检测设备制造技术

本申请涉及一种检测设备，根据本实用新型专利技术实施例的检测设备，检测设备用于检测待测工件，包括：机架；至少两个载台，载台可移动地设于机架上，载台在上料位置和检测位置之间可移动，载台上设有两个呈对角线设置的定位结构，定位结构用于对待测工件进行限位；检测仪设于机架上，在载台移动至检测位置时，载台位于检测仪的下方；读码器设于机架上，在载台移动至检测位置时，载台上的待测工件与读码器相对；控制器设于机架上，控制器与读码器和检测仪电性连接。根据本实用新型专利技术实施例的检测设备，能够提升检测效率，减少了检测设备的停机等待；两个呈对角线设置的定位结构能够在实现对待测工件进行定位的同时，对待测工件的具体形状无限制。无限制。无限制。

【技术实现步骤摘要】
检测设备


[0001]本申请涉及检测设备
，尤其涉及一种检测设备。

技术介绍

[0002]在工件出厂前，需要对工件的几何尺寸和形状进行检测，通常使用CMM(三次元量测仪)对工件进行检测，CMM检测的原理是：将被测物体置于三次元量测空间，通过探测传感器与量测空间轴线运动的配合可获得被测物体上各测点的坐标位置，根据这些点的空间坐标值，能够计算得出被测物体的几何尺寸、形状和位置。但是，CMM检测速度较慢，对车间环境有要求，会受到温湿度、噪音、振动以及粉尘等的影响。部分厂家会使用专用检具进行检测，但是这些专用检具只能针对特定工件专机使用，无通用性，导致投入成本高，经济性差。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种检测设备，所述检测设备能够通过设置至少两个载台，提升检测效率，两个呈对角线设置的定位结构能够在实现对待测工件进行定位的同时，对待测工件的具体形状无限制。
[0004]根据本技术的检测设备，用于检测待测工件，包括：
[0005]机架；
[0006]至少两个载台，所述载台可移动地设于所述机架上，所述载台具有上料位置和检测位置，所述载台在所述上料位置和所述检测位置之间可移动，所述载台上设有两个呈对角线设置的定位结构，所述定位结构用于对所述待测工件进行限位；
[0007]检测仪，所述检测仪可移动地设于所述机架上，在所述载台处于所述检测位置时，所述检测仪移动至所述载台的上方；
[0008]读码器，所述读码器设于所述机架上，在所述载台移动至所述检测位置时，所述载台上的待测工件与所述读码器相对。
[0009]根据本技术的检测设备，所述机架上还设有控制器、两个驱动部以及两个滑移模组，所述滑移模组包括导轨和可滑动地设于所述导轨上的滑块，所述滑块与所述驱动部传动连接，所述滑块与所述载台连接，所述驱动部、所述读码器和所述检测仪均与所述控制器电性连接。
[0010]可选地，所述两个滑移模组并排设置。
[0011]根据本技术的检测设备，所述载台上还设有传感器，所述传感器与所述控制器电性连接。
[0012]根据本技术的检测设备，所述定位结构被配置为球锁轴组件。
[0013]可选地，所述定位结构可拆卸地设于所述载台上，所述载台上设有沿X轴方向依次排列的多个安装孔和沿Y轴方向依次排列的多个安装孔，所述定位结构可通过紧固件与任一所述安装孔连接。
[0014]根据本技术的检测设备，所述机架上还设有支架组件，所述支架组件上设有
所述读码器，所述读码器在X轴方向和Y轴方向的位置可调。
[0015]可选地，所述支架组件包括基座，所述基座与所述机架连接，所述基座上支撑杆，所述支撑杆沿Y轴方向延伸，所述支撑杆上设有滑移块，所述滑移块上设有第一限位件，所述第一限位件具有解锁状态和锁止状态，所述第一限位件处于所述解锁状态时，所述滑移块沿所述支撑杆可移动，所述第一限位件处于锁止状态时，所述滑移块锁止在所述支撑杆上，所述滑移块上设有导向孔，所述导向孔内穿设有安装杆，所述安装杆沿X轴方向延伸，所述滑移块上设有第二限位件，所述第二限位件处于解锁状态和锁止状态，所述第二限位件处于所述解锁状态时，所述安装杆可沿所述滑移块移动，所述第二限位件处于锁止状态时，所述安装杆锁止在所述滑移块上。
[0016]根据本技术的检测设备，所述机架上还设有操作台和按钮，所述操作台和所述按钮并排设置，所述按钮与所述控制器电性连接。
[0017]可选地，所述操作台下方设有废料箱。
[0018]本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：
