在质谱分析装置中使用的校准品及其配制方法制造方法及图纸

技术编号:39124789 阅读:9 留言:0更新日期:2023-10-23 14:48
提供一种用于校正质谱分析装置的机差的校准品以及该校准品的配制方法。一种校准品以及该校准品的配制方法,所述校准品在质谱分析装置中使用,所述校准品含有两种以上的校准物质,相对于所述两种以上的校准物质中的一种校准物质的浓度,所述两种以上的校准物质中的另一种校准物质的浓度的比为规定的值。一种校准物质的浓度的比为规定的值。一种校准物质的浓度的比为规定的值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】differentiationinduced microsomal proteins using isotope

coded affinity tags and mass spectrometry.Nat Biotechnol.2001Oct;19(10):946

51.
[0016]非专利文献5:Ross PL,Huang YN,Marchese JN,Williamson B,Pa rker K,Hattan S,Khainovski N,Pillai S,Dey S,Daniels S,Purkayasth a S,Juhasz P,Martin S,Bartlet

Jones M,He F,Jacobson A,Pappin DJ:Multiplexed protein quantitation in Saccharomyces cerevisiae using amine

reactive isobaric tagging reagents.Mol Cell Proteomics.2004Dec;3(12):1154

69.

技术实现思路

[0017]专利技术要解决的问题
[0018]在想要使用质谱仪来测定极微量的物质的情况下,确认到以下现象:即使是相同的机型,按每个机体检测到的峰强度比率也不同。作为对不同机体的峰强度比的差异进行校正的方法之一,列举有如下的绝对定量法。
[0019]准备要进行定量的对象物质的标准品和作为强度比的基准的物质(基准物质;一般使用对象物质的稳定同位素标记物质)。通过对将固定浓度的基准物质和调配成不同浓度的标准品混合而成的样品进行测定,来制作标准品相对于基准物质的峰强度比的检量线。根据该检量线,能够进行对象物质的绝对定量。因而,只要按每个装置、每次测定制作检量线,则即使不同的装置存在峰强度比率的差异,也能够不受该差异的影响地对生物体试样中存在的未知的对象物质进行定量。
[0020]但是,该检量线的方法需要标准品。在无法容易地合成标准品的情况下、或因对象物质的种类庞大而导致在时间上和费用上难以准备所有的标准品并进行品质管理的情况下、或是不稳定的标准品的情况下,无法制作检量线。如上所述,质谱分析装置由于机体间的峰强度比存在变化,因此在无法制作检量线的情况下必须用一台机体测定作为比较对象的试样,但即便如此也会发生由于机体的使用而引起的检测器劣化,因此峰强度比发生变动,从而难以获取一致的数据。
[0021]在质谱分析中,照射激光来使样品离子化。因此,数据受到质谱分析装置的激光的状态(基于使用次数等的劣化)的影响。因而,即使在测定了相同的样品的情况下,不同的装置之间也存在不少机差。因此,数据缺乏稳定性。
[0022]为了消除质谱分析装置的这种机差,考虑在各个质谱分析装置中进行测定数据的校正。
[0023]本专利技术的目的在于提供一种用于校正质谱分析装置的机差的校准品以及该校准品的配制方法。
[0024]用于解决问题的方案
[0025]本专利技术包括以下方面。
[0026]一种在质谱分析装置中使用的校准品,
[0027]所述校准品含有两种以上的校准物质,相对于所述两种以上的校准物质中的一种校准物质的浓度,所述两种以上的校准物质中的另一种校准物质的浓度的比为规定的值。
[0028]本专利技术还包括以下方面。
[0029]一种在质谱分析装置中使用的校准品的配制方法,
[0030]所述校准品含有两种以上的校准物质,相对于所述两种以上的校准物质中的一种校准物质的浓度,所述两种以上的校准物质中的另一种校准物质的浓度的比为规定的值,
[0031]所述配制方法包括以下工序:
[0032]预备工序,准备溶液A和溶液B,其中,所述溶液A以规定的浓度含有所述两种以上的校准物质中的一种校准物质(S1),所述溶液B以与所述规定的浓度相同的浓度含有所述一种校准物质(S1),还含有所述两种以上的校准物质中的另一种校准物质(S2);以及
[0033]调制工序,使用所述溶液A和所述溶液B来获得所述另一种校准物质(S2)的浓度相对于所述一种校准物质(S1)的浓度的比为规定的值的校准品。
[0034]本专利技术还包括以下方面。
[0035]一种在质谱分析装置中使用的校准品试剂盒,
[0036]所述试剂盒包含多种校准品,所述多种校准品含有两种以上的校准物质,
[0037]多种所述校准品的所述校准物质中的至少一种校准物质的浓度各不相同。
[0038]本专利技术还包括以下方面。
[0039]一种在质谱分析装置中使用的校准品试剂盒,
[0040]所述试剂盒含有两种以上的校准物质。
[0041]专利技术的效果
[0042]根据本专利技术,提供一种用于校正质谱分析装置的机差的校准品。能够用质谱分析装置测定本专利技术的校准品,并根据其测定结果来计算该质谱分析装置的校正式。能够使用计算出的校正式来校正该质谱分析装置的测定结果。其结果,即使用不同的机体测定同一试样,也能够获得同等的峰强度比。
[0043]另外,根据本专利技术,提供一种用于校正质谱分析装置的机差的校准品的配制方法。如果使用本专利技术的配制方法,则能够高精度地配制如下的校准品:含有两种以上的校准物质,且相对于一种校准物质的浓度,另一种校准物质的浓度的比被调制为规定的值。其结果,能够高精度地进行质谱分析装置的机差的校正。
[0044]另外,根据本专利技术,提供一种用于校正质谱分析装置的机差的校准品的试剂盒。或者,提供一种用于配制校准品的试剂盒。如果使用本专利技术的试剂盒,则能够获得如下的校准品:含有两种以上的校准物质,且相对于一种校准物质的浓度,另一种校准物质的浓度的比被准确地调制为规定的值。其结果,能够高精度地进行质谱分析装置的机差的校正。
附图说明
[0045]图1是示出配制五种校准品(记载为IC

