一种半导体检测用翻转台制造技术

技术编号:39102617 阅读:6 留言:0更新日期:2023-10-17 10:54
本实用新型专利技术提供一种半导体检测用翻转台,涉及半导体生产技术领域,包括工作台,工作台的顶部安装有调节机构,且调节机构包括电机和第一安装盘,电机安装在工作台的内部,且电机的输出端传动连接有转轴,第一安装盘的内部设有通孔,且通孔的内部安装有轴承,转轴的一端贯穿轴承,并与第一安装盘相互连接,调节机构的外部设有翻转机构,且翻转机构包括若干转动杆,第一安装盘的内部一侧设有调节槽,且调节槽的一侧设有转动槽,调节槽的底部安装有限位板,且支撑杆的一端与第一安装盘的内部相连接。该实用新型专利技术,结构简单合理,设计新颖,操作简单便捷,有效对半导体在检测后进行翻转,便于收集,具有较高的实用价值。具有较高的实用价值。具有较高的实用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体检测用翻转台


[0001]本技术属于半导体生产
,更具体地说,特别涉及一种半导体检测用翻转台。

技术介绍

[0002]半导体(semiconductor)指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件。无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。
[0003]基于上述,本专利技术人发现存在以下问题:现在的半导体在生产完成后需要对成品的半导体进行检测,看看成品的质量是否合格,但是现在的检测台没有对半导体进行翻转,导致检测完成后需要手动对半导体进行收集,效率较低。
[0004]于是,有鉴于此,针对现有的结构及缺失予以研究改良,提供一种半导体检测用翻转台,以期达到更具有更加实用价值性的目的。

