一种新型集成电路芯片测试设备制造技术

本实用新型专利技术属于集成电路芯片测试技术领域，公开了一种新型集成电路芯片测试设备，包括工作台，工作台上设有检测机构，检测机构包括与工作台固定连接的支撑柱，支撑柱顶部的一侧可拆卸设置有连接板，连接板的底部栓接有检测框体，检测框体内设有检测仪主体，检测仪主体的底部设有检测探头，检测探头的正下方设有芯片槽，芯片槽开设在工作台上，芯片槽的一侧设有第一夹紧件，第一夹紧件固定安装在工作台上，芯片槽的另一侧设有第二夹紧件，第二夹紧件的两端对称设有调节旋钮，第二夹紧件通过调节旋钮连接第一夹紧件；本实用新型专利技术通过调节旋钮、第一夹紧件及第二夹紧件等部件的设置，可以灵活地实现测试不同尺寸规格芯片的技术目的。的。的。

【技术实现步骤摘要】
一种新型集成电路芯片测试设备


[0001]本技术涉及集成电路芯片测试
，尤其涉及一种新型集成电路芯片测试设备。

技术介绍

[0002]集成电路是把一定数量的常用电子元件，如电阻、电容和晶体管等，以及这些元件之间的连线，通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。它是经过氧化、光刻、扩散、外延、蒸铝等半导体制造工艺，把构成具有一定功能的电路所需的半导体、电阻、电容等元件及它们之间的连接导线全部集成在一小块硅片上，然后焊接封装在一个管壳内的电子器件。其封装外壳有圆壳式、扁平式或双列直插式等多种形式。集成电路技术包括芯片制造技术与设计技术，主要体现在加工设备，加工工艺，封装测试，批量生产及设计创新的能力上。
[0003]在集成电路芯片的实际测试工作中，由于芯片在尺寸规格上存在一定的差异性，因此当需要保障芯片在测试过程中的稳定性时，则必然需要使用到相应尺寸规格的夹紧部件。然而，这样虽然也可以实现对不同尺寸规格的芯片进行稳定处理，但是操作起来比较死板，不够灵活。

技术实现思路

[0004]鉴于此，本技术的目的在于提供一种新型集本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型集成电路芯片测试设备，包括工作台(1)，所述工作台(1)上设有检测机构(2)，所述检测机构(2)包括与所述工作台(1)固定连接的支撑柱(21)，所述支撑柱(21)顶部的一侧可拆卸设置有连接板(22)，所述连接板(22)的底部栓接有检测框体(23)，所述检测框体(23)内设有检测仪主体(24)，所述检测仪主体(24)的底部设有检测探头(25)，所述检测探头(25)的正下方设有芯片槽(3)，所述芯片槽(3)开设在所述工作台(1)上，其特征在于：所述芯片槽(3)的一侧设有第一夹紧件(4)，所述第一夹紧件(4)固定安装在所述工作台(1)上，所述芯片槽(3)的另一侧设有第二夹紧件(5)，所述第二夹紧件(5)的两端对称设有调节旋钮(6)，所述第二夹紧件(5)通过所述调节旋钮(6)连接所述第一夹紧件(4)。2.如权利要求1所述的新型集成电路芯片测试设备，其特征在于，所述调节旋钮(6)远离所述第一夹紧件(4)的一端设有辅助扣(7)，所述辅助扣(7)与所述调节旋钮(6)一体成形设置。3.如权利要求1所述的新型集成电路芯片测试设备，其特征在于，所述芯片槽(3)呈网状结构设置。4.如权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯乔，
申请(专利权)人：深圳市康森美微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：