一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置及方法，涉及压屏测试技术领域，其目的是提升压屏测试效率和测试系统的稳定性，包括多个TP测试模块和IO控制卡；TP测试模块的四个测试端口分别为测试状态输出端口、测试通过信号输出端口、测试失败信号输出端口和测试启动信号输入端口；TP测试模块的测试状态输出端口、测试通过信号输出端口和测试失败信号输出端口分别通过一个指示电路连接到所述IO控制卡的一个输入端；测试启动信号输入端口通过开关电路连接到IO控制卡的输出端。本发明专利技术具有测试可靠性高、效率高的优点。效率高的优点。效率高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置及方法


[0001]本专利技术涉及压屏测试
，具体而言，涉及一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置及方法。

技术介绍

[0002]FPC即柔性印刷电路板，是一种采用聚酰亚胺等柔性材料制造的电路板。TFPCA即为带触控IC的FPC，通常需要对TFPCA进行成品压屏全自动测试。
[0003]一般来说会使用自动测设备和TP机实现4工位自动压屏测试。测试项目包括TFPCA的线路开短路、触控IC RX/TX通道的RAW DATA值、触控IC的RX/TX通道之间绝缘电阻和TX/TX通道对GND/VDD的绝缘电阻。现有测试方案，都是采用自动测试设备电脑和测试机也就是带网线的TP机通过网线、路由、集线器等组建局域网，通过配置TP上位机软件实现自动测试设备和TP机信息交交换。TP机测试后生产log文件，log包含测试结果信息。自动测试设备拷贝测试log文件，并读取文件内容，判断测试结果。这种测试方法有以下缺点：通过插件抓取文件时间长，一般需要1
‑
2秒，影响效率；系统不稳定，测试过程经常出现log报错，需要关闭并重新启动TP机，每班报警10
‑
30次，影响测试效率。
[0004]因此优化压屏测试方法，可以提升测试效率和测试系统的稳定性。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置及方法，其目的是提升压屏测试效率和测试系统的稳定性。
[0006]本专利技术的实施例通过以下技术方案实现：
[0007]本专利技术首先提供一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置，包括多个TP测试模块和IO控制卡；
[0008]所述TP测试模块的四个测试端口分别为测试状态输出端口、测试通过信号输出端口、测试失败信号输出端口和测试启动信号输入端口；
[0009]所述TP测试模块的测试状态输出端口、测试通过信号输出端口和测试失败信号输出端口分别通过一个指示电路连接到所述IO控制卡的一个输入端；
[0010]所述测试启动信号输入端口通过开关电路连接到IO控制卡的输出端。
[0011]优选地，所述TP测试模块的数量为四个。
[0012]优选地，其中两个所述TP测试模块作为前工装测试机，另外两个所述TP测试模块作为后工装测试机。
[0013]优选地，所述指示电路包括多个发光二极管、多个电阻和光耦；
[0014]第一发光二极管的阳极连接所述TP测试模块的5V直流源端，第一发光二极管的阴极连接第一电阻的一端，第一电阻的另一端连接光耦的输入端正极，光耦的输入端负极连接所述测试状态输出端口或测试通过信号输出端口或测试失败信号输出端口；
[0015]所述光耦的输出端E极连接所述IO控制卡的信号地端，所述光耦的输出端C极连接
第二发光二极管的阴极，第二发光二极管的阳极连接第二电阻的一端，第二电阻的另一端连接所述IO控制卡的一个输入端。
[0016]优选地，所述开关电路采用继电器；
[0017]所述继电器包括触点和继电器线圈；
[0018]所述继电器线圈的一端连接直流源，所述继电器线圈的另一端连接所述IO控制卡的输出端；
[0019]所述测试启动信号输入端口连接所述触点的第一端，所述触点的第二端接地，所述触点的第三端悬空。
[0020]本专利技术还提供一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试方法，应用于以上任意所述一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置，包括以下步骤：
[0021]启动所述TP测试模块；
[0022]识别所述TP测试模块处于测试状态或空闲状态；
[0023]若所述TP测试模块处于空闲状态则不做操作，若所述TP测试模块处于测试状态则开始测试；
[0024]获取测试结果，若测试结果为通过则将测试后的产品下料到良品区，若测试结果为失败则将测试后产品下料到不良品区。