1、IC

2、IC

3、IC

4以及IC

5)的情况下的调制工序的一例(第一实施方式)的概念图。
[0046]图2是示出配制五种校准品(记载为IC

1、IC

2、IC

3、IC

4以及IC

5)的情况下的调制工序的另一例(第二实施方式)的概念图。
[0047]图3是示出实施例1的校准品的配制方法的示意图。
[0048]图4是示出实施例2的校准品的配制方法的示意图。
[0049]图5是示出在实施例2中使用各作业人员1、2配制出的校准品计算出的b值的平均值的柱状图。纵轴表示b值。误差条表示对各作业人员1、2配制出的校准品进行了三次测定而得到的三个b值的标准偏差。
具体实施方式
[0050]在本专利技术的质谱分析装置中使用的校准本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种在质谱分析装置中使用的校准品,所述校准品含有两种以上的校准物质,相对于所述两种以上的校准物质中的一种校准物质的浓度,所述两种以上的校准物质中的另一种校准物质的浓度的比为规定的值。2.根据权利要求1所述的校准品,其中,所述校准物质含有进行了稳定同位素标记的物质和未进行稳定同位素标记的物质。3.根据权利要求1所述的校准品,其中,所述校准物质是Aβ相关肽。4.根据权利要求1所述的校准品,其中,所述校准物质是Aβ1

38和进行了稳定同位素标记的Aβ1

38。5.根据权利要求1所述的校准品,其中,所述校准品含有多种校准品,所述多种校准品为所述两种以上的校准物质中的至少一种校准物质的浓度各不相同的多种校准品。6.根据权利要求1所述的校准品,其中,相对于所述两种以上的校准物质中的一种校准物质的浓度,所述两种以上的校准物质中的另一种校准物质的浓度的比处于1/4~4的范围。7.一种在质谱分析装置中使用的校准品的配制方法,所述校准品含有两种以上的校准物质,相对于所述两种以上的校准物质中的一种校准物质的浓度,所述两种以上的校准物质中的另一种校准物质的浓度的比为规定的值,所述配制方法包括以下工序:预备工序,准备溶液A和溶液B,其中,所述溶液A以规定的浓度含有所述两种以上的校准物质中的一种校准物质(S1),所述溶液B以与所述规定的浓度相同的浓度含有所述一种校准物质(S1),还含有所述两种以上的校准物质中的另一种校准物质(S2);以及调制工序,使用所述溶液A和所述溶液B来获得所述另一种校准物质(S2)的浓度相对于所述一种校准物质(S1)的浓度的比为规定的值的校准品。8.根据权利要求7所述的校准品的配制方法,其中,在所述调制工序中,获得所述一种校准物质(S1)的浓度固定而至少所述另一种校准物质(S2)的浓度各不相同的多种校准品。9.根据权利要求7所述的校准品的配制方法,其中,在所述调制工序中,使用所述溶液A和所述溶液B来获得所述另一种校准物质(S2)的浓度相对于所述一种校准物质(S1)的浓度的比为规定的值的校准品,将该校准品的一部分进行分离,对分离出的一部分进一步进行混合所述溶液A的混合操作,来获得所述另一种校准物质(S2)的浓度相对于所述一种校准物质(S1)的浓度的比为与所述规定的值不同的值的其它校准品。10.根据权利要求7所述的校准品的配制方法,其中,在所述调制工序中,使用所述溶液A和所述溶液B来获得所述另一种校准物质(S2)的浓度相对于所述一种校准物质(S1)的浓度的比为规定的值的校准品,将该校准品的一部分进行分离,对分离出的一...

【专利技术属性】
技术研发人员:西风隆司金子直树
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:

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