得到准确的测试S参数，同时丰富获取的待测件的参数类型，有助于更好的对待测器件进行性能检验。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种S参数测试方法，包括：
[0006]响应于S参数测试请求，建立与远程矢量网络分析仪的连接，并通过预设的测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种S参数测试方法，其特征在于，包括：响应于S参数测试请求，建立与远程矢量网络分析仪的连接，并通过预设的测试端口连接待测器件；基于预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行设置，并根据设置结果进行S参数测试得到测试S参数；基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行处理，得到对应的特征参数信息，并根据测试S参数和特征参数信息，生成测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行处理，得到对应的特征参数信息，包括：基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行筛选，以得到与所述参数获取要求匹配的目标S参数，并对所述目标S参数进行计算得到目标S参数对应的特征参数信息。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述目标S参数进行计算得到目标S参数对应的特征参数信息，包括：确定目标S参数对应的S参数测试文件，并获取对应的文件信息；根据所述文件信息判断所述目标S参数是否符合目标参数文件格式；若不符合，则根据所述文件信息转换所述目标S参数的参数格式，并通过对转换参数格式后的目标S参数进行计算来得到对应的特征参数信息。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行设置，并根据设置结果进行S参数测试得到测试S参数，包括：根据预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行远程设置，并基于测试配置文件中设置的扫频参数，根据设置结果对所述待测器件进行S参数测试得到测试S参数；所述扫频参数包括以下至少一种：测试频率范围、端口激励频率、中频带宽、扫频间隔步长或者需在显示屏上展示的参数曲线。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过预设的测试端口连接待测器件之前，还包括：进行测试端口校准，并在校准完成后，确定是否存在远程矢量网络分析仪对应的预设校准文件；若是，则控制矢量网络分析仪加载预...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢勇，郭燕慧，翁超，
申请(专利权)人：中科可控信息产业有限公司，
类型：发明
国别省市：