本实用新型专利技术公开了一种用于测试电子元件的测试装置，包括基座，所述基座上并排设有两个端子测试单元，所述测试单元均包括固定座，所述固定座上设有测试座，所述测试座能相对所述固定座转动，所述测试座用于固定测试端子，所述测试端子用于与测试设备连接，所述测试座与所述固定座之间连接有弹性件，所述弹性件用于提供促使所述测试座自动回弹的弹性力。可以确保测试端子能随时紧密接触到元器件的引脚位置，从而确保测试的准确性。从而确保测试的准确性。从而确保测试的准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种用于测试电子元件的测试装置
[0001]本技术涉及电子元件试验领域，尤其涉及一种用于测试电子元件的测试装置。
技术介绍
[0002]通常，电子元件在其生产后需要进行特定的试验，以便测试其电性能。电子元件的测试要保证测试端子和电子元器件的引脚之间紧密接触，使得引脚与测试仪表间电路畅通，才能确保测试信号准确的传输到测试仪表中，供仪表判断元器件的电气特性是否符合规格值。
[0003]传统的电子元件测试经常遇到出现测试端子与产品之间接触不良的情况，导致测试错误，从而使得不良品当作良品流向市场。
技术实现思路
[0004]为了克服现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种用于测试电子元件的测试装置，确保测试端子能随时紧密接触到元器件的引脚位置，从而确保测试的准确性。
[0005]本技术的目的采用如下技术方案实现：
[0006]一种用于测试电子元件的测试装置，包括基座，所述基座上并排设有两个端子测试单元，所述测试单元均包括固定座，所述固定座上设有测试座，所述测试座能相对所述固定座转动，所述测试座用于固定测试端子，所述测试端子用于与测试设备连接，所述测试座与所述固定座之间连接有弹性件，所述弹性件用于提供促使所述测试座自动回弹的弹性力。
[0007]进一步地，所述固定座上还设有用于限制所述测试座在弹性件的弹性力作用下过度回弹的限位部。
[0008]进一步地，还包括支撑件，所述支撑件包括连接部，所述连接部的底部中心向下延伸有转动部，所述转动部套装有轴承，所述固定座设有供所述转动部贯穿的第一通孔及设有供所述轴承容置的轴承安装孔，所述测试座通过连接件与所述连接部可拆卸连接。
[0009]进一步地，所述测试座设有供所述连接件贯穿的第二通孔，所述连接部设有第一紧固孔，所述连接件穿过所述第二通孔后与所述第一紧固孔螺纹连接。
[0010]进一步地，还包括紧固件及垫片，所述转动部的下端设有第二紧固孔，所述紧固件穿过所述垫片后与所述第二紧固孔螺纹连接。
[0011]进一步地，所述测试座的一侧设有第一固定件，所述固定座上设有第二固定件，所述弹性件的两端分别与所述第一固定件及第二固定件连接。
[0012]进一步地，所述第一固定件与所述测试座螺纹连接，所述第二固定件与所述固定座螺纹连接。
[0013]进一步地，所述测试座上设有用于固定测试端子的限位凹槽，所述限位凹槽内至少设有两个供所述测试端子缠绕的绝缘件，所述绝缘件与所述测试座螺纹连接。
[0014]进一步地，所述测试端子采用不锈钢引脚。
[0015]进一步地，所述测试座和固定座均采用工程塑料材质。
[0016]相比现有技术，本技术的有益效果在于：
[0017]在本技术中，两个端子测试单元的测试端子分开设置在测试座上，防止测试时相互干扰；测试座能相对所述固定座转动，使得安装在测试座上的测试端子能进行转动，以便随时接触到待测元件的引脚，同时采用弹性件对测试座进行弹性拉伸，使得测试端子具有伸缩性，一方面保证测试端子与待测元件的引脚弹性接触，从而确保测试端子能够随时紧密接触到待测元件的引脚，保证两者接触的可靠性，确保测试的准确性；另一方面使得测试端子能够快速及时回弹，同时确保生产不受测试速度的影响，提高测试效率。
附图说明
[0018]图1为本技术提供的一种用于测试电子元件的测试装置的端子测试单元的示意图
[0019]图2为本技术提供的一种用于测试电子元件的测试装置的端子测试单元的剖视图；
[0020]图3为本技术提供的一种用于测试电子元件的测试装置的俯视图；
[0021]图中：1、固定座；2、测试座；3、测试端子；4、弹性件；5、限位部；6、支撑件；61、连接部；62、转动部；7、轴承；8、连接件；9、紧固件；10、垫片；11、第一固定件；12、第二固定件；13、限位凹槽；14、绝缘件。
