芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供了一种芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测试寄存器的位数和起始地址，及待测试数值；根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数，计算待测试寄存器的测试数量；根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数和待测试寄存器的测试数量，对待测试数值进行补零操作，得到初始待测试数值；将初始待测试数值拆分成至少一个与待测试寄存器的位数相同的目标待测试数值；通过目标待测试数值，对从起始地址开始的、与测试数量相同数量的待测试寄存器进行测试。通过本申请的方法，能够同时对多个芯片寄存器进行测试，以提高芯片寄存器的测试效率。以提高芯片寄存器的测试效率。以提高芯片寄存器的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，具体而言，涉及芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着半导体芯片行业的飞速发展，时长对位于半导体芯片产业链下游的半导体测试工作提取了更高的要求。在传统的半导体测试过程中，其中一个重要的测试环节是对芯片寄存器进行测试，一般的测试方法是将用户输入的一个与寄存器位数相同的二进制数，写入用户指定的寄存器中，然后进行读取，以完成寄存器的测试。
[0003]但是，通过上述测试方法对寄存器进行测试时，用户一次只能对一个寄存器进行测试，测试效率较低。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质，能够同时对多个芯片寄存器进行测试，以提高芯片寄存器的测试效率。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种芯片寄存器的测试方法，该芯片寄存器的测试方法包括：
[0006]获取待测试寄存器的位数和起始地址，及待测试数值；
[0007]根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数，计算待测试寄存器的测试数量；
[0008]根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数和待测试寄存器的测试数量，对待测试数值进行补零操作，得到初始待测试数值；
[0009]将初始待测试数值拆分成至少一个与待测试寄存器的位数相同的目标待测试数值；
[0010]通过目标待测试数值，对从起始地址开始的、与测试数量相同数量的待测试寄存器进行测试。
[0011]在一种可能的实施方式中，根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数，计算待测试寄存器的测试数量，包括：
[0012]将待测试数值的位数与待测试寄存器的位数的比值，确定为初始测试数量；
[0013]若初始测试数量为整数，则将初始测试数量确定为目标测试数量；
[0014]若初始测试数量为非整数，则将初始测试数量进行进一操作，得到目标测试数量。
[0015]在一种可能的实施方式中，根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数和待测试寄存器的测试数量，对待测试数值进行补零操作，得到初始待测试数值，包括：
[0016]根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数和待测试寄存器的测试数量，计算待补充数量；
[0017]在待测试数值的前边，补充与待补充数量相同数量的零，得到初始待测试数值。
[0018]在一种可能的实施方式中，根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数和待测
试寄存器的测试数量，计算待补充数量，包括：
[0019]通过下述公式，计算待补充数量：
[0020]zeroNum＝n*dataWidth
‑
binartValue.length；
[0021]其中，zeroNum为待补充数量，n为待测试寄存器的测试数量，dataWidth为待测试寄存器的位数，binaryValue.length为待测试数值的位数。
[0022]在一种可能的实施方式中，将初始待测试数值拆分成至少一个与待测试寄存器的位数相同的目标待测试数值，包括：
[0023]按照从左到右的顺序，将初始待测试数值依次拆分成与待测试寄存器的位数相同的目标待测试数值。
[0024]第二方面，本申请实施例还提供了一种芯片寄存器的测试装置，该芯片寄存器的测试装置包括：
[0025]获取模块，用于获取待测试寄存器的位数和起始地址，及待测试数值；
[0026]计算模块，用于根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数，计算待测试寄存器的测试数量；
[0027]补零模块，根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数和待测试寄存器的测试数量，对待测试数值进行补零操作，得到初始待测试数值；
[0028]拆分模块，用于将初始待测试数值拆分成至少一个与待测试寄存器的位数相同的目标待测试数值；
