有机合成化合物的质谱分析法制造技术

本发明专利技术提供带负电的有机合成化合物的质谱分析法、以及可用于该方法的基质。一种带负电的有机合成化合物的质谱分析法，其将包含胺的离子和含酸性基团的有机物质的离子的离子液体用作液体基质。例如，所述胺为3

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】有机合成化合物的质谱分析法


[0001]本专利技术涉及有机合成化合物的质谱分析法。

技术介绍

[0002]各种物质通过MALDI
‑
MS(基质辅助激光解吸电离质谱)进行分析。
[0003]有机合成化合物的基于质谱仪的测定大多使用MALDI
‑
TOF MS(基质辅助激光解吸电离
‑
飞行时间型质谱)装置。MALDI质谱中，根据成为对象的样品的种类，选择被称为基质的离子化辅助剂。在有机合成化合物的MALDI质谱中，作为基质，使用了2,5
‑
二羟基苯甲酸、α
‑
氰基
‑4‑
羟基肉桂酸、芥子酸等一般的固体基质。例如，在Macromolecules 1995,28,8548
‑
8551(非专利文献1)中，公开了聚苯乙烯磺酸的MALDI
‑
TOF MS分析。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开2008
‑
261824号公报
[0007]非专利文献
[0008]非专利文献1：Macromolecules 1995,28,8548
‑
8551
[0009]非专利文献2：Anal.Chem.2008,80,2171
‑
2179
[0010]非专利文献3：Rapid Commun.Mass Spectrom.2011,25,1152r/>‑
1158

