一种新型集成电路芯片测试设备制造技术

本实用新型专利技术属于集成电路芯片测试技术领域，公开了一种新型集成电路芯片测试设备，包括工作台，工作台上设有检测机构，检测机构包括与工作台固定连接的支撑柱，支撑柱顶部的一侧可拆卸设置有连接板，连接板的底部栓接有检测框体，检测框体内设有检测仪主体，检测仪主体的底部设有检测探头，检测探头的正下方设有芯片槽，芯片槽开设在工作台上，芯片槽的一侧设有第一夹紧件，第一夹紧件固定安装在工作台上，芯片槽的另一侧设有第二夹紧件，第二夹紧件的两端对称设有调节旋钮，第二夹紧件通过调节旋钮连接第一夹紧件；本实用新型专利技术通过调节旋钮、第一夹紧件及第二夹紧件等部件的设置，可以灵活地实现测试不同尺寸规格芯片的技术目的。的。的。

【技术实现步骤摘要】
一种新型集成电路芯片测试设备


[0001]本技术涉及集成电路芯片测试
，尤其涉及一种新型集成电路芯片测试设备。

技术介绍

[0002]集成电路是把一定数量的常用电子元件，如电阻、电容和晶体管等，以及这些元件之间的连线，通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。它是经过氧化、光刻、扩散、外延、蒸铝等半导体制造工艺，把构成具有一定功能的电路所需的半导体、电阻、电容等元件及它们之间的连接导线全部集成在一小块硅片上，然后焊接封装在一个管壳内的电子器件。其封装外壳有圆壳式、扁平式或双列直插式等多种形式。集成电路技术包括芯片制造技术与设计技术，主要体现在加工设备，加工工艺，封装测试，批量生产及设计创新的能力上。
[0003]在集成电路芯片的实际测试工作中，由于芯片在尺寸规格上存在一定的差异性，因此当需要保障芯片在测试过程中的稳定性时，则必然需要使用到相应尺寸规格的夹紧部件。然而，这样虽然也可以实现对不同尺寸规格的芯片进行稳定处理，但是操作起来比较死板，不够灵活。

