EMC近场电磁场检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了EMC近场电磁场检测设备，涉及近场电磁场检测技术领域，包括检测台，所述驱动机构的端部固接有近场探头，所述圆槽的底端均固接有一号弹簧，所述一号弹簧的顶端均固接有U形杆，两个所述直块相靠近的一侧均开设有斜轨，所述铰接板靠近直块的一侧均固接有滑杆，本实用新型专利技术通过下压U形杆，使得U形杆通过铰接板带动滑杆在斜轨内滑动，当滑杆位于最低端时，U形杆紧紧的对工件进行挤压固定，在重力的作用下，铰接板处于垂直状态，并且滑杆自动进入横轨内，此时即实现对工件的固定，反之，轻轻拨动U形杆，即可取消对工件的挤压固定，从而在检测的过程中，避免工件位置发生偏移，不会出现重复和遗漏的现象，确保了检测数据的精确度。据的精确度。据的精确度。

【技术实现步骤摘要】
EMC近场电磁场检测设备


[0001]本技术涉及近场电磁场检测
，具体是EMC近场电磁场检测设备。

技术介绍

[0002]电磁辐射检测仪可用于电场、磁场辐射检测，电磁辐射检测仪适用于居家、办公室、户外、工业场所等场所，其能够检测出被测工件的电子辐射强度，模拟被测工件上的电磁场辐射强度分布状态，进而对被测工件上超标准范围进行整改。
[0003]目前，利用检测探头对电子电路板进行检测时，由于驱动检测探头移动的驱动机构会产生震动，因而电子电路板受到震动的影响，位置会发生偏移，导致检测的数据存在重复和检测遗漏的现象，造成检测数据不精确的情况发生。为此，需要一种EMC近场电磁场检测设备，以解决上述技术问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的就是为了弥补现有技术的不足，提供了EMC近场电磁场检测设备。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：EMC近场电磁场检测设备，包括检测台，所述检测台的顶端设有驱动机构，所述驱动机构的端部固接有近场探头，所述检测台的顶部设有工件，所述检测台的顶部设有固定机构，所述检测台的内部设有调节机构；
[0006]所述固定机构包括设在检测台顶端两侧的直块，所述直块的顶端均开设有圆槽，所述圆槽的底端均固接有一号弹簧，所述一号弹簧的顶端均固接有U形杆，且U形杆的另一端位于圆槽的外部，两个所述直块相靠近的一侧均开设有斜轨，所述斜轨的底端均开设有横轨，所述U形杆内侧的顶端铰接有铰接板，所述U形杆的顶端固接有弧形杆，所述铰接板靠近直块的一侧均固接有滑杆。
[0007]优选地，所述调节机构包括开设在检测台内部的内腔，所述内腔顶端的两侧均开设有滑孔，所述滑孔的两端之间均固接有限位杆，所述限位杆的外侧均滑动连接有滑块，所述限位杆的外侧均套设有二号弹簧，且二号弹簧的两端均分别与滑块和滑孔侧壁固接，所述内腔靠近驱动机构的一侧转动连接有转轴，且转轴的端部延伸至检测台的外部，两个所述滑块相靠近的一侧均固接有拉绳，且拉绳的底端均与转轴固接，所述转轴侧面开设有方形槽，所述方形槽内滑动连接有方杆，所述检测台的侧面固接有固定环，所述固定环的内侧固接有一组一号卡条，所述方杆的外侧固接有一组连接杆，所述连接杆的端部均固接有圆环，所述圆环的外侧均固接有一组二号卡条。
[0008]优选地，所述检测台的前侧固接有频谱分析仪，所述频谱分析仪与近场探头电性连接。
[0009]优选地，所述U形杆位于圆槽外部一侧的底端均转动连接有圆球，且圆球的底端均与工件的顶端相接触。
[0010]优选地，所述方杆位于方形槽内部的一端固接有三号弹簧，且三号弹簧的另一端
与方形槽的内侧固接。
[0011]优选地，所述检测台底端的两侧均固接有支撑腿，且驱动机构与检测台之间通过一组螺栓连接。
[0012]优选地，所述方杆位于方形槽外部的一端固接有旋转杆，所述旋转杆的外侧固接有海绵套。
[0013]有益效果：
[0014]与现有技术相比，该EMC近场电磁场检测设备具备如下有益效果：
[0015]一、本技术通过下压U形杆，使得U形杆通过铰接板带动滑杆在斜轨内滑动，当滑杆位于最低端时，U形杆紧紧的对工件进行挤压固定，在重力的作用下，铰接板处于垂直状态，并且滑杆自动进入横轨内，此时即实现对工件的固定，反之，轻轻拨动U形杆，即可实现取消对工件的挤压固定，从而在检测的过程中，避免工件位置发生偏移，不会出现重复和遗漏的现象，确保了检测数据的精确度。
[0016]二、本技术通过向外拉动方杆，并转动方杆，使其带动转轴转动，拉绳会逐渐缠绕在转轴上，或逐渐松弛，此时能够控制两个固定机构相互靠近或远离，当调节至合适距离后，再次将方杆向方形槽内滑动，使得二号卡条再次卡入一号卡条内，从而实现对调节后固定机构距离的固定，有利于适应于不同大小的工件，适用范围广。
附图说明
[0017]图1为本技术的立体结构示意图；
