一种多通道PWM输出数字电路自检方法技术

本发明专利技术公开了一种多通道PWM输出数字电路自检方法，涉及芯片检测领域，该多通道PWM输出数字电路自检方法包括以下步骤：步骤1，设定PWM驱动芯片每个通道相同的PWM信号并输出；步骤2，通道的PWM信号输出至或电路，所有通道输入的PWM信号至少有一个为“1”时，输出“1”信号，否则输出“0”信号；本发明专利技术的有益效果是：本发明专利技术通过判断同一个PWM驱动芯片的多个输出通道输出的PWM信号是否一致，PWM信号不一致时即会出现反馈PWM驱动芯片不合格；由于自检电路采用芯片本身的数字时钟对数字输出进行电平采集、对比，避免测试时钟和芯片时钟不同步等问题，并能够实现高到低所有数据位的检测，实现了自检功能。检功能。检功能。

【技术实现步骤摘要】
一种多通道PWM输出数字电路自检方法


[0001]本专利技术涉及芯片检测领域，具体是一种多通道PWM输出数字电路自检方法。

技术介绍

[0002]传统数模混合PWM(脉冲宽度调制)驱动芯片检测方法是通过ATE(集成电路自动测试机)测试设备检测PWM输出电平的占空比，从而在测试过程中挑选出PWM功能不良芯片。
[0003]请参阅图1，在芯片测试过程需要添加负载，以验证芯片的驱动能力，但由于测试过程中添加负载导致的输出波形与理想中的波形存在偏差(如图1虚线部分)。由于需要驱动负载，实际的波形上升比设计的波形上升慢，另芯片本身的时钟与ATE的测试时钟不同步，而且对测试的精度有比较大的要求，故很难对虚线的部分量化测量。另外由于芯片间驱动能力的差异，每个芯片PWM实际输出虚线部分并不是固定的范围，为了减小测试过程中的误测率，故在测试过程中，增加测试余量margin(如图1阴影部分)。此做法容易造成了在测试的过程中对低位数据的忽略，例如16bit数据16
‘
hff00与16
’
hff01,低位1没有办法做到精确测量。对低位数据检测的忽略，容易造成有缺陷芯片外流。
[0004]因此，由于测试过程中添加测试负载导致波形上升或者下降偏差、测试设备的采集精度、采集的时钟频率等问题，容易对低位数据测试精度忽略，需要改进。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种多通道PWM输出数字电路自检方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0007]一种多通道PWM输出数字电路自检方法，包括以下步骤：
[0008]步骤1，设定PWM驱动芯片每个通道相同的PWM信号并输出；
[0009]步骤2，通道的PWM信号输出至或电路，所有通道输入的PWM信号至少有一个为“1”时，输出“1”信号，否则输出“0”信号；
[0010]步骤3，通道的PWM信号输出至与电路；所有通道输入的PWM信号全部为“1”时，输出“1”信号，否则输出“0”信号；
[0011]步骤4，检测或电路和与电路输出的信号是否相同，相同输出“0”信号，不相同输出“1”信号，输出“1”信号判断PWM驱动芯片不合格。
[0012]作为本专利技术再进一步的方案：所述多通道PWM输出数字电路自检方法，还包括以下步骤：
[0013]步骤5，判断或电路和与电路输出的信号是否同时输出“1”信号，都是“1”信号时，计数器计数加1；
[0014]步骤6，判断计数器最终计数和设定PWM信号的“1”是否一致，不一致，判断PWM驱动芯片不合格。
[0015]作为本专利技术再进一步的方案：步骤5包括：
[0016]步骤51，判断或电路和与电路输出的信号是否一致；
[0017]步骤52，判断一致的信号是否为“1”，为“1”时为计数器提供一个电压信号；
[0018]步骤53，计数器从零开始计数，每次接收到一个电压信号都加1；
[0019]步骤54，PWM周期结束后，计数器锁定计数。
[0020]作为本专利技术再进一步的方案：步骤6包括：
[0021]步骤61,获取计数器计数；
[0022]步骤62，获取PWM驱动芯片通道设定PWM信号的“1”信号个数；
[0023]步骤63，判断计算机计数和设定PWM信号的“1”信号个数是否一致；不一致，PWM驱动芯片不合格。
[0024]作为本专利技术再进一步的方案：步骤1包括：
[0025]步骤11，PWM驱动芯片每个通道设定相同的PWM信号；
[0026]步骤12，PWM驱动芯片输出PWM信号。
[0027]作为本专利技术再进一步的方案：步骤4包括：
[0028]步骤41，检测或电路和与电路输出的信号是否相同；
