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本实用新型属于集成电路芯片测试技术领域，公开了一种新型集成电路芯片测试设备，包括工作台，工作台上设有检测机构，检测机构包括与工作台固定连接的支撑柱，支撑柱顶部的一侧可拆卸设置有连接板，连接板的底部栓接有检测框体，检测框体内设有检测仪主体，检...
该专利属于深圳市康森美微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市康森美微电子有限公司授权不得商用。

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