本申请提供了一种折边缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。该折边缺陷检测方法，应用于折边缺陷检测系统，折边缺陷检测系统包括围绕待测物体的光源，折边缺陷检测方法包括：对于任意一个目标折边，开启光源中与目标折边相对的区域，并进行图像采集，得到第一图像；基于第一图像，判断目标折边是否存在缺陷。该方法可以实现对目标折边进行均匀打光，有效的消除折边圆弧角反光及成像不均匀的问题，基于低干扰噪声的第一图像进行图像识别，可准确判断待测物体的折边是否存在缺陷。可准确判断待测物体的折边是否存在缺陷。可准确判断待测物体的折边是否存在缺陷。
【技术实现步骤摘要】
折边缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质
[0001]本申请涉及缺陷检测
，尤其涉及一种折边缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。
技术介绍
[0002]随着工业自动化的发展，各个行业都面临着从效率、节能、信息化、安全化等各方面进行综合性的产业升级，而图像处理技术的发展使得在产品制造生产的过程中基于产品的图像自动进行缺陷检测、良品判断等工作，因而被广泛应用在各种产品的生产工艺中。
[0003]目前，许多产品的生产过程中包括利用折边工艺进行折边的生产环节，如电芯生产过程中，在电芯完成封边后需要将多余的裙边切除，将裁切后的裙边进行折边等操作。传统技术中基于图像进行检测的方案，对于存在折边的产品，存在着难以准确判断折边处是否存在缺陷的问题。
技术实现思路
[0004]本申请的目的旨在至少能解决上述的技术缺陷之一，特别是现有技术中折边缺陷检测结果不够准确的技术缺陷。
[0005]第一方面，本申请提供了一种折边缺陷检测方法，应用于折边缺陷检测系统，折边缺陷检测系统包括围绕待测物体的光源，折边缺陷检测方法包括：
[0006]对于任意一个目标折边，开启光源中与目标折边相对的区域，并进行图像采集，得到第一图像；
[0007]基于第一图像，判断目标折边是否存在缺陷。
[0008]在其中一个实施例中，根据第一图像判断目标折边是否存在缺陷，包括：
[0009]基于第一图像，定位疑似缺陷区域；
[0010]根据疑似缺陷区域进行边界轮廓提取，得到疑似缺陷边界；
[0011]在疑似缺陷边界存在凸起的情况下，判定疑似缺陷区域存在缺陷。
[0012]在其中一个实施例中，基于第一图像，定位疑似缺陷区域，包括；
[0013]在第一图像截取与目标折边对应区域的图像，得到第二图像；
[0014]对第二图像进行灰度开运算，得到第三图像；
[0015]对第二图像进行灰度闭运算，得到第四图像；
[0016]根据第三图像和第四图像相同位置点之间灰度值的差大于灰度差阈值的特征区域，得到疑似缺陷区域。
[0017]在其中一个实施例中，在第一图像截取与目标折边对应区域的图像，得到第二图像，包括：
[0018]获取目标折边对应的第一角点和第二角点的模版图像；
[0019]将模版图像与第一图像进行匹配，确定第一角点和第二角点的坐标；
[0020]根据第一角点和第二角点的坐标，生成第一截图框；
[0021]在第一图像中，根据第一截图框进行图像截取，得到第二图像。
[0022]在其中一个实施例中，根据疑似缺陷区域进行边界轮廓提取，得到疑似缺陷边界，包括：
[0023]根据疑似缺陷区域，生成第二截图框；
[0024]在第三图像中，根据第二截图框进行图像截取，得到第五图像；
[0025]在第五图像上进行边界轮廓提取，得到疑似缺陷边界。
[0026]在其中一个实施例中，在根据疑似缺陷区域，生成第二截图框之前，还包括：
[0027]将疑似缺陷区域中面积小于面积阈值的疑似缺陷区域排除。
[0028]在其中一个实施例中，在根据疑似缺陷区域，生成第二截图框之前，还包括：
[0029]确定目标折边对应的第一角点和第二角点所在直线；
[0030]将疑似缺陷区域与直线的距离大于距离阈值的疑似缺陷区域排除。
[0031]在其中一个实施例中，根据疑似缺陷区域，生成第二截图框，包括：
[0032]确定疑似缺陷区域的最小外接矩形；
[0033]根据最小外接矩形的尺寸和历史缺陷统计尺寸之间的差，对最小外接矩形进行调整；
[0034]根据调整后的最小外接矩形，生成第二截图框。
[0035]在其中一个实施例中，疑似缺陷边界是否存在凸起的判断过程包括：
[0036]按照预设步长在疑似缺陷边界取检测点；
[0037]确定相邻的检测点所在直线的斜率；
[0038]在斜率之间的差大于判断阈值的情况下，判定疑似缺陷边界存在凸起。
[0039]第二方面，本申请提供了一种折边缺陷检测装置，应用于折边缺陷检测系统，折边缺陷检测系统包括围绕待测物体的光源，折边缺陷检测装置包括：
