本申请提供一种射频高压线束测试装置以及线束测试设备。上述的射频高压线束测试装置包括测试箱以及线束扣压组件；线束扣压组件包括线束复位器、线束测试器、线束电测件以及线束扣压件，线束电测件用于放置射频高压线束，线束电测件与线束测试器电性连接，线束扣压件包括线束扣压杆以及支撑杆，支撑杆与测试箱连接，线束扣压杆与支撑杆转动连接，线束扣压杆的一端与线束电测件扣压射频高压线束，线束扣压杆的另一端与线束复位器连接。在检测不合格时，在射频高压线束被放入次品收集箱后，线束复位器转动线束扣压杆，使得线束扣压杆与线束电测件脱离接触，射频高压线束自动脱离，有效地降低了射频高压线束的损坏几率。地降低了射频高压线束的损坏几率。地降低了射频高压线束的损坏几率。
【技术实现步骤摘要】
射频高压线束测试装置以及线束测试设备
[0001]本技术涉及线束测试
，特别是涉及一种射频高压线束测试装置以及线束测试设备。
技术介绍
[0002]传统测试方案，线束类产品将RF射频测试与高压测试分开测试，端子扣压两次，涵盖的测试子项目有VSWR、开短路、高压拉弧、漏电流等。
[0003]然而，传统的线束测试时需将线束端子多次扣压，在此过程中容易造成扯坏端口部分，导致线束的不合格几率上升，从而容易导致不良品流出。
技术实现思路
[0004]本技术的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种有效降低线束的损坏几率的射频高压线束测试装置以及线束测试设备。
[0005]本技术的目的是通过以下技术方案来实现的：
[0006]一种射频高压线束测试装置，包括：测试箱以及线束扣压组件；所述线束扣压组件包括线束复位器、线束测试器、线束电测件以及线束扣压件，所述线束电测件与所述测试箱连接，所述线束电测件用于放置射频高压线束，所述线束电测件还与所述线束测试器电性连接，以对所述射频高压线束进行射频高压测试，所述线束扣压件包括线束扣压杆以及支撑杆，所述支撑杆与所述测试箱连接，所述线束扣压杆与所述支撑杆转动连接，所述线束扣压杆的一端与所述线束电测件扣压所述射频高压线束，所述线束扣压杆的另一端与所述线束复位器连接，所述线束复位器用于在所述射频高压线束测试放入次品收集箱后复位所述线束扣压杆。
[0007]在其中一个实施例中，所述线束电测件包括相互连接的线束光板以及线束导电端子，所述线束光板与所述线束扣压杆共同压接所述射频高压线束，所述线束导电端子设置于所述测试箱上，所述线束导电端子与所述线束测试器的测试采样端连接，所述线束导电端子还与所述射频高压线束连接。
[0008]在其中一个实施例中，所述线束光板还开设有调位腰型孔，所述线束导电端子活动穿设于所述调位腰型孔内。
[0009]在其中一个实施例中，所述线束光板开设有扣压槽，所述线束扣压杆的部分卡设于所述扣压槽内。
[0010]在其中一个实施例中，所述线束扣压杆开设有与所述扣压槽连通的穿线孔，所述射频高压线束穿设于所述穿线孔内。
[0011]在其中一个实施例中，所述线束扣压件还包括与所述线束复位器的转轴连接的复位调节杆，所述线束扣压杆开设有复位调节孔，所述复位调节杆活动穿设于所述复位调节孔。
[0012]在其中一个实施例中，所述复位调节孔为条形腰型孔。
[0013]在其中一个实施例中，所述复位调节杆开设有套接槽，所述线束复位器的转轴套设于所述套接槽内。
[0014]在其中一个实施例中，所述线束扣压件还包括限位杆，所述复位调节杆还开设有限位孔，所述限位杆穿设与所述限位孔内，所述限位杆与所述线束扣压杆背离所述线束复位器的一侧抵接。
[0015]一种线束测试设备，包括次品收集箱以及上述任一实施例所述的射频高压线束测试装置，所述次品收集箱的红外传感器用于在感应到次品的射频高压线束放入时，向所述线束复位器发出复位指令。
[0016]与现有技术相比，本技术至少具有以下优点：
[0017]在检测不合格时，线束扣压杆和线束电测件将射频高压线束卡扣，只有在射频高压线束被放入次品收集箱后，线束复位器转动线束扣压杆，使得线束扣压杆与线束电测件脱离接触，从而使得射频高压线束从射频高压线束测试装置上解锁，进而使得射频高压线束自动脱离，有效地降低了射频高压线束的损坏几率。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0019]图1为一实施例中射频高压线束测试装置的示意图；