技术实现思路

[0004]鉴于此，本技术的目的在于提供一种新型集成电路芯片测试设备，旨在灵活地满足集成电路芯片测试装置测试不同尺寸规格芯片的需求。
[0005]为实现以上技术目的，采用的技术方案为：公开了一种新型集成电路芯片测试设备，包括工作台，所述工作台上设有检测机构，所述检测机构包括与所述工作台固定连接的支撑柱，所述支撑柱顶部的一侧可拆卸设置有连接板，所述连接板的底部栓接有检测框体，所述检测框体内设有检测仪主体，所述检测仪主体的底部设有检测探头，所述检测探头的正下方设有芯片槽，所述芯片槽开设在所述工作台上，所述芯片槽的一侧设有第一夹紧件，所述第一夹紧件固定安装在所述工作台上，所述芯片槽的另一侧设有第二夹紧件，所述第二夹紧件的两端对称设有调节旋钮，所述第二夹紧件通过所述调节旋钮连接所述第一夹紧件。
[0006]本技术进一步设置为：所述调节旋钮远离所述第一夹紧件的一端设有辅助扣，所述辅助扣与所述调节旋钮一体成形设置。
[0007]本技术进一步设置为：所述芯片槽呈网状结构设置。
[0008]本技术进一步设置为：所述支撑柱底部的外侧设有加强板，所述加强板可拆卸安装在所述工作台上。
[0009]本技术进一步设置为：所述工作台的底部设有底板。
[0010]本技术进一步设置为：所述底板与所述工作台之间设置有多个弹簧件，所述底板与所述工作台通过多个所述弹簧件固定连接。
[0011]本技术进一步设置为：所述底板的底部设有多个柱脚，多个所述柱脚与所述底板固定连接。
[0012]本技术进一步设置为：多个所述柱脚的底端均设置有稳固垫。
[0013]本技术进一步设置为：所述工作台与所述底板的两侧对称设有移动手柄。
[0014]本技术进一步设置为：所述移动手柄的一端固定连接所述工作台，所述移动手柄的另一端固定连接所述底板。
[0015]综上所述，本技术通过调节旋钮、第一夹紧件及第二夹紧件等部件的设置，可以灵活地实现测试不同尺寸规格芯片的技术目的，具有便捷、高灵活性等有益效果。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是本实施例提供的一种新型集成电路芯片测试设备的立体结构示意图；
[0018]图2是本实施例提供的一种新型集成电路芯片测试设备的俯视图。
[0019]附图标记：1、工作台；2、检测机构；21、支撑柱；22、连接板；23、检测框体；24、检测仪主体；25、检测探头；3、芯片槽；4、第一夹紧件；5、第二夹紧件；6、调节旋钮；7、辅助扣；8、加强板；9、底板；10、弹簧件；11、柱脚；12、稳固垫；13、移动手柄。
具体实施方式
[0020]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明，应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0021]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“前”、“后”、“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0022]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0023]此外，上面所描述的本技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
[0024]一种新型集成电路芯片测试设备，如图1和图2所示，包括工作台1，工作台1上设有检测机构2，检测机构2包括与工作台1固定连接的支撑柱21，支撑柱21顶部的一侧可拆卸设置有连接板22，连接板22的底部栓接有检测框体23，检测框体23内设有检测仪主体24，检测
仪主体24的底部设有检测探头25，检测探头25的正下方设有芯片槽3，芯片槽3开设在工作台1上，芯片槽3的一侧设有第一夹紧件4，第一夹紧件4固定安装在工作台1上，芯片槽3的另一侧设有第二夹紧件5，第二夹紧件5与工作台1之间保持一定的距离，第二夹紧件5的两端对称设有调节旋钮6，第二夹紧件5通过调节旋钮6连接第一夹紧件4，在本实施例中，作业人员可根据实际情况调整检测仪主体24的伸缩长度，不作业时可将检测仪主体24和检测探头25收回检测框体23内，从而保护检测仪主体24和检测探头25。
[0025]需要说明的是，在具体实施过程中，作业人员可通过旋转调节旋钮6调节第二夹紧件5与第一夹紧件4之间的距离，以夹紧不同尺寸规格的芯片，进而使测试装置可以灵活地实现测试不同尺寸规格芯片的技术目的，提高了集成电路芯片测试装置的灵活性和实用性。
[0026]进一步的，调节旋钮6远离第一夹紧件4的一端设有辅助扣7，辅助扣7与调节旋钮6一体成形设置。
[0027]需要说明的是，在具体实施过程中，辅助扣7的设置有利于作业人员旋转调节旋钮6，具有省力的有益技术效果。
[0028]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型集成电路芯片测试设备，包括工作台(1)，所述工作台(1)上设有检测机构(2)，所述检测机构(2)包括与所述工作台(1)固定连接的支撑柱(21)，所述支撑柱(21)顶部的一侧可拆卸设置有连接板(22)，所述连接板(22)的底部栓接有检测框体(23)，所述检测框体(23)内设有检测仪主体(24)，所述检测仪主体(24)的底部设有检测探头(25)，所述检测探头(25)的正下方设有芯片槽(3)，所述芯片槽(3)开设在所述工作台(1)上，其特征在于：所述芯片槽(3)的一侧设有第一夹紧件(4)，所述第一夹紧件(4)固定安装在所述工作台(1)上，所述芯片槽(3)的另一侧设有第二夹紧件(5)，所述第二夹紧件(5)的两端对称设有调节旋钮(6)，所述第二夹紧件(5)通过所述调节旋钮(6)连接所述第一夹紧件(4)。2.如权利要求1所述的新型集成电路芯片测试设备，其特征在于，所述调节旋钮(6)远离所述第一夹紧件(4)的一端设有辅助扣(7)，所述辅助扣(7)与所述调节旋钮(6)一体成形设置。3.如权利要求1所述的新型集成电路芯片测试设备，其特征在于，所述芯片槽(3)呈网状结构设置。4.如权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯乔，
申请(专利权)人：深圳市康森美微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：