[0025]优选地，所述启动所述TP测试模块的方法为，通过所述IO控制卡的test on输出端向所述TP测试模块的所述测试启动信号输入端口发送启动信号。
[0026]优选地，所述识别所述TP测试模块处于测试状态或空闲状态的方法为，所述TP测试模块的测试状态输出端口输出状态信号到所述IO控制卡的on testing high输入端，所述IO控制卡通过状态信号识别所述TP测试模块处于测试状态或空闲状态。
[0027]优选地，所述获取测试结果的方法为：
[0028]当测试结果为通过时,所述TP测试模块的测试通过信号输出端口输出高电平发送到所述IO控制卡的PASS输入端；
[0029]当测试结果为失败时,所述TP测试模块的测试失败信号输出端口输出高电平发送到所述IO控制卡的FAIL输入端；
[0030]所述IO控制卡根据PASS输入端和FAIL输入端接收的信号判断测试结果。
[0031]本专利技术实施例的技术方案至少具有如下优点和有益效果：
[0032]本专利技术通过重新修改定义TP机的输出端的输出信号功能，结合IO控制卡，不再依赖log文件抓取，压屏测试更为高效；
[0033]本专利技术不再依赖log文件，所以避免了原来测试过程经常出现log报错的问题，进而不需要反复重启机器测试，稳定性更好、可靠性更高且进一步提升测试效率；
[0034]本专利技术在提升稳定性和测试效率的情况下不会降低测试结果的准确性；
[0035]本专利技术线路连接简单，定义的信号输入输出简单，数据处理过程也不复杂，制作成本较低，便于推广和应用。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对
范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0037]图1为本专利技术实施例1提供的一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置的原理示意图；
[0038]图2为本专利技术实施例2提供的指示电路的电路示意图；
[0039]图3为本专利技术实施例3提供的开关电路的电路示意图；
[0040]图4为本专利技术实施例4提供的一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试方法的流程示意图。
具体实施方式
[0041]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0042]因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置，其特征在于：包括多个TP测试模块和IO控制卡；所述TP测试模块的四个测试端口分别为测试状态输出端口、测试通过信号输出端口、测试失败信号输出端口和测试启动信号输入端口；所述TP测试模块的测试状态输出端口、测试通过信号输出端口和测试失败信号输出端口分别通过一个指示电路连接到所述IO控制卡的一个输入端；所述测试启动信号输入端口通过开关电路连接到IO控制卡的输出端。2.根据权利要求1所述的一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置，其特征在于：所述TP测试模块的数量为四个。3.根据权利要求2所述的一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置，其特征在于：其中两个所述TP测试模块作为前工装测试机，另外两个所述TP测试模块作为后工装测试机。4.根据权利要求1所述的一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置，其特征在于：所述指示电路包括多个发光二极管、多个电阻和光耦；第一发光二极管的阳极连接所述TP测试模块的5V直流源端，第一发光二极管的阴极连接第一电阻的一端，第一电阻的另一端连接光耦的输入端正极，光耦的输入端负极连接所述测试状态输出端口或测试通过信号输出端口或测试失败信号输出端口；所述光耦的输出端E极连接所述IO控制卡的信号地端，所述光耦的输出端C极连接第二发光二极管的阴极，第二发光二极管的阳极连接第二电阻的一端，第二电阻的另一端连接所述IO控制卡的一个输入端。5.根据权利要求1所述的一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置，其特征在于：所述开关电路采用继电器；所述继电器包括触点和继电器线圈；所述继电器线圈的一端连接直流源，所述继电器线圈的另一端连接所述IO控制卡的输出端；所述测试启动信...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧玉发，杨林，
申请(专利权)人：四川上达电子有限公司，
类型：发明
国别省市：