[0018]图2为本技术中固定机构的局部剖面结构示意图；
[0019]图3为本技术中固定机构的结构示意图；
[0020]图4为本技术的剖面结构示意图；
[0021]图5为本技术中调节机构的结构示意图。
[0022]图中：1、检测台，2、驱动机构，3、近场探头，4、工件，5、固定机构，51、直块，52、圆槽，53、一号弹簧，54、U形杆，55、斜轨，56、横轨，57、铰接板，58、弧形杆，59、滑杆，6、调节机构，60、内腔，61、滑孔，62、限位杆，63、滑块，64、二号弹簧，65、转轴，66、拉绳，67、方形槽，68、固定环，69、一号卡条，690、方杆，691、连接杆，692、圆环，693、二号卡条，7、频谱分析仪，8、圆球，9、三号弹簧，10、支撑腿，11、螺栓，12、旋转杆，13、海绵套。
具体实施方式
[0023]以下结合附图对本技术的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本技术，并非用于限定本技术的范围。
[0024]如图1～图5所示，EMC近场电磁场检测设备，包括检测台1，检测台1的顶端设有驱动机构2，驱动机构2的端部固接有近场探头3，检测台1的顶部设有工件4。检测台1的前侧固接有频谱分析仪7，频谱分析仪7与近场探头3电性连接，近场探头3为使用拥有特殊绝缘场的探头，频谱分析仪7能够读取检测数据和操作数据，频谱分析仪7输出显示图形，可实现测量数据的存储和输出。检测台1底端的两侧均固接有支撑腿10，且驱动机构2与检测台1之间通过一组螺栓11连接，支撑腿10对该设备起到了稳固支撑的作用，螺栓11的设计，稳固了驱动机构2，且方便拆卸。检测台1的顶部设有固定机构5，检测台1的内部设有调节机构6。
[0025]固定机构5包括设在检测台1顶端两侧的直块51，直块51的顶端均开设有圆槽52，圆槽52的底端均固接有一号弹簧53，一号弹簧53的顶端均固接有U形杆54，且U形杆54的另一端位于圆槽52的外部。U形杆54位于圆槽52外部一侧的底端均转动连接有圆球8，且圆球8的底端均与工件4的顶端相接触，圆球8的设计，有利于减小与工件4的接触面积，同时在拨动U形杆54时，转动的圆球8有利于减小与工件4之间的摩擦。两个直块51相靠近的一侧均开设有斜轨55，斜轨55的底端均开设有横轨56，U形杆54内侧的顶端铰接有铰接板57，U形杆54的顶端固接有弧形杆58，铰接板57靠近直块51的一侧均固接有滑杆59。
[0026]在工作时，将工件4放于检测台1上，而后向下按压U形杆54，U形杆54的一端对一号弹簧53挤压，另一端向下移动，同时U形杆54的中部带动铰接板57下移，铰接板57带动滑杆59在斜轨55内向下滑动，当滑动至铰接板57最低端时，在重力的作用下，铰接板57处于垂直状态，此时滑杆59自动进入横轨56内，并且U形杆54的底端将工件4紧紧的挤压固定，当需要取出工件4时，向斜轨55一侧，轻轻拨动U形杆54，U形杆54通过弧形杆58带动铰接板57本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.EMC近场电磁场检测设备，包括检测台(1)，其特征在于：所述检测台(1)的顶端设有驱动机构(2)，所述驱动机构(2)的端部固接有近场探头(3)，所述检测台(1)的顶部设有工件(4)，所述检测台(1)的顶部设有固定机构(5)，所述检测台(1)的内部设有调节机构(6)；所述固定机构(5)包括设在检测台(1)顶端两侧的直块(51)，所述直块(51)的顶端均开设有圆槽(52)，所述圆槽(52)的底端均固接有一号弹簧(53)，所述一号弹簧(53)的顶端均固接有U形杆(54)，且U形杆(54)的另一端位于圆槽(52)的外部，两个所述直块(51)相靠近的一侧均开设有斜轨(55)，所述斜轨(55)的底端均开设有横轨(56)，所述U形杆(54)内侧的顶端铰接有铰接板(57)，所述U形杆(54)的顶端固接有弧形杆(58)，所述铰接板(57)靠近直块(51)的一侧均固接有滑杆(59)。2.根据权利要求1所述的EMC近场电磁场检测设备，其特征在于：所述调节机构(6)包括开设在检测台(1)内部的内腔(60)，所述内腔(60)顶端的两侧均开设有滑孔(61)，所述滑孔(61)的两端之间均固接有限位杆(62)，所述限位杆(62)的外侧均滑动连接有滑块(63)，所述限位杆(62)的外侧均套设有二号弹簧(64)，且二号弹簧(64)的两端均分别与滑块(63)和滑孔(61)的侧壁固接，所述内腔(60)靠近驱动机构(2)的一侧转动连接有转轴(65)，且转轴(65)的端部延伸至检测台(1)的外部，两个所述滑块(63...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈国琦，
申请(专利权)人：武汉神州技测科技有限公司，
类型：新型
国别省市：