总线接口的检测方法及检测系统技术方案

本发明专利技术揭露一种总线接口的检测方法及检测系统，一测试信号传输通过总线的一发送路径到达总线插槽的接收端后，经由一信号转接卡转送至总线插槽的输出端，接着测试信号传输通过总线的一接收路径。通过接收传输通过接收路径的测试信号，检测测试信号的传输质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种总线接口的检测方法及检测系统，且特别是有关于一种检测 总线接口的信号传输质量的检测方法及检测系统。
技术介绍
一般而言，系统制造商在进行PCI-E接口的检测时，必须由南/北桥芯片输出测试 信号，并利用一插设于PCI-E总线插槽的测量治具接收测试信号，借以检测南/北桥芯片与 PCI-E总线插槽间信号发送路径的信号传输质量。然而，由于测量治具并无法送出测试信 号，因此测量治具便无法应用在南/北桥芯片与PCI-E总线插槽间信号接收路径的信号传 递质量检测。为了解决这样的问题，一般常见的作法便是应用一绘图卡来进行检测。在测试过 程中，是将绘图卡插设于PCI-E总线插槽，并由南/北桥芯片传递一控制信号至绘图卡，使 绘图卡发出一测试信号。测试信号是经由接收路径传递至南/北桥芯片，南/北桥芯片依 据接收到的测试信号进行接收路径的质量检测。然而，各厂牌的绘图卡所输出的测试信号模式并不相同，南/北桥芯片会因为接 收到的测试信号模式不同，产生不同的检测结果，如此一来便无法正确判断接收路径的信 号传递质量。
技术实现思路
因此，本专利技术的一目的在于提供一种可以检测总线接口的信号传输质量的检测方 法及检测系统。为了实现上述目的，本专利技术的一方面是提供一种总线接口的检测方法。首先，设置 一信号转接卡至一总线插槽，并且传输一测试信号通过总线的一发送路径到达总线插槽的 一接收端。其次，使用信号转送卡转送接收端的测试信号至总线插槽的一输出端。接着，传 输转送后的测试信号通过总线的一接收路径。然后，接收传输通过接收路径的测试信号，以 检测测试信号的传输质量。依据本专利技术的一实施例，检测方法还包含使用一控制芯片产生测试信号的步骤。 并且在接收测试信号的步骤中，使用控制芯片接收测试信号。依据本专利技术的另一实施例，检测方法还包含增益放大测试信号的步骤。当测试信 号传输通过发送路径时，增益放大测试信号。当转送后的测试信号传输通过接收路径时，增 益放大转送后的测试信号的步骤。本专利技术的另一方面是提供一种总线接口的检测系统，包含一总线插槽、一发送路 径、一接收路径、一信号转接卡、以及一控制芯片。总线插槽具有一接收端及一输出端。发送 路径连接于接收端，用以传输一测试信号至接收端。信号转接卡设置于总线插槽，用以将测 试信号由接收端转送至输出端。接收路径连接于输出端，用以传输转送后的测试信号。控 制芯片连接于接收路径，用以接收传输通过接收路径的测试信号，以检测测试信号的传输质量。依据本专利技术的又一实施例，检测系统还包含一中继器，其是设置于发送路径及接 收路径中。中继器用以于测试信号传输通过发送路径时，增益放大测试信号，并且于转送后 的测试信号传输通过接收路径时，增益放大转送后的测试信号。本专利技术的再一方面是提供一种PCI-E总线接口的检测方法。首先，设置一信号转 接卡至一 PCI-E总线插槽，并使用一控制芯片产生一测试信号。接着，传输测试信号通过总 线的一发送路径到达PCI-E总线插槽的一接收端。其次，使用信号转接卡将接收端的测试 信号转送至PCI-E总线插槽的一输出端。然后，传输转送后的测试信号通过总线的一接收 路径。通过控制芯片接收传输通过接收路径的测试信号，检测测试信号的传输质量。通过信号转接卡进行信号的转送，可以将控制芯片输出的测试信号直接由发送路 径转送至接收路径，使得检测系统可对于接收路径进行检测。此外，信号转接卡不需复杂的 电路设计，具有成本低廉的优点。附图说明为让本专利技术的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说 明如下图1绘示依照本专利技术一实施例的一种总线接口的检测系统的示意图；图2绘示依照本专利技术一实施例的总线接口的检测方法的流程图；图3绘示依照本专利技术另一实施例的一种总线接口的检测系统的示意图。