一种S参数测试方法、装置、设备以及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种S参数测试方法、装置、设备以及存储介质。该方法包括：响应于S参数测试请求，建立与远程矢量网络分析仪的连接，并通过预设的测试端口连接待测器件；基于预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行设置，并根据设置结果进行S参数测试得到测试S参数；基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行处理，得到对应的特征参数信息，并根据测试S参数和特征参数信息，生成测试结果。本发明专利技术的技术方案，可以进行全面自动化的S参数测试，得到准确的测试S参数，同时，通过对测试S参数进行自动化的后处理以得到对应的特征参数信息，可以丰富获取的待测件的参数类型，有助于更好的对待测器件进行性能检验。对待测器件进行性能检验。对待测器件进行性能检验。

【技术实现步骤摘要】
一种S参数测试方法、装置、设备以及存储介质


[0001]本专利技术涉及射频微波领域，尤其涉及一种S参数测试方法、装置、设备以及存储介质。

技术介绍

[0002]S参数(Scatter参数，也叫散射参数)在射频、微波和信号完整性等领域的应用十分广泛，在实际应用中，经常需要对S参数进行测量以及测量后处理。
[0003]现有的S参数测量及后处理方法，通常为测试人员手动通过矢量网络分析仪获取并处理的，测试效率较低。因此，如何实现全面自动化的S参数测试，得到准确的测试S参数，同时丰富获取的待测件的参数类型，以更好的对待测器件进行性能检验，是目前亟待解决的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种S参数测试方法、装置、设备以及存储介质，可以进行全面自动化的S参数测试，得到准确的测试S参数，同时丰富获取的待测件的参数类型，有助于更好的对待测器件进行性能检验。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种S参数测试方法，包括：
[0006]响应于S参数测试请求，建立与远程矢量网络分析仪的连接，并通过预设的测试端口连接待测器件；
[0007]基于预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行设置，并根据设置结果进行S参数测试得到测试S参数；
[0008]基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行处理，得到对应的特征参数信息，并根据测试S参数和特征参数信息，生成测试结果。
[0009]可选的，基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行处理，得到对应的特征参数信息，包括：
[0010]基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行筛选，以得到与所述参数获取要求匹配的目标S参数，并对所述目标S参数进行计算得到目标S参数对应的特征参数信息。
[0011]这样设置的好处在于：通过基于预设的参数获取要求对测试S参数进行筛选，可以从测试S参数中筛选出与参数获取要求匹配的目标S参数，从而得到对应特征参数信息，有效丰富获取的待测件的参数类型，有助于更好的对待测器件进行相关的性能检验。
[0012]可选的，对所述目标S参数进行计算得到目标S参数对应的特征参数信息，包括：
[0013]确定目标S参数对应的S参数测试文件，并获取对应的文件信息；
[0014]根据所述文件信息判断所述目标S参数是否符合目标参数文件格式；
[0015]若不符合，则根据所述文件信息转换所述目标S参数的参数格式，并通过对转换参数格式后的目标S参数进行计算来得到对应的特征参数信息。
[0016]这样设置的好处在于：通过根据S参数测试文件的文件信息，可以对目标参数的格
式进行校验，在目标S参数的参数格式不符合目标参数文件格式的情况下给出了计算特征参数信息的方式，有效丰富获取的待测件的参数类型，有助于更好的对待测器件进行相关的性能检验。
[0017]可选的，基于预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行设置，并根据设置结果进行S参数测试得到测试S参数，包括：
[0018]根据预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行远程设置，并基于测试配置文件中设置的扫频参数，根据设置结果对所述待测器件进行S参数测试得到测试S参数；所述扫频参数包括以下至少一种：测试频率范围、端口激励频率、中频带宽、扫频间隔步长或者需在显示屏上展示的参数曲线。
[0019]这样设置的好处在于：通过基于预设的测试配置文件先执行测试操作设置，进一步根据测试配置文件中设置的扫频参数再进行S参数测试，可以实现全面高效的自动化S参数测试，得到准确的测试S参数。
[0020]可选的，通过预设的测试端口连接待测器件之前，还包括：
[0021]进行测试端口校准，并在校准完成后，确定是否存在远程矢量网络分析仪对应的预设校准文件；
[0022]若是，则控制矢量网络分析仪加载预设校准文件，以得到校准S参数；
[0023]判断所述校准S参数是否符合预设标准，若否，则返回执行测试端口校准操作。