[0040]数据获取模块，用于对于任意一个目标折边，开启光源中与目标折边相对的区域，并进行图像采集，得到第一图像；
[0041]缺陷检测模块，用于基于第一图像，判断目标折边是否存在缺陷。
[0042]第二方面，本申请提供了一种折边缺陷检测系统，包括：
[0043]图像采集单元，用于采集待测物体的图像；
[0044]光源，光源围绕待测物体布设；
[0045]计算机设备，分别与光源和图像采集单元连接，包括一个或多个处理器，以及存储器，存储器中存储有计算机可读指令，计算机可读指令被一个或多个处理器执行时，执行上述任一实施例中的折边缺陷检测方法的步骤。
[0046]从以上技术方案可以看出，本申请实施例具有以下优点：
[0047]基于上述任一实施例，利用折边缺陷检测系统中可分区域控制的光源，当需要检测任意目标折边时，开启该目标折边相对区域的光源，对目标折边进行均匀打光，有效的消除折边圆弧角反光及成像不均匀的问题，基于低干扰噪声的第一图像进行图像识别，可准确判断待测物体的折边是否存在缺陷。
附图说明
[0048]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现
有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0049]图1为本申请一个实施例提供的折边缺陷检测系统的结构示意图；
[0050]图2为本申请一个实施例提供的折边缺陷检测方法的流程示意图；
[0051]图3为本申请一个实施例中第一图像的示意图；
[0052]图4为本申请另一个实施例中第一图像的示意图；
[0053]图5为本申请一个实施例中基于第一图像进行折边缺陷判断的流程示意图；
[0054]图6为本申请一个实施例中基于第一图像定位疑似缺陷区域的流程示意图；
[0055]图7为本申请一个实施例中第三图像的示意图；
[0056]图8为本申请一个实施例中第四图像的示意图；
[0057]图9为本申请一个实施例中在第一图像截取出第二图像的流程示意图；
[0058]图10为本申请一个实施例中得到疑似缺陷边界的流程示意图；
[0059]图11为本申请一个实施例中第五图像的示意图；
[0060]图12为本申请一个实施例中生成第二截图框的流程示意图；
[0061]图13为本申请一个实施例中判断疑似缺陷边界是否存在凸起的流程示意图；
[0062]图14为本申请一个实施例提供的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种折边缺陷检测方法，其特征在于，应用于折边缺陷检测系统，所述折边缺陷检测系统包括围绕待测物体的光源，所述折边缺陷检测方法包括：对于任意一个目标折边，开启所述光源中与所述目标折边相对的区域，并进行图像采集，得到第一图像；基于所述第一图像，判断所述目标折边是否存在缺陷。2.根据权利要求1所述的折边缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一图像判断所述目标折边是否存在缺陷，包括：基于所述第一图像，定位疑似缺陷区域；根据所述疑似缺陷区域进行边界轮廓提取，得到疑似缺陷边界；在所述疑似缺陷边界存在凸起的情况下，判定所述疑似缺陷区域存在缺陷。3.根据权利要求2所述的折边缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述第一图像，定位疑似缺陷区域，包括；在所述第一图像截取与所述目标折边对应区域的图像，得到第二图像；对所述第二图像进行灰度开运算，得到第三图像；对所述第二图像进行灰度闭运算，得到第四图像；根据所述第三图像和所述第四图像相同位置点之间灰度值的差大于灰度差阈值的特征区域，得到所述疑似缺陷区域。4.根据权利要求3所述的折边缺陷检测方法，其特征在于，所述在所述第一图像截取与所述目标折边对应区域的图像，得到第二图像，包括：获取所述目标折边对应的第一角点和第二角点的模版图像；将所述模版图像与所述第一图像进行匹配，确定所述第一角点和所述第二角点的坐标；根据所述第一角点和所述第二角点的坐标，生成第一截图框；在所述第一图像中，根据所述第一截图框进行图像截取，得到所述第二图像。5.根据权利要求3所述的折边缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述疑似缺陷区域进行边界轮廓提取，得到疑似缺陷边界，包括：根据所述疑似缺陷区域，生成第二截图框；在所述第三图像中，根...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：广东利元亨智能装备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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