[0029]步骤42，相同输出“0”信号，不相同输出“1”信号；
[0030]步骤43，PWM周期结束后，未出现“1”信号，PWM驱动芯片合格；PWM周期过程中，出现“1”信号直接判断PWM驱动芯片不合格。
[0031]作为本专利技术再进一步的方案：采用PWM驱动芯片本身的数字时钟对数字信号输出进行电平采集、对比。
[0032]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术通过通过构建芯片内部数字自检电路，对输出的PWM信号进行自检，判断同一个PWM驱动芯片的多个输出通道输出的PWM信号是否一致，PWM信号不一致时即会出现反馈PWM驱动芯片不合格；由于自检电路采用芯片本身的数字时钟对数字输出进行电平采集、对比，避免测试时钟和芯片时钟不同步等问题，并能够实现高到低所有数据位的检测，实现了自检功能。
附图说明
[0033]图1为现有测试芯片PWM输出的示意图。
[0034]图2为一种多通道PWM输出数字电路自检方法的原理图。
具体实施方式
[0035]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]请参阅图2，一种多通道PWM输出数字电路自检方法，包括以下步骤：
[0037]步骤1，设定PWM驱动芯片每个通道相同的PWM信号并输出；
[0038]步骤2，通道的PWM信号输出至或电路，所有通道输入的PWM信号至少有一个为“1”时，输出“1”信号，否则输出“0”信号；
[0039]步骤3，通道的PWM信号输出至与电路；所有通道输入的PWM信号全部为“1”时，输出
“
1”信号，否则输出“0”信号；
[0040]步骤4，检测或电路和与电路输出的信号是否相同，相同输出“0”信号，不相同输出“1”信号，输出“1”信号判断PWM驱动芯片不合格。
[0041]在具体实施例中：本专利技术通过构建芯片内部数字自检电路模块，实现PWM功能自检。由于PWM输出是数字电路最后的运算结果，可以通过最后的运算结果去评定数字运算过程中内部逻辑电路是否存在缺陷。芯片每个PWM通道制造缺陷是概率性出现，即所有通道同时出现缺陷的概率极低。在测试验证过程中，可以给每个通道设定相同的PWM数据值，实时判断所有通道的电平输出是否相同，若不相同，则判定芯片出现PWM功能缺陷，并将锁定结果(所有通道给相同的数据，却得出不一样的结果，则判断出现缺陷)，对此，可以通过自检的方法对芯片本本身做出判断。如果芯片通道在任何时刻输出的电平都为一致，则统计芯片在每个周期内，实际输出高电平的个数和设定输出高电平的个数，若两者的个数不一致，则判断PWM出现功能缺陷。由于自检电路采用芯片本身的数字时钟对数字输出进行电平采集、对比，避免测试时钟和芯片时钟不同步等问题，并能够实现高到低所有数据位的检测，实现了自检功能。
[0042]步骤1中：本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道PWM输出数字电路自检方法，其特征在于：该多通道PWM输出数字电路自检方法包括以下步骤：步骤1，设定PWM驱动芯片每个通道相同的PWM信号并输出；步骤2，通道的PWM信号输出至或电路，所有通道输入的PWM信号至少有一个为“1”时，输出“1”信号，否则输出“0”信号；步骤3，通道的PWM信号输出至与电路；所有通道输入的PWM信号全部为“1”时，输出“1”信号，否则输出“0”信号；步骤4，检测或电路和与电路输出的信号是否相同，相同输出“0”信号，不相同输出“1”信号，输出“1”信号判断PWM驱动芯片不合格。2.根据权利要求1所述的多通道PWM输出数字电路自检方法，其特征在于，所述多通道PWM输出数字电路自检方法，还包括以下步骤：步骤5，判断或电路和与电路输出的信号是否同时输出“1”信号，都是“1”信号时，计数器计数加1；步骤6，判断计数器最终计数和设定PWM信号的“1”是否一致，不一致，判断PWM驱动芯片不合格。3.根据权利要求2所述的多通道PWM输出数字电路自检方法，其特征在于，步骤5包括：步骤51，判断或电路和与电路输出的信号是否一致；步骤52，判断一致的信号是否为“1”，为“1”时为计数器提供...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭弟，黄年亚，辛智敏，
申请(专利权)人：无锡靖芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：