一种半导体芯片测试数据的存储方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请提供了一种半导体芯片测试数据的存储方法、装置及电子设备，半导体芯片测试数据的存储方法包括将目标芯片的目标测试项目按照预设测试步骤进行行排序，确定目标测试项目对应的数据文件行信息；将目标测试项目下先后按照预设测试项目基本信息、预设测试步骤信息以及预设测试项目条件输出信息进行列排序，确定目标测试项目下的数据文件列信息；基于数据文件行信息、数据文件列信息以及目标测试数据，确定目标芯片在各个不同的目标数据存储表。本申请实现了对目标芯片的自动化测试，进而提高对目标芯片的测试数据分析效率和测试可靠性，避免了目标测试数据出现数据丢失、混淆或错误的问题，实现了对目标测试数据的有效的管理和分析。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片测试，尤其是涉及一种半导体芯片测试数据的存储方法、装置及电子设备。

技术介绍

1、随着社会的发展和科技的进步，半导体芯片作为重要的电路组成部件被应用到越来越多的领域中，且芯片在出厂之前通常上会进行大量的实验室测试，而芯片的实验室测试通常发生在中期芯片测试阶段，在该阶段，芯片已经完成设计和制造，并经过前期的设计验证和初步测试，芯片实验室测试的目的是对芯片进行全面的功能验证、电性能测试以及可靠性评估，以确保芯片符合设计规格和要求，并满足产品的性能和质量要求。

2、然而，传统的实验室测试为手动测试，且测试覆盖范围较低，缺乏一致性，且手动测试过程中产生数据手动记录和整理，容易出现数据丢失、混淆或错误的问题，无法进行有效的管理和分析，进而导致测试的效率较低。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请的目的在于提供一种半导体芯片测试数据的存储方法、装置及电子设备，实现了对目标芯片的自动化测试，进而提高对目标芯片的测试数据分析效率和测试可靠性，避免了目标测试数据出现数据丢失、混淆或错误的问题，实现了对目本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述半导体芯片测试数据的存储方法包括：

2.根据权利要求1所述的半导体芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述预设测试项目基本信息包括预设测试项目名称、预设测试项目对应的测试设备名称、预设测试项目对应的测试芯片名称、所述测试芯片的芯片ID、所述测试芯片的芯片编号、操作所述预设测试项目的作业人员身份信息、预设测试项目对应的测试机台名称、以及预设测试项目的测试循环次数。

3.根据权利要求1所述的半导体芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述预设测试步骤信息包括预设测试步骤在目标测试项目内的测试步骤内部名称、所述预设测试...

【技术特征摘要】

1.一种半导体芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述半导体芯片测试数据的存储方法包括：

2.根据权利要求1所述的半导体芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述预设测试项目基本信息包括预设测试项目名称、预设测试项目对应的测试设备名称、预设测试项目对应的测试芯片名称、所述测试芯片的芯片id、所述测试芯片的芯片编号、操作所述预设测试项目的作业人员身份信息、预设测试项目对应的测试机台名称、以及预设测试项目的测试循环次数。

3.根据权利要求1所述的半导体芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述预设测试步骤信息包括预设测试步骤在目标测试项目内的测试步骤内部名称、所述预设测试步骤的测试步骤名称、所述预设测试步骤所在的工位编号信息、测试芯片在所述预设测试步骤下是否通过测试的状态信息、所述预设测试步骤的测试时间以及所述预设测试步骤的步骤说明信息。

4.根据权利要求1所述的半导体芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述预设测试项目条件输出信息包括预设测试项目条件信息和预设测试项目输出信息；

5.根据权利要求4所述的半导体芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述预设测试项目输出信息包括一个测试步骤中的预设测试项目数量、预设测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：王婷婷，周浩，
申请(专利权)人：上海孤波科技有限公司，
类型：发明
国别省市：