[0020]图2为图1所示射频高压线束测试装置的另一视角的示意图；
[0021]图3为图1所示射频高压线束测试装置在A1处的放大示意图；
[0022]图4为一实施例中线束测试设备的示意图。
具体实施方式
[0023]为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳实施方式。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本技术的公开内容理解的更加透彻全面。
[0024]需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0025]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0026]本技术涉及一种射频高压线束测试装置。在其中一个实施例中，所述射频高压线束测试装置包括测试箱以及线束扣压组件。所述线束扣压组件包括线束复位器、线束
测试器、线束电测件以及线束扣压件。所述线束电测件与所述测试箱连接，所述线束电测件用于放置射频高压线束，所述线束电测件还与所述线束测试器电性连接，以对所述射频高压线束进行射频高压测试。所述线束扣压件包括线束扣压杆以及支撑杆。所述支撑杆与所述测试箱连接。所述线束扣压杆与所述支撑杆转动连接，所述线束扣压杆的一端与所述线束电测件扣压所述射频高压线束，所述线束扣压杆的另一端与所述线束复位器连接。所述线束复位器用于在所述射频高压线束测试放入次品收集箱后复位所述线束扣压杆。在检测不合格时，线束扣压杆和线束电测件将射频高压线束卡扣，只有在射频高压线束被放入次品收集箱后，线束复位器转动线束扣压杆，使得线束扣压杆与线束电测件脱离接触，从而使得射频高压线束从射频高压线束测试装置上解锁，进而使得射频高压线束自动脱离，有效地降低了射频高压线束的损坏几率。
[0027]请参阅图1，其为本技术一实施例的射频高压线束测试装置的结构示意图。
[0028]一实施例的射频高压线束测试装置10包括测试箱100以及线束扣压组件200。请一并参阅图2和图3，所述线束扣压组件200包括线束复位器210、线束测试器220、线束电测件230以及线束扣压件240。所述线束电测件230与所述测试箱100连接，所述线束电测件230用于放置射频高压线束，所述线束电测件230还与所述线束测试器220电性连接，以对所述射频高压线束进行射频高压测试。所述线束扣压件240包括线束扣压杆242以及支撑杆244。所述支撑杆244本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种射频高压线束测试装置，其特征在于，包括：测试箱，线束扣压组件，所述线束扣压组件包括线束复位器、线束测试器、线束电测件以及线束扣压件，所述线束电测件与所述测试箱连接，所述线束电测件用于放置射频高压线束，所述线束电测件还与所述线束测试器电性连接，以对所述射频高压线束进行射频高压测试，所述线束扣压件包括线束扣压杆以及支撑杆，所述支撑杆与所述测试箱连接，所述线束扣压杆与所述支撑杆转动连接，所述线束扣压杆的一端与所述线束电测件扣压所述射频高压线束，所述线束扣压杆的另一端与所述线束复位器连接，所述线束复位器用于在所述射频高压线束测试放入次品收集箱后复位所述线束扣压杆。2.根据权利要求1所述的射频高压线束测试装置，其特征在于，所述线束电测件包括相互连接的线束光板以及线束导电端子，所述线束光板与所述线束扣压杆共同压接所述射频高压线束，所述线束导电端子设置于所述测试箱上，所述线束导电端子与所述线束测试器的测试采样端连接，所述线束导电端子还与所述射频高压线束连接。3.根据权利要求2所述的射频高压线束测试装置，其特征在于，所述线束光板还开设有调位腰型孔，所述线束导电端子活动穿设于所述调位腰型孔内。4.根据权利要求2所述的射频高压线束测试装...
【专利技术属性】
技术研发人员：严帆，林佳林，吕俊麒，
申请(专利权)人：惠州硕贝德无线科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。