技术实现思路

[0011]专利技术要解决的问题
[0012]在关于有机合成化合物的MALDI质谱中，需要根据成为分析对象的样品的种类来选择适当的基质，有时也需要反复试验。
[0013]在关于有机合成化合物的MALDI质谱中，从S/N比、分辨率的观点出发，期望一种获取良好的质谱数据的方法、以及能够用于该方法的基质。
[0014]在有机合成化合物中，对于带负电的有机合成化合物，在MALDI质谱中，从S/N比、分辨率的观点出发，难以取得良好的质谱数据。因此，对于有机合成化合物中特别是带负电的有机合成化合物的MALDI质谱，从S/N比、分辨率的观点出发，期望获取良好的质谱数据的方法、以及能够用于该方法的基质。
[0015]另一方面，已知在肽、糖链的MALDI质谱中，将离子液体基质用作基质。例如，在日本特开2008
‑
261824号公报(专利文献1)中记载了将包含胺(1,1,3,3
‑
四甲基胍)的离子和对香豆酸的离子的离子液体(TMG/CA、或G3CA)用作基质，进行以糖链为分析对象的MALDI质谱(Anal.Chem.2008,80,2171
‑
2179(非专利文献2))。
[0016]本专利技术的目的在于提供带负电的有机合成化合物的质谱分析法、以及可用于该方法的基质。
[0017]用于解决问题的方案
[0018]本专利技术人进行了深入研究，结果发现，在针对带负电的有机合成化合物的MALDI质
谱中，通过将离子液体用作基质，能够获取具有高S/N比、高分辨率的良好的质谱数据，从而完成了本专利技术。
[0019]本专利技术包括以下的技术方案。
[0020]一种带负电的有机合成化合物的质谱分析法，其将包含胺的离子和含酸性基团的有机物质的离子的离子液体用作液体基质。
[0021]一种带负电的有机合成化合物的MALDI质谱用液体基质，其含有：包含胺的离子和含酸性基团的有机物质的离子的离子液体。
[0022]专利技术的效果
[0023]根据本专利技术，在对带负电的有机合成化合物进行质谱分析时，将包含胺的离子和含酸性基团的有机物质的离子的离子液体用作液体基质。由此，能够取得具有高S/N比、高分辨率的良好的质谱数据。特别是，即使应解析的上述有机合成化合物为带负电的化合物，也能够取得具有高S/N比、高分辨率的良好的质谱数据，本专利技术的优势明显。
[0024]根据本专利技术，提供带负电的有机合成化合物的MALDI质谱用液体基质，其含有：包含胺的离子和含酸性基团的有机物质的离子的离子液体。
[0025]本专利技术特别是面向MALDI质谱。
附图说明
[0026]图1：图1示出实施例1中的将包含3
‑
氨基喹啉(3
‑
AQ)/对香豆酸(CA)的离子液体用作基质的情况下的聚苯乙烯磺酸钠在负离子模式下的质谱。横轴表示质量/电荷(m/z)，纵轴表示离子的相对强度(％Int.)。
[0027]图2：图2示出比较例1中的将2,5
‑
二羟基苯甲酸(DHB)用作基质的情况下的聚苯乙烯磺酸钠在负离子模式下的质谱。横轴表示质量/电荷(m/z)，纵轴表示离子的相对强度(％Int.)。
[0028]图3：图3的(a)示出实施例2中的使用包含3
‑
氨基喹啉(3
‑
AQ)和对香豆酸(CA)的液体基质3
‑
AQ/CA的情况下的酞菁
‑
3,4
’
,4”,4
”’‑
四磺酸铜(II)四钠的、特别是分子量关联的离子的负离子模式下的质谱。图3的(b)示出实施例2中的将包含对香豆酸(CA)和1,1,3,3
‑
四甲基胍(TMG)的液体基质G3CA用作基质的情况下的酞菁
‑
3,4
’
,4”,4
”’‑
四磺酸铜(II)四钠的、特别是分子量关联的离子的负离子模式下的质谱。另外，图3的(c)～(g)示出比较例2中的、分别将一般的基质2,5
‑
二羟基苯甲酸(2,5
‑
DHB)、芥子酸(SA)、α
‑
氰基
‑4‑
羟基肉桂酸(CHCA)、2,4,6
‑
三羟基苯乙酮(THAP)、去甲哈尔满(norharmane)用作基质的情况下的酞菁
‑
3,4
’
,4”,4
”’‑
四磺酸铜(II)四钠的、特别是分子量关联的离子的负离子模式下的质谱。横轴表示质量/电荷(m/z)，纵轴表示离子的相对强度(％Int.)。在各质谱的右侧示出[M
‑
4Na+3H]‑
的S/N的值。
具体实施方式
[0029][质谱对象][0030]本专利技术中，质谱对象为有机合成化合物。有机合成化合物没有特别限定，包含宽范围的各种有机合成化合物。有机合成高分子化合物是分子量大的分子，是由从分子量小的分子得到的单元多次重复而构成的结构的分子，是通过单体的聚合而生成的化合物(单体
的聚合物)。通过MALDI质谱装置对该合成高分子进行分析时，在质谱上，作为包含以基于单体的质量值的一定的间隔得到的多个峰的峰组被检测出。若对有机合成高分子化合物进行例示，则可本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种带负电的有机合成化合物的质谱分析法，其将包含胺的离子和含酸性基团的有机物质的离子的离子液体用作液体基质。2.根据权利要求1所述的质谱分析法，其中，所述胺选自由3
‑
氨基喹啉(3AQ)、1,1,3,3
‑
四甲基胍(TMG)、正丁胺(BA)、乙胺、N,N
‑
二乙胺(DEA)、N,N
‑
二乙基苯胺、N,N
‑
二乙基甲胺、二乙基苯胺、N,N
‑
二甲胺、三乙胺、三正丁胺、三正丙胺、乙醇胺、聚醚尾式三乙胺、聚酯尾式三乙胺、苯胺、2,4
‑
二硝基苯胺、吡啶、2
‑
吡啶丙醇(2PP)、2
‑
乙基吡啶(2EP)、2
‑
氨基
‑4‑
甲基
‑5‑
硝基吡啶、3
‑
氨基喹啉(3
‑
AQ)、3
‑
羟基吡啶、1
‑
甲基咪唑、1
‑
丁基
‑3‑
甲基咪唑、1
‑
(1
‑
羟丙基)
‑3‑
甲基咪唑、1,3
‑
二甲基咪唑、1,5
‑
二氨基萘、6
‑
氮杂
‑2‑
硫代胸腺嘧啶以及咔啉类组成的组。3.根据权利要求1所述的质谱分析法，其中，所述含酸性基团的有机物质选自由对香豆酸(p
‑
CA)、α
‑
氰基
‑4‑
羟基肉桂酸(4
‑
CHCA)、α

【专利技术属性】
技术研发人员：岛圭介，福山裕子，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：