主要组件符号说明100检测系统131接收端100，检测系统132 输出端110控制芯片150信号转接卡121发送路径151转接回路122接收路径170中继器130总线插槽具体实施例方式依照本专利技术实施例的总线接口的检测方法及检测系统，利用一信号转接卡直接将 总线插槽接收端的信号转接至总线插槽的输出端，可以进行完整的且正确的信号测量。首先针对本专利技术一实施例的总线接口的检测系统进行说明。请参照图1，其绘示依 照本专利技术一实施例的一种总线接口的检测系统的示意图。检测系统100主要包含一控制芯 片110、一总线插槽130以及一信号转接卡150。总线插槽130具有一接收端131及一输出 端132，接收端131经由总线的一发送路径121连接于控制芯片110，输出端132经由总线 的-接收路径122连接于控制芯片110。信号转接卡150设置于总线插槽130，用以将一测 试信号由接收端131转接至输出端132。实际应用上，控制芯片110例如是计算机系统中的主板上的北桥芯片或南桥芯 片，在本实施例中是用以产生测试信号。此外，控制芯片110还用以接收传输通过发送路 径121、总线插槽130及接收路径122后的测试信号，以检测测试信号的传输质量。在一实施例中，总线插槽130可为一 PCI-E规格的总线插槽130，发送路径121为南/北桥芯片与 PCI-E总线插槽之间的信号发送路径(TX path)，且接收路径122为南/北桥芯片与PCI-E 总线插槽之间的信号接收路径(RX path)。控制芯片110产生的测试信号包含一符号序列，其中包含有控制符号及数据符 号。举例来说，控制芯片110是依序产生包含K28. 5、D21. 5、K28. 5、D10. 2序列的测试信 号。在不同的实施例中，控制芯片110可以对应不同的测试需求或者不同的总线规格，输出 不同序列或模式的测试信号。信号转接卡150可忠实地将不同序列或模式的测试信号转送 至输出端132，以进行接收路径122之信号传输质量进行检测。如此可增加检测系统100的 应用弹性。此外，信号转接卡150例如包含一转接回路151，用以连接于总线插槽130的接收 端131及输出端132。当信号传递至接收端131时，信号转接卡150用以将信号由接收端 131转接至输出端132。依照本专利技术实施例的信号转接卡150仅进行信号转接的动作，并不 对信号本身进行任何的处理，因此可具有简单的电路设计，具有成本低廉的优点。接下来对于依照本实施例的总线接口的检测方法进行说明。请参照图2，其绘示依 照本专利技术一实施例的总线接口的检测方法的流程图。首先如步骤Sl所示，设置信号转接卡 150至总线插槽130。本实施例中是将信号转接卡150插设至PCI-E规格的总线插槽130。接着在步骤S2中，传输测试信号通过发送路径121到达总线插槽130的接收端 131。本实施例中，是使用控制芯片110产生测试信号，并将测试信号传输通过发送路径121 至接收端131。测试信号包含前述K28. 5、D21. 5、K28. 5、D10. 2序列的控制符号及数据符 号。如步骤S3所示，使用信号转送卡150转送接收端131的测试信号至总线插槽130 的输出端132。实际应用上，信号转接卡150是依序将K28. 5、D21. 5、K28. 5、D10. 2的控 制符号及数据符号转接至输出端132。也就是说，转送后的测试信号仍然依序具有K28. 5、本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种总线接口的检测方法，其特征在于，包含：设置一信号转接卡至一总线插槽；传输一测试信号通过总线的一发送路径到达该总线插槽的一接收端；使用该信号转送卡转送该接收端的该测试信号至该总线插槽的一输出端；传输转送后的该测试信号通过会总线的一接收路径；以及接收通过该接收路径的该测试信号，以检测该测试信号的传输质量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：何敏杰，魏国宾，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]