具体实施方式
[0022]下面，结合附图以及具体实施方式，对本技术做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
[0023]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“水平”、“竖直”、“顶”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“一个”、“另一个”等用于区分相似的元件，这些术语以及其它类似术语不旨在限制本技术的范围。
[0024]本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。在各附图中，相同或相应的元件采用相应的附图标记(例如，以“1XX”和“2XX”标识的元件结构相同、功能类似)。
[0025]如图1
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3所示，为本技术提供的一种用于测试电子元件的测试装置，包括基座，所述基座上并排设有两个端子测试单元，所述测试单元均包括固定座1，所述固定座1上设有测试座2，所述测试座2能相对所述固定座1转动，所述测试座2用于固定测试端子3，所
述测试端子3用于与测试设备连接，所述测试座2与所述固定座1之间连接有弹性件4，所述弹性件4用于提供促使所述测试座2自动回弹的弹性力。
[0026]在本技术中，两个端子测试单元的测试端子3分开设置在测试座2上，防止测试相互干扰，测试座2能相对所述固定座1转动，使得安装在测试座2上的测试端子3能进行转动，以便随时接触到待测元件的引脚，同时采用弹性件4对测试座2进行弹性拉伸，使得测试端子3具有伸缩性，一方面保证测试端子3与待测元件的引脚弹性接触，从而确保测试端子3能够随时紧密接触到待测元件的引脚，保证两者接触的可靠性，确保测试的准确性；另一方面使得测试端子3能够快速及时回弹，同时确保生产不受测试速度的影响，提高测试效率。
[0027]需要说明的是，基座可以滑动设置在工作台上，通过基座的滑动带动测试单元的移动，确保测试单元移动便利。
[0028]优选地，所述固定座1上还设有用于限制所述测试座2在弹性件4的弹性力作用下过度回弹的限位部5。通过设置限位部5来限制测试座2的回弹范围，保证测试端子3位置行程发生偏差。本技术的限位部5优选为限位螺丝。
[0029]优选地，还包括支撑件6，所述支撑件6包括连接部61，所述连接部61的底部中心向下延伸有转动部62，所述转动部62套装有轴承7，所述固定座1设有供所述转动部62本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于测试电子元件的测试装置，其特征在于，包括基座，所述基座上并排设有两个端子测试单元，所述测试单元均包括固定座(1)，所述固定座(1)上设有测试座(2)，所述测试座(2)能相对所述固定座(1)转动，所述测试座(2)用于固定测试端子(3)，所述测试端子(3)用于与测试设备连接，所述测试座(2)与所述固定座(1)之间连接有弹性件(4)，所述弹性件(4)用于提供促使所述测试座(2)自动回弹的弹性力。2.如权利要求1所述的用于测试电子元件的测试装置，其特征在于，所述固定座(1)上还设有用于限制所述测试座(2)在弹性件(4)的弹性力作用下过度回弹的限位部(5)。3.如权利要求1所述的用于测试电子元件的测试装置，其特征在于，还包括支撑件(6)，所述支撑件(6)包括连接部(61)，所述连接部(61)的底部中心向下延伸有转动部(62)，所述转动部(62)套装有轴承(7)，所述固定座(1)设有供所述转动部(62)贯穿的第一通孔及设有供所述轴承(7)容置的轴承安装孔，所述测试座(2)通过连接件(8)与所述连接部(61)可拆卸连接。4.如权利要求3所述的用于测试电子元件的测试装置，其特征在于，所述测试座(2)设有供所述连接件(8)贯穿的第二通孔，所述连接部(61)设有第一紧固孔，所述连接件(8)穿...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵光涛，
申请(专利权)人：东莞市纬迪实业有限公司，
类型：新型
国别省市：
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