技术实现思路

[0005]为了解决上述技术问题,本技术提供一种半导体检测用翻转台,以解决现在的
技术介绍
中的问题。
[0006]本技术半导体检测用翻转台的目的与功效,由以下具体技术手段所达成:
[0007]一种半导体检测用翻转台,包括工作台,所述工作台的顶部安装有调节机构,且所述调节机构包括电机和第一安装盘,所述电机安装在工作台的内部,且所述电机的输出端传动连接有转轴,所述第一安装盘的内部设有通孔,且所述通孔的内部安装有轴承,所述转轴的一端贯穿轴承,并与第一安装盘相互连接,所述调节机构的外部设有翻转机构,且所述翻转机构包括若干转动杆。
[0008]进一步的,所述第一安装盘的内部一侧设有调节槽,且所述调节槽的一侧设有转动槽,所述调节槽的底部安装有限位板,且所述限位板的一侧连接有支撑杆,且所述支撑杆的一端与第一安装盘的内部相连接。
[0009]进一步的,所述调节槽和转动槽的宽度比转动杆的尺寸大。
[0010]进一步的,所述第一安装盘的外部套设有第二安装盘,且所述第二安装盘的内部设有凹槽,所述第二安装盘的内部等距离设有若干插孔,且若干所述插孔的内部均插设有转动杆,所述转动杆的一端连接有连接块,且所述连接块的一侧安装有转动板。
[0011]进一步的,所述转动板的顶部两侧均通过安装座连接有伸缩杆,且一对所述伸缩杆的输出端连接有夹板,若干所述转动杆的一端贯穿插孔,并套设有限位环,且所述转动杆的一端延伸至凹槽的内部,并连接有连接板。
[0012]进一步的,所述工作台的顶部一侧安装有立柱,且所述立柱的一侧安装有安装杆,
所述安装杆的底部连接有连接杆,且所述连接杆的底部安装有检测仪。
[0013]与现有技术相比,本技术具有如下有益效果:
[0014]该种半导体检测用翻转台,通过电机、第一安装盘、转轴、限位板、调节槽、转动槽、第二安装盘、转动杆、转动板、伸缩杆和夹板的配合使用,在对半导体进行检测时,先把若干半导体放置在一对夹板之间,然后启动伸缩杆,使一对夹板对半导体进行夹持和固定,然后启动电机,使电机带动转动进行转动,因为第一安装盘设有轴承,所以第一安装盘不会发生转动,固定安装在工作台上,带动第二安装盘进行转动,从而使若干转动杆和转动板进行转动,移动至检测仪的正下方,对半导体进行检测,检测完成后第二安装盘继续转动,当转动杆移动至调节槽内时,然后通过转动槽和限位板的配合,使转动杆和转动板进行翻转,转动至收集处时,然后松开一对伸缩杆,使半导体掉落到收集处内,减轻工作人员的工作强度;本技术,结构简单合理,设计新颖,操作简单便捷,有效对半导体在检测后进行翻转,便于收集,具有较高的实用价值。
附图说明
[0015]图1是本技术的立体示意图。
[0016]图2是本技术的立体展开示意图。
[0017]图3是本技术的转动板立体示意图。
[0018]图4是本技术的图2中A处结构的放大示意图。
[0019]图中,部件名称与附图编号的对应关系为:
[0020]1001、工作台;1002、立柱;1003、安装杆;1004、连接杆;1005、检测仪;2001、电机;2002、第一安装盘;2003、通孔;2004、轴承;2005、转轴;2006、限位板;2007、调节槽;2008、转动槽;2009、支撑杆;2010、第二安装盘;3001、插孔;3002、转动杆;3003、转动板;3004、凹槽;3005、伸缩杆;3006、夹板;3007、连接块;3008、限位环;3009、连接板。
具体实施方式
[0021]下面结合附图和实施例对本技术的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术,但不能用来限制本技术的范围。
实施例
[0022]如附图1至附图4所示:
[0023]本技术提供一种半导体检测用翻转台,包括工作台1001,所述工作台1001的顶部安装有调节机构,且所述调节机构包括电机2001和第一安装盘2002,所述电机2001安装在工作台1001的内部,且所述电机2001的输出端传动连接有转轴2005,所述第一安装盘2002的内部设有通孔2003,且所述通孔2003的内部安装有轴承2004,所述转轴2005的一端贯穿轴承2004,并与第一安装盘2002相互连接,所述调节机构的外部设有翻转机构,且所述翻转机构包括若干转动杆3002。
[0024]其中,第一安装盘2002的内部一侧设有调节槽2007,且所述调节槽2007的一侧设有转动槽2008,所述调节槽2007的底部安装有限位板2006,且所述限位板2006的一侧连接有支撑杆2009,且所述支撑杆2009的一端与第一安装盘2002的内部相连接,通过设有调节
槽2007,便于对转动板3003进行翻转。
[0025]其中,调节槽2007和转动槽2008的宽度比转动杆3002的尺寸大。
[0026]其中,第一安装盘2002的外部套设有第二安装盘2010,且所述第二安装盘2010的内部设有凹槽3004,所述第二安装盘2010的内部等距离设有若干插孔3001,且若干所述插孔3001的内部均插设有转动杆3002,所述转动杆3002的一端连接有连接块3007,且所述连接块3007的一侧安装有转动板3003,通过安装有转动杆3002,便于使转动板进行翻转。
[0027]其中,转动板3003的顶部两侧均通过安装座连接有伸缩杆3005,且一对所述伸缩杆3005的输出端连接有夹板3006,若干所述转动杆3002的一端贯穿插孔3001,并套设有限位环3008,且所述转动杆3002的一端延伸至凹槽3004的内部,并连接有连接板3009,通过安装有伸缩杆3005,便于带动夹板3006对半导体进行固定和夹持。
[0028]其中,工作台1001的顶部一侧安装有立柱1002,且所述立柱1002的一侧安装有安装杆1003,所述安装杆1003的底部连接有连本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体检测用翻转台,其特征在于:包括工作台(1001),所述工作台(1001)的顶部安装有调节机构,且所述调节机构包括电机(2001)和第一安装盘(2002),所述电机(2001)安装在工作台(1001)的内部,且所述电机(2001)的输出端传动连接有转轴(2005),所述第一安装盘(2002)的内部设有通孔(2003),且所述通孔(2003)的内部安装有轴承(2004),所述转轴(2005)的一端贯穿轴承(2004),并与第一安装盘(2002)相互连接,所述调节机构的外部设有翻转机构,且所述翻转机构包括若干转动杆(3002)。2.如权利要求1所述半导体检测用翻转台,其特征在于:所述第一安装盘(2002)的内部一侧设有调节槽(2007),且所述调节槽(2007)的一侧设有转动槽(2008),所述调节槽(2007)的底部安装有限位板(2006),且所述限位板(2006)的一侧连接有支撑杆(2009),且所述支撑杆(2009)的一端与第一安装盘(2002)的内部相连接。3.如权利要求2所述半导体检测用翻转台,其特征在于:所述调节槽(2007)和转动槽(2008)的宽度比转动杆(3002)的尺寸大。4.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:殷志鹏
申请(专利权)人:东莞市译码半导体有限公司
类型:新型
国别省市:

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