[0029]测试模块，用于通过目标待测试数值，对从起始地址开始的、与测试数量相同数量的待测试寄存器进行测试。
[0030]在一种可能的实施方式中，计算模块，具体用于将待测试数值的位数与待测试寄存器的位数的比值，确定为初始测试数量；若初始测试数量为整数，则将初始测试数量确定为目标测试数量；若初始测试数量为非整数，则将初始测试数量进行进一操作，得到目标测试数量。
[0031]在一种可能的实施方式中，补零模块，具体用于根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数和待测试寄存器的测试数量，计算待补充数量；在待测试数值的前边，补充与待补充数量相同数量的零，得到初始待测试数值。
[0032]在一种可能的实施方式中，补零模块，还用于通过下述公式，计算待补充数量：
[0033]zeroNum＝n*dataWidth
‑
binaryValue.length；
[0034]其中，zeroNum为待补充数量，n为待测试寄存器的测试数量，dataWidth为待测试寄存器的位数，binaryValue.length为待测试数值的位数。
[0035]在一种可能的实施方式中，拆分模块，具体用于按照从左到右的顺序，将初始待测试数值依次拆分成与待测试寄存器的位数相同的目标待测试数值。
[0036]第三方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括：处理器、存储介质和总线，存储介质存储有处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，处理器与存储介质之间通过总线通信，处理器执行机器可读指令，以执行如第一方面任一项芯片寄存器的测试方法的步骤。
[0037]第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器运行时执行如第一方面任一项芯片寄存器的
测试方法的步骤。
[0038]本申请实施例提供了一种芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质，该芯片寄存器的测试方法包括：获取待测试寄存器的位数和起始地址，及待测试数值；根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数，计算待测试寄存器的测试数量；根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数和待测试寄存器的测试数量，对待测试数值进行补零操作，得到初始待测试数值；将初始待测试数值拆分成至少一个与待测试寄存器的位数相同的目标待测试数值；通过目标待测试数值，对从起始地址开始的、与测试数量相同数量的待测试寄存器进行测试。本申请通过将补零后的待测试数值拆分成的至少一个与待测试寄存器的位数相同的目标待测试数值，对从起始地址开始的、与测试数量相同数量的待测试寄存器进行测试，能够同时对多个芯片寄存器进行测试，以提高芯片寄存器的测试效率。
附图说明
[0039]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片寄存器的测试方法，其特征在于，所述芯片寄存器的测试方法包括：获取待测试寄存器的位数和起始地址，及待测试数值；根据所述待测试寄存器的位数、所述待测试数值的位数，计算待测试寄存器的测试数量；根据所述待测试寄存器的位数、所述待测试数值的位数和所述待测试寄存器的测试数量，对所述待测试数值进行补零操作，得到初始待测试数值；将所述初始待测试数值拆分成至少一个与所述待测试寄存器的位数相同的目标待测试数值；通过所述目标待测试数值，对从所述起始地址开始的、与所述测试数量相同数量的待测试寄存器进行测试。2.根据权利要求1所述的芯片寄存器的测试方法，其特征在于，所述根据所述待测试寄存器的位数、所述待测试数值的位数，计算待测试寄存器的测试数量，包括：将所述待测试数值的位数与所述待测试寄存器的位数的比值，确定为初始测试数量；若所述初始测试数量为整数，则将所述初始测试数量确定为目标测试数量；若所述初始测试数量为非整数，则将所述初始测试数量进行进一操作，得到目标测试数量。3.根据权利要求1或2所述的芯片寄存器的测试方法，其特征在于，根据所述待测试寄存器的位数、所述待测试数值的位数和所述待测试寄存器的测试数量，对所述待测试数值进行补零操作，得到初始待测试数值，包括：根据所述待测试寄存器的位数、所述待测试数值的位数和所述待测试寄存器的测试数量，计算待补充数量；在所述待测试数值的前边，补充与所述待补充数量相同数量的零，得到初始待测试数值。4.根据权利要求3所述的芯片寄存器的测试方法，其特征在于，所述根据所述待测试寄存器的位数、所述待测试数值的位数和所述待测试寄存器的测试数量，计算待补充数量，包括：通过下述公式，计算待补充数量：zeroNum＝n*dataWidth
‑
binartValue.length；其中，zeroNum为待补充数量，n为待测试寄存器的测试数量，dataWidth为待测试寄存器的位数，binaryValue.length为待测试数值的位数。5.根据权利要求1所述的芯片寄存器的测试方法，其特征在于，所述将所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚文强，骆劼行，
申请(专利权)人：上海孤波科技有限公司，
类型：发明
国别省市：