[0024]这样设置的好处在于：通过自动加载预设校准文件并确定是否合格，可以提高预设校准文件判断的效率，通过在预设校准文件不合格时及时重新确定，可以提高通过加载预设校准文件后的矢量网络分析仪测量得到的S参数的准确性。
[0025]可选的，得到测试S参数之后，还包括：
[0026]根据预设规范要求从所述测试S参数中确定待评估S参数；其中，所述预设规范要求根据与所述测试S参数关联的待测器件确定；
[0027]判断所述待评估S参数与所述预设规范要求中规范参数的差异是否超过预设阈值；若是，则进行评估未通过的提示。
[0028]这样设置的好处在于：通过具体限定参数规范对比的具体流程，可以使得待评估S参数的判断与待测器件关联，便于根据不同的待测器件进行相应的S参数处理，提高S参数处理的针对性。
[0029]可选的，根据测试S参数和特征参数信息，生成测试结果之后，还包括：
[0030]判断预设数据库中是否存在与所述测试S参数和所述特征参数信息对应的仿真S参数；
[0031]若存在，则根据所述测试S参数和所述特征参数信息中的至少一种，对所述仿真S参数进行检验，并生成参数分析结果。
[0032]这样设置的好处在于：由于测试S参数通常较为准确，通过测试S参数和/或特征参数信息验证仿真S参数的准确性，可以及时发现由于仿真参数过程产生错误等原因导致与实际误差较大的仿真S参数，从而便于后续改善S参数的仿真流程，提高S参数仿真的准确性。
[0033]根据本专利技术的另一方面，提供了一种S参数测试装置，包括：
[0034]连接模块，用于响应于S参数测试请求，建立与远程矢量网络分析仪的连接，并通
过预设的测试端口连接待测器件；
[0035]测试模块，用于基于预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行设置，并根据设置结果进行S参数测试得到测试S参数；
[0036]生成模块，用于基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行处理，得到对应的特征参数信息，并根据测试S参数和特征参数信息，生成测试结果。
[0037]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0038]至少一个处理器；以及
[0039]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0040]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的S参数测试方法。
[0041]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的S参数测试方法。
[0042]本专利技术实施例的技术方案，响应于S参数测试请求，建立与远程矢量网络分析仪的连接，并通过预设的测试端口连接待测器件，基于预设的测试配置文件，对待测器件的测试操作进行设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种S参数测试方法，其特征在于，包括：响应于S参数测试请求，建立与远程矢量网络分析仪的连接，并通过预设的测试端口连接待测器件；基于预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行设置，并根据设置结果进行S参数测试得到测试S参数；基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行处理，得到对应的特征参数信息，并根据测试S参数和特征参数信息，生成测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行处理，得到对应的特征参数信息，包括：基于预设的参数获取要求，对测试S参数进行筛选，以得到与所述参数获取要求匹配的目标S参数，并对所述目标S参数进行计算得到目标S参数对应的特征参数信息。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述目标S参数进行计算得到目标S参数对应的特征参数信息，包括：确定目标S参数对应的S参数测试文件，并获取对应的文件信息；根据所述文件信息判断所述目标S参数是否符合目标参数文件格式；若不符合，则根据所述文件信息转换所述目标S参数的参数格式，并通过对转换参数格式后的目标S参数进行计算来得到对应的特征参数信息。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行设置，并根据设置结果进行S参数测试得到测试S参数，包括：根据预设的测试配置文件，对所述待测器件的测试操作进行远程设置，并基于测试配置文件中设置的扫频参数，根据设置结果对所述待测器件进行S参数测试得到测试S参数；所述扫频参数包括以下至少一种：测试频率范围、端口激励频率、中频带宽、扫频间隔步长或者需在显示屏上展示的参数曲线。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过预设的测试端口连接待测器件之前，还包括：进行测试端口校准，并在校准完成后，确定是否存在远程矢量网络分析仪对应的预设校准文件；若是，则控制矢量网络分析仪加载预...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢勇，郭燕慧，翁超，
申请(专利权)人：中科可控信息产业有限公司，
类型：发明
国别省市：