[0019]本申请实施例提供的检测设备，通过设置至少两个载台，在检测仪对其中一个待测工件进行检测时，另一个载台可以用于装载待测工件，这样当检测完成之后，检测完成的待测工件随载台移回上料位置时，同时另一个装载有待测工件的载台可以移向检测位置，供检测仪进行检测，这样能够提升检测效率，减少了检测设备的停机等待；载台上设有两个呈对角线设置的定位结构，这样，能够在实现对待测工件进行定位的同时，对待测工件的具体形状无限制，均能够通过定位结构实现定位，对于不同形状的待测工件均可适配。
附图说明
[0020]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本技术的实施例，并与说明书一起用于解释本技术的原理。
[0021]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
[0023]图1示出了根据本技术实施例的检测设备的立体图；
[0024]图2示出了根据本技术实施例的检测设备的局部结构示意图；
[0025]图3示出了根据本技术实施例的检测设备的另一个局部示意图；
[0026]图4示出了根据本技术实施例的检测设备的支架组件的立体示意图；
[0027]图5示出了根据本技术实施例的检测设备的检测仪的立体图。
[0028]附图标记：
[0029]检测设备1，
[0030]机架10，载台20，定位结构30，球锁轴组件31，检测仪40，读码器50，滑移模组60，导轨61，传感器70，支架组件80，基座81，支撑杆82，滑移块83，安装杆84，驱动部90，操作台91，按钮92，废料箱93，(校准部94)，显示屏95，控制器96。
具体实施方式
[0031]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0032]下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本技术的不同结构。为了简化本技术的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本技术。此外，本技术可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。
[0033]图1示出了检测设备的立体图；图2示出了检测设备的局部结构示意图；图3示出了检测设备的另一个局部示意图，其中，校准块94安装于载台上；图4示出了检测设备的支架组件的立体示意图；图5示出了检测设备的检测仪的立体图。
[0034]如图1
‑
图3所示，根据本技术实施例的检测设备1，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测设备，用于检测待测工件，其特征在于，包括：机架；至少两个载台，所述载台可移动地设于所述机架上，所述载台具有上料位置和检测位置，所述载台在所述上料位置和所述检测位置之间可移动，所述载台上设有两个呈对角线设置的定位结构，所述定位结构用于对所述待测工件进行限位；检测仪，所述检测仪可移动地设于所述机架上，在所述载台处于所述检测位置时，所述检测仪移动至所述载台的上方；读码器，所述读码器设于所述机架上，在所述载台移动至所述检测位置时，所述载台上的待测工件与所述读码器相对。2.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述机架上还设有控制器、两个驱动部以及两个滑移模组，所述滑移模组包括导轨和可滑动地设于所述导轨上的滑块，所述滑块与所述驱动部传动连接，所述滑块与所述载台连接，所述驱动部、所述读码器和所述检测仪均与所述控制器电性连接。3.根据权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述两个滑移模组并排设置。4.根据权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述载台上还设有传感器，所述传感器与所述控制器电性连接。5.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述定位结构被配置为球锁轴组件。6.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述定位结构可拆卸地设于所述载台上，所述载台上设有沿X...

【专利技术属性】
技术研发人员：张海燕，胡世其，李方华，
申请(专利权)